一种通用型快速检测导轨精度的装置制造方法及图纸

技术编号:37607134 阅读:11 留言:0更新日期:2023-05-18 11:59
本实用新型专利技术公开了一种通用型快速检测导轨精度的装置,包括:平台基座、高度仪、检测探针、Z轴支架、检测针规、限位挡块、滑座、夹持块以及压紧块,本实用新型专利技术通过滑座、加持快、压紧块通过特殊角度的斜角组装结构,以及通过调节锁紧螺栓可实现定制检测针规定位持续夹持在待检测导轨内部;组装好的待检测导轨放置于Z轴支架,手动夹持待检测导轨靠平Z轴支架,可实现多规格导轨检测。通过以上结构装置,可实现缩短单零件检测时间提高效率,提高检测数据准确率,保障导轨的使用精度。保障导轨的使用精度。保障导轨的使用精度。

【技术实现步骤摘要】
一种通用型快速检测导轨精度的装置


[0001]本技术涉及高精度研磨技术、高精密检测仪器、快速夹持系统、特种材料
,尤其涉及一种通用型快速检测导轨精度的装置。

技术介绍

[0002]高精度研磨检测装置在直线运动系统行业适用比较广泛,也适用半导体、封装、医疗、检测等行业配套的零部件精密加工检测。高精度研磨检测装置是一款高精度位置调整装置,通过精准定位待检测件位置,快速检测待检测件的研磨精度,有较高的使用精度保障。随着制造业科技的发展,对快速检测导轨研磨精度的装置的性能要求越来越高。现有导轨研磨检测装置存在以下问题:
[0003]1.现有导轨研磨检测装置普遍单零件检测时间比较长,效率较低。
[0004]2.现有导轨研磨检测装置检测数据误差较大,数据不精准,无法完全保障导轨的使用精度。
[0005]3.现有导轨研磨检测装置无法多规格共用。
[0006]针对上述问题,急需在原有导轨研磨检测装置基础上进行创新设计。

