物料成分检测设备的校准方法和物料成分检测设备技术

本发明专利技术公开了一种物料成分检测设备的校准方法和物料成分检测设备，物料成分检测设备的校准方法包括：获取校准样品的光谱特征峰波长；根据光谱特征峰波长与校准样品的原始光谱特征峰波长获取波长平均绝对偏差，若波长平均绝对偏差大于第一设定阈值，则对物料成分检测设备的光谱波长偏差进行校正；根据光谱特征峰强度与校准样品的原始光谱特征峰强度获取相对效率平均绝对偏差，若相对效率平均绝对偏差大于第二设定阈值，则对物料成分检测设备的光谱相对效率进行校正；获取校准样品的检测成分信息；若成分信息差值大于第三设定阈值，则对物料成分检测设备进行校准。本发明专利技术的物料成分检测设备的校准方法，能够实现物料成分检测设备的在线校准。备的在线校准。备的在线校准。

【技术实现步骤摘要】
物料成分检测设备的校准方法和物料成分检测设备


[0001]本专利技术涉及物料成分检测设备校准
，尤其是涉及一种物料成分检测设备的校准方法和物料成分检测设备。

技术介绍

[0002]基于激光诱导击穿光谱（LIBS）技术的LIBS物料成分检测设备，已逐渐用于钢铁、有色、煤电、水泥等领域生产过程物料成分检测。为确保LIBS设备在高温、震动等工业现场环境下具有较好的检测准确性和稳定性，需要定期对LIBS设备进行校准工作。
[0003]相关技术中，LIBS设备的校准时，需要通过检测现场人工取样（或校准样品），并将LIBS检测的样品送往实验室化验，然后通过对比LIBS设备检测结果和实验室检测结果（或校准样品成分）实现对LIBS设备的校准，该方法属于离线校准，校准滞后，不能及时对LIBS设备进行校准，而且校准结果容易受到人为因素以及实验室检测设备性能的影响，导致校准结果不准确。

技术实现思路

[0004]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种物料成分检测设备的校准方法，能够实现物料成分检测设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种物料成分检测设备的校准方法，其特征在于，包括：获取校准样品(200)的光谱特征峰波长；根据所述光谱特征峰波长与所述校准样品(200)的原始光谱特征峰波长获取波长平均绝对偏差，若所述波长平均绝对偏差大于第一设定阈值，则对所述物料成分检测设备(100)的光谱波长偏差进行校正；根据光谱特征峰强度与校准样品(200)的原始光谱特征峰强度获取相对效率平均绝对偏差，若相对效率平均绝对偏差大于第二设定阈值，则对物料成分检测设备(100)的光谱相对效率进行校正；获取所述校准样品(200)的检测成分信息；根据所述检测成分信息与所述校准样品(200)的真实成分信息获取成分信息差值，若所述成分信息差值大于第三设定阈值，则对所述物料成分检测设备(100)进行校准。2.根据权利要求1所述的物料成分检测设备的校准方法，其特征在于，所述获取成分信息差值包括：控制所述校准样品(200)运动至不同检测位置处；获取所述校准样品(200)在不同检测位置处的所述检测成分信息与所述真实成分信息的平均差值。3.根据权利要求2所述的物料成分检测设备的校准方法，其特征在于，所述获取成分信息差值还包括：获取多个所述校准样品(200)的所述检测成分信息与所述真实成分信息的平均差值。4.根据权利要求1所述的物料成分检测设备的校准方法，其特征在于，所述对所述物料成分检测设备(100)进行校准包括：将所述校准样品(200)的真实光谱数据和所述真实成分信息纳入所述物料成分检测设备(100)的原有模型中重新训练模型。5.一种物料成分检测设备(100)，其特征在于，所述物料成分检测设备(100)适用于权利要求1
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4中任一项所述的物料成分检测设备的校准方法，所述物料成分检测设备(100)包括：检测组件(10)，所述检测组件(10)用于发射激光以对校准样品(200)进行检测；校准组件(20...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘从元，贾军伟，张兵，
申请(专利权)人：合肥金星智控科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：