【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及当从存储器或LSI等半导体装置输出选通信号和与该 选通信号同步的数据时调整该数据的锁存时序的数据时序调整方法 和装置。
技术介绍
通常，从存储器或LSI等(以下，以存储器为代表)读出数据的 时序，在其设计时预先决定。但是，该数据的读出时序，因存储器的 配置位置和特性、电压降以及周围温度等的影响而变化，所以，如以 预先固定的锁存时序来锁存该读出的数据，将产生数据的锁存错误。 因此，必须对读出数据的锁存时序进行调整。以往，为调整读出数据的锁存时序，设置双列直插开关(dip switch)等进行调整，使得能正常地锁存存储器的输出数据。但是，在上述的方法中，存在着进行该调整费工时的缺点，因此， 例如在专利文献l中，提出一种自动调整从存储器读出数据的锁存时 序的时序调整装置。图13示出上述专利文献1的时序调整装置的框图。在该图中，1102是检验用数据保管部，预先保管对从存储器读出 的数据进行锁存时序调整时使用的检验用数据。U03是写入控制部，接收模式选择信号，当该模式选择信号指示 着正常动作模式时，将输入数据写入存储器1100的预定地址，而当 指示着锁存时序...
【技术保护点】
一种数据锁存时序调整装置，其特征在于，接收外部选通信号和与上述外部选通信号同步的外部数据，在利用上述外部选通信号将上述外部数据锁存之后，利用系统时钟对该被锁存了的外部数据进行再次锁存， 该数据锁存时序调整装置包括： 时钟延迟选择 部，以多个延迟量分别将上述系统时钟延迟来生成多个延迟系统时钟，且选择并输出该生成的多个延迟系统时钟中的任意１个； 选通锁存部，接收上述外部数据和上述外部选通信号，在接收该外部选通信号的时刻生成检验用数据，并在接收上述外部选通信号的接收 时刻将上述接收到的外部数据或上述生成的检验用数据锁存； 系统锁存部，用由上述时钟延...
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：岸本义浩，关口裕二，三木阳一郎，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。