一种基于FPGA的可配置通用斜率处理方法技术

本发明专利技术公开了一种基于FPGA的可配置通用斜率处理方法。该方法通过参数化配置传感器靶面、子孔径排布及子孔径大小来实现斜率的计算。该方法在参数化配置斜率存储器模块时，只需图像宽度*2bit的存储器空间，大大减少了片上资源的耗费，增加了系统的稳定性与鲁棒性。本发明专利技术的可移植性高，能够应用于多个工程项目中。中。中。

【技术实现步骤摘要】
一种基于FPGA的可配置通用斜率处理方法


[0001]本专利技术涉及自适应光学系统的
，具体涉及一种基于FPGA的可配置通用斜率处理方法。

技术介绍

[0002]自适应光学系统通过实时探测系统的波前像差，实时控制系统的光学元件，实时补偿波前畸变。自适应光学系统主要由波前传感器、波前处理机、波前校正器等组成。波前传感器负责采集波前相位信息，根据探测方法和原理的不同，产生了不同种类的波前传感器，如剪切干涉传感器、曲率传感器和夏克哈特曼传感器。其中夏克哈特曼传感器是AO系统中使用较为广泛的一种波前传感器，具有结构简单、外围部件少、灵活性好、光能利用率高等优点。
[0003]本专利技术采用夏克哈特曼波前传感器，入射光通过微透镜阵列后，在传感器成像系统中形成子光斑。光斑位置的偏移量通过波前处理机实时测量。波前斜率的测量是波前处理机的重要组成部分。而波前斜率的计算与子孔径的排布、传感器的靶面及子孔径的大小相关。那么系统的靶面不同，子孔径排布不同，子孔径像素数不同，则都需要重新设计并编写斜率模块。本专利技术针对多个系统的不同靶面、不同子孔径排布本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于FPGA的可配置通用斜率处理方法，其特征在于：根据自适应光学系统的传感器参数、光学参数、子孔径排布及子孔径像素大小，计算出子孔径的斜率，具体步骤如下：步骤1：参数化配置靶面，子孔径排布，子孔径大小；步骤2：设计斜率处理模块的存储器大小为Width*2bit；确定出子孔径有效信号，子孔径像素行结束信号，通过FPGA逻辑处理和子孔径大小确定子孔径结束信号，同时也根据上述信号确定子孔径的X方向地址和Y方向的地址；步骤3：根据传感器的像素灰度值、子孔径的X方向地址和Y方向地址，计算出gxmul_sig，将gxmul_sig累加至gxacc_sig，子孔径有效时gxacc_sig累加；一个像素行中最后一个子孔径中最后一个像素有效时清零；步骤4：根据gxacc_sig，当子孔径像素行结束信号到来时，将gxacc_sig赋值给xacc_pre_sig；然后在子孔径像素行结束时，将xacc_pre_sig赋给xacc_sec_sig，将其相减得到xacc_thr_sig；步骤5：通过信号判断是否为每一个子孔径行的第一个像素行，若为第一个像素行，则xacc_lastlv_sig为0，否则信号保持；步骤6：根据步骤4的输出与步骤5的输出相加得到xacc_fou_sig；步骤7：将xacc_fou_sig通过移位寄存器延迟得到xacc_lastlv_sig；步骤8：在子孔径结束信号时，将xacc_fou_sig赋给xacc_ram_...

【专利技术属性】
技术研发人员：梅月，甘永东，马瑞浩，斯那卓玛，贾启旺，吴天祎，苟德明，
申请(专利权)人：中国科学院光电技术研究所，
类型：发明
国别省市：