一种双光束LAAS同位素比高精度快速测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种双光束LAAS同位素比高精度快速测量装置及方法，所述装置包括：第二分光片用于对第一可调谐激光进行分光，分光后少部分进入第一光电探测器，大部分进入第一偏振分束棱镜；第三分光片用于对经过第二反射镜后的第二可调谐激光进行分光，分光后少部分进入第二光电探测器，大部分进入第一偏振分束棱镜；第一光电探测器和第二光电探测器分别用于测量进入其的第一可调谐激光和第二可调谐激光的强度；第三光电探测器和第四光电探测器分别用于测量进入其的第一可调谐激光和第二可调谐激光的强度。本发明专利技术极大提高了同位素比测量精度，且无需激光波长扫描、无需标定即可实现对同位素比的快速直接测量。现对同位素比的快速直接测量。现对同位素比的快速直接测量。

【技术实现步骤摘要】
一种双光束LAAS同位素比高精度快速测量装置及方法


[0001]本专利技术涉及同位素检测
，特别是一种双光束LAAS同位素比高精度快速测量装置及方法。

技术介绍

[0002]同位素比的精确测量在核材料检测、地质研究、海洋科学和环境科学方面有着广泛应用。特别是在核燃料生产、核保障、环境监测和核法证调查等领域中，同位素比的精确测量是一种极为重要的分析方式。将激光烧蚀等离子体与吸收光谱测量相结合的激光烧蚀吸收光谱(Laser Ablation Absorption Spectroscopy，LAAS)技术是利用可调谐激光探测处于脉冲激光烧蚀形成的等离子体冷却阶段时，基态原子、离子吸收跃迁的跃迁信息，可以实现高分辨率、高灵敏度的光谱分析，非常适合于同位素分辨的光谱测量。LAAS测量无需样品预处理、操作便捷、分析速度快，易于实现在线、远程、实时测量，是核燃料循环等应用中正在发展的放射性同位素比测量的一个重要手段。1999年，美国佛罗里达大学(UF)首次提出了利用LAAS技术测量同位素比的方法，从Rb含量为77
±
>5ppm的玄武岩颗本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双光束LAAS同位素比高精度快速测量装置，其特征在于，包括：纳秒泵浦激光器，用于将其产生的激光分别经第一分光片和第一反射镜同时泵浦第一可调谐激光器和第二可调谐激光器，产生两束可调谐激光，分别记为第一可调谐激光和第二可调谐激光；第一半波片和第二半波片，用于使第一可调谐激光和第二可调谐激光的偏振态相互垂直；第二分光片，用于对第一可调谐激光进行分光，分光后少部分进入第一光电探测器，大部分进入第一偏振分束棱镜；第三分光片，用于对经过第二反射镜后的第二可调谐激光进行分光，分光后少部分进入第二光电探测器，大部分进入第一偏振分束棱镜；第一光电探测器和第二光电探测器，分别用于测量进入其的第一可调谐激光和第二可调谐激光的强度；第一偏振分束棱镜，用于将进入其的第一可调谐激光和第二可调谐激光合束为一束共线激光束；第二偏振分束棱镜，用于将在待测样品表面上方区域穿过等离子体羽流区后的共线激光束进行分离，分别得到分离后的第一可调谐激光和第二可调谐激光合束；第三光电探测器和第四光电探测器，分别用于测量进入其的第一可调谐激光和第二可调谐激光的剩余强度。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一半波片设置在所述第一可调谐激光器和第二分光片之间；所述第二分光片设置在所述第一半波片和所述第一偏振分束棱镜之间，以及设置在所述第一半波片和所述第一光电探测器之间。3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第二半波片设置在所述第二可调谐激光器和第二反射镜之间；所述第三分光片设置在所述第二反射镜和所述第一偏振分束棱镜之间，以及设置在所述第二反射镜和所述第二光电探测器之间。4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括数据处理装置；所述数据处理装置用于根据所述第三光电探测器测量第一可调谐激光的剩余强度和第一光电探测器测量的第一可调谐激光的原始强度的差值，以及所述第四光电探测器测量第二可调谐激光的剩余强度和第二光电探测器测量的第二可调谐激光的原始强度的差值，由激光强度差值比获取所述待测样品中目标元素的两种同位素的比值。5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一可调谐激光器和所述第二可调谐激光器可采用不同...

【专利技术属性】
技术研发人员：张大成，余明昊，侯佳佳，巴雨璐，张雷，张子旭，
申请(专利权)人：西安电子科技大学，
类型：发明
国别省市：