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本发明公开了一种物料成分检测设备的校准方法和物料成分检测设备，物料成分检测设备的校准方法包括：获取校准样品的光谱特征峰波长；根据光谱特征峰波长与校准样品的原始光谱特征峰波长获取波长平均绝对偏差，若波长平均绝对偏差大于第一设定阈值，则对物料成...
该专利属于合肥金星智控科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥金星智控科技股份有限公司授权不得商用。

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