一种用于虚线mask计算的像素计数方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于虚线mask计算的像素计数方法、装置及存储介质，具体包括：分别给出了在非MSAA场景下和在MSAA场景下用于虚线mask计算的像素计数方案，本发明专利技术计算方式简单，降低了mask计算复杂度，利于硬件实现，并且节省计算时延并降低功耗，同时解决现有方案在MSAA场景下的问题和缺陷。MSAA场景下的问题和缺陷。MSAA场景下的问题和缺陷。

【技术实现步骤摘要】
一种用于虚线mask计算的像素计数方法、装置及存储介质


[0001]本专利技术涉及计算机绘图领域，尤其涉及一种用于虚线mask计算的像素计数方法、装置及存储介质。

技术介绍

[0002]虚线计算mask之前需要计算每个像素的counter。当前的虚线绘制需要从第一个顶点开始计算counter，每一列有相同的counter，坐标x每偏移1，对应的stipple counter加1。
[0003]现采用的方案有以下缺陷：对于同一列（x
‑
major）或同一行（y
‑
major）有相同的counter，在MSAA（multisample anti
‑
aliasing，多采样抗锯齿）开启的情况下由于绘制的虚线应该为矩形，将使得顶点附近的像素产生误差；当线的两个顶点颠倒顺序时，需要先计算后面的顶点的counter，再随着坐标偏移对counter减1，导致计算量大；在MSAA开启时绘制的虚线外围是矩形，mask的部分为平行四边形，形状不统一。

技术实现思路

[0004]本专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于虚线mask计算的像素计数方法，其特征在于，所述方法包括：针对线段的两个顶点(x0，y0)，(x1，y1)：在非MSAA场景下，若线段斜率小于1，线段上任意像素坐标(x，y)的counter=（x0>x1)?(x0‑
x):(x
‑
x0)；若线段斜率大于1，线段上任意像素坐标(x，y)的counter=（y0>y1)?(y0‑
y):(y
‑
y0)；在MSAA场景下，令通过线段的顶点所在x坐标x0并且与绘制虚线垂直的直线方程为Ax+By+C=0，其中A、B、C为直线方程的参数，线段上任意像素坐标(x，y)的。2.一种用于虚线mask计算的像素计数装置，其特征在于，包括：非MSAA场景下的像素计数模块，用于在非MSAA场景下，针对线段的两个顶点(x0，y0)，(x1，y1)，若线段斜率小于1，线段上任意像素坐标(x，y)的counter=（x0&...

【专利技术属性】
技术研发人员：李刚，刘永刚，羯祥，荣耀程，
申请(专利权)人：深圳中微电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：