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盘片层数判别方法技术
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文档序号:3764105
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一种盘片层数判别方法,首先依序调整至两数据层的标准SA值;使焦点穿越盘片进行聚焦行程;记录该聚焦行程中最大振幅的聚焦误差信号;检查各聚焦行程所记录最大振幅的聚焦误差信号相等,则判别为双数据层盘片,不相等则判别为单数据层盘片。...
该专利属于广明光电股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过广明光电股份有限公司授权不得商用。
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