技术实现思路

[0007]本技术克服了现有技术的不足,提供一种通用型快速检测导轨精度的装置,以解决上述
技术介绍
中提出的现有现有导轨研磨检测装置单零件检测时间比较长,效率较低,检测精度误差较大,数据不精准,无法完全保障导轨的使用精度的问题。
[0008]为达到上述目的,本技术采用的技术方案为:一种通用型快速检测导轨精度的装置,包括:平台基座以及设置在所述平台基座上的检测机构,其特征在于,所述检测机构包括高度仪、检测探针、Z轴支架、检测针规、限位挡块、滑座、夹持块、压紧块,所述检测探针设置在所述高度仪指定的位置,所述Z轴支架放置于平台基座上;所述滑座、所述夹持块以及所述压紧块通过斜角组装结构进行组装,且组装后均放置于待检测导轨内部,所述检测针规通过锁紧螺栓来进行加持,所述待检测导轨连接所述Z轴支架并靠平限位挡块,从而能够通过高度仪按键调节定制检测探针位置及检测导轨精度数据。
[0009]本技术一个较佳实施例中,所述检测针规锁紧在所述高度仪指定的位置。
[0010]本技术一个较佳实施例中,所述限位挡块为长条形挡块,其长度水平覆盖所述Z轴支架幅面。
[0011]本技术一个较佳实施例中,所述待检测导轨内部侧壁上开设有滑槽,用于固定所述检测针规。
[0012]本技术一个较佳实施例中,所述Z轴支架背部设有加强件。
[0013]本技术一个较佳实施例中,所述平台基座为大理石平台基座。
[0014]本技术解决了
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中存在的缺陷,本技术具备以下有益效果:
[0015]本技术通过滑座、加持快、压紧块通过特殊角度的斜角组装结构,以及通过调
节锁紧螺栓可实现定制检测针规定位持续夹持在待检测导轨内部;组装好的待检测导轨放置于Z轴支架,手动夹持待检测导轨靠平Z轴支架,可实现多规格导轨检测。通过以上结构装置,可实现缩短单零件检测时间提高效率,提高检测数据准确率,保障导轨的使用精度。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术中记载的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图;
[0017]图1是本技术的优选实施例的立体结构示意图;
[0018]图2是本技术的优选实施例的局部结构放大示意图;
[0019]图3是本技术的优选实施例的主视结构示意图;
[0020]图中:1、平台基座;2、高度仪;3、检测探针;4、Z轴支架;5、限位挡块;6、待检测导轨;7、滑座;8、夹持块;9、锁紧螺栓;10、压紧块;11、检测针规。
具体实施方式
[0021]现在结合附图和实施例对本技术作进一步详细的说明,这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本技术的基本结构,因此其仅显示与本技术有关的构成,此外在本技术的描述中,“实施例”、“一个实施例”或“其他实施例”的提及表示结合实施例说明的特定特征、结构或特性包括在至少一些实施例中,但不必是全部实施例。
[0022]如图1、图2和图3所示,一种通用型快速检测导轨精度的装置,包括:大理石平台基座1、高度仪2、检测探针3、Z轴支架4、检测针规11、限位挡块5、滑座7、夹持块8、压紧块10,高度仪2放置于大理石平台基座1上,同时将定制检测探针3锁固在高度仪2指定位置。将Z轴支架4放置于大理石平台基座1上。将滑座7、夹持块8、压紧块10通过特殊角度的斜角组装结构组装好,放置于待检测导轨6内部,通过调节锁紧螺栓9夹持检测针规11。将组装好的待检测导轨6,放置于Z轴支架4并靠平限位挡块5。手动夹持待检测导轨6靠平Z轴支架4,通过高度仪2按键调节定制检测探针3位置及检测导轨精度数据。
[0023]需要说明的是,滑座7、加持快、压紧块10通过特殊角度的斜角组装结构,以及通过调节锁紧螺栓9可实现定制检测针规11定位持续夹持在待检测导轨6内部。
[0024]组装好的待检测导轨6放置于Z轴支架4,手动夹持待检测导轨6靠平Z轴支架4,可实现多规格导轨检测。通过以上结构装置,可实现缩短单零件检测时间提高效率,提高检测数据准确率,保障导轨的使用精度。
[0025]工作原理:在使用该通用型快速检测导轨精度的装置时,根据图2以及图3所示,将滑座7、夹持块8、压紧块10通过特殊角度的斜角组装结构组装好,放置于待检测导轨6内部,然后放置于轴支架上。将定制检测针规11锁紧在高度仪2指定位置,通过调节高度仪2的按键有序操作,调节定制检测针规11的位置,读取高度仪2数据即可,体现出该通用型检测导轨精度的装置可实现缩短单零件检测时间,提高效率,提高导轨检测数据的准确性,保障导轨的使用精度,且可多规格导轨共用检测装置的特点。
[0026]在本技术的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安
装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以通过具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0027]以上依据本技术的理想实施例为启示,通过上述的说明内容,相关人员完全可以在不偏离本项技术技术思想的范围内,进行多样的变更以及修改。本项技术的技术性范围并不局限于说明书上的内容,必须要根据权利要求范围来确定技术性范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种通用型快速检测导轨精度的装置,包括:平台基座以及设置在所述平台基座上的检测机构,其特征在于,所述检测机构包括高度仪、检测探针、Z轴支架、检测针规、限位挡块、滑座、夹持块、压紧块,所述检测探针设置在所述高度仪指定的位置,所述Z轴支架放置于平台基座上;所述滑座、所述夹持块以及所述压紧块通过斜角组装结构进行组装,且组装后均放置于待检测导轨内部,所述检测针规通过锁紧螺栓来进行加持,所述待检测导轨连接所述Z轴支架并靠平限位挡块,从而能够通过高度仪按键调节定制检测探针位置及检测导轨精度数据。2.根据权利要求1所述的一种通用型快速检测...

【专利技术属性】
技术研发人员:李江欢
申请(专利权)人:煜瀚盛传动元件昆山有限公司
类型:新型
国别省市:

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