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本发明公开了一种基于FPGA的可配置通用斜率处理方法。该方法通过参数化配置传感器靶面、子孔径排布及子孔径大小来实现斜率的计算。该方法在参数化配置斜率存储器模块时，只需图像宽度*2bit的存储器空间，大大减少了片上资源的耗费，增加了系统的稳定...
该专利属于中国科学院光电技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院光电技术研究所授权不得商用。

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