光拾取装置的检查方法以及光拾取装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种光拾取装置的检查方法以及光拾取装置。以往存在如下问题：无法利用固定的方法评价光拾取装置，难以进行质量管理，并且性能评价费时间。利用使用记录层为单层的第一测试光盘和记录层为双层的第二测试光盘的至少两种以上的测试光盘的再现信号评价来检查光拾取装置。由此，能够根据再现信号来检查光拾取装置，与制造商无关地利用固定的评价方法进行光拾取装置的质量管理。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光拾取装置的检查方法以及利用该检查方 法检查合格后的光拾取装置，特别是 一 种在评价使用于HD—DVD(High Definition Digital Versatile Disc:高清晰度数字 多功能光盘)的记录/再现的光拾取装置的特性时使用的较佳的 光拾取装置的检查方法。并且，涉及一种利用该检查方法检查 合格后的光拾取装置。
技术介绍
在使用激光来光学地进行信号再现以及/或者信号记录的 光盘中，作为使用蓝紫色(蓝色)的激光(例如405nm)实现记录密 度高于DVD(Digital Versatile Disc:数字多功能光盘)的光盘标 准，已知有HD—DVD标准。在直径12cm的HD—DVD中，在记录 层单层中能够记录大约15 G字节的数据，在记录层双层中能够 记录大约30G字节的数据。在这些记录层单层和双层的光盘中 各自反射率等不同，另外，在双层型的光盘中产生记录层的层 间分离、层间串扰这种问题，因此，在能够再现这些光盘的光 拾取装置中要求较高的光学性能。另外，由于使用的激光波长缩短、被再现的记录标记变小、 记录密度高密度化，因此由于光盘的倾斜等机械特性而再现/ 或者记录状态变化较大。因此，在最佳的光拾取器中要求即使 光盘发生状态变化也能够得到良好的再现性能。并且，使用的 激光波长缩短，因而在双层型的媒体中的层间串扰等影响变大， 要求即使在多层型的媒体中也能够得到良好的再现性能的特6性。因此，要使用各种方法/光盘来评价光拾取器，需要非常多 的时间、装置，在成本上成为非常大的负担。另外，例如在光盘中记录检查用数据之后，评价再现该检 查用数据得到的再现数据，来检查在光盘装置中使用光盘的记 录再现的光拾取装置(参照专利文献l)。如专利文献l所示，例如根据再现信号是否良好的判断、抖 动值以及数据错误率来评价光拾取装置，其中，通过测量由光 拾取装置读取并被波形整形而得到的再现信号的波形形状来判 断再现信号是否良好，根据二值化后的数字再现信号来测量抖 动值。另夕卜，在HD一DVD标准中，采用高密度化技术的 PRML(Partial Response and Maximum Likelihood: 局部响应与 最大相似)作为再现信号的二值化方式，因此作为评价指标无法 采用再现信号的4牛动，而采用PRSNR(Partial Response Signal-to-Noise Ratio:局部响应信噪比)和SbER(Simulated bit Error Rate:模拟位误码率)代替。在评价HD一DVD标准的光盘、光盘装置、光拾取装置中的 任一个时都采用PRSNR、 SbER，例如在评价HD—DVD-R光盘 时，除了该PRSNR、 SbER以外，记录功率、反射率、信号调制 度等也成为评价项目(参照非专利文献l)。专利文献l:日本特开2004-280978号公报非专利文献l:东芝评论(東芝k匕、、二 一)Vo1.61 No.11 (2006) HD DVD-R光盘(24 27页)
技术实现思路
专利技术要解决的问题另外，与HD—DVD标准光盘对应的HD—DVD用光拾取装置 的规格因制造商不同而各不相同，所采用的部件、功能各种各 样。另外，由于制造工序中的部件安装、部件自身的制造偏差 等，光拾取器的性能变化较大。并且，每个制造商以独自的方 法对光拾取装置进行质量管理。因此，存在如下问题每个制 造商的光拾取装置的性能、质量偏差较大，在用户作为播放器、 驱动器等光盘装置而使用的情况下无法得到满意的性能。即，当前还没有建立对HD一DVD用等密度高于DVD标准的高密度光盘的光拾取装置的性能进行评价的方法。因此，对于 光盘装置的开发制造商来说，无法利用与光拾取装置制造商相 同的方法评价光拾取装置，难以进行质量管理，并且存在性能 评价费时间的问题。本专利技术是为了解决上述问题而完成的，其目的在于提供一 种利用使用测试光盘的信号再现对光拾取装置的性能进行评价 的检查方法。并且本专利技术其目的在于提供一种即使是光拾取装 置制造商以外者也能够利用容易且简单的方法评价光拾取装置 的性能的检查方法。另外，其目的在于通过使用这些检查方法来排除低劣的光 拾取装置，提供具有充分的再现性能的光拾取装置。用于解决问题的方案鉴于上述问题，本专利技术具有以下特征。第l专利技术是一种光拾取装置的检查方法，其特征在于，根据 使用了记录层为单层的第一测试光盘和记录层为双层的第二测 试光盘的至少两种以上的测试光盘的再现信号评价来检查光拾8取装置。由此，能够根据再现信号来检查光拾取装置，能够与 制造商无关地利用固定的评价方法进行光拾取装置的质量管 理。第2专利技术是根据第l专利技术的光拾取装置的检查方法，其特征在于，检查具备NA在0.6以上的物镜的光拾取装置。第3专利技术是根据第1或第2专利技术的光拾取装置的检查方法，其 特征在于，利用上述测试光盘的轨道间距大致在0.6 8 p m以下的 区域的再现信号评价来对光拾取装置进行评价。第4专利技术是根据第l专利技术的光拾取装置的检查方法，其特征 在于，利用波长4 5 0 n m以下的光学系的再现信号评价来对光拾 取装置进行评价。第5专利技术是根据第1专利技术的光拾取装置的检查方法，其特征 在于，利用使用了上述记录层为单层的第一测试光盘、上述记 录层为双层的第二测试光盘、用于验证致动器的动作的测试光 盘的至少三种测试光盘的再现信号评价来检查光拾取装置。由 此，能够根据再现信号对致动器的性能进行评价。能够与制造 商无关地利用固定的评价方法进行光拾取装置的质量管理。第6专利技术是根据第l专利技术的光拾取装置的检查方法，其特征 在于，根据使用了上述记录层为单层的第一测试光盘、上述记 录层为双层的第二测试光盘、作为用于验证上述致动器的动作 的测试光盘的第三测试光盘、第四测试光盘、第五测试光盘的 至少五种测试光盘的再现信号评价来检查光拾取装置，其中， 所述第三测试光盘是产生盘面抖动评价用的盘面抖动的形态测 试光盘，所述第四测试光盘是具有倾斜评价用的变形的形态的 测试光盘，所述第五测试光盘是具有偏心评价用的偏'"、的观试光盘。由此，能够与制造商无关地利用固定的评价方法进行光 拾取装置的质量管理。第7专利技术是根据第6专利技术的光拾取装置的检查方法，其特征在于，在上述第三测试光盘内形成有上述盘面抖动大致为0.4mmp-p以上的区域。第8专利技术是根据第6专利技术的光拾取装置的检查方法，其特征 在于，在上述第四测试光盘内形成有倾斜大致为0.8。以上的区域。第9专利技术是根据第6专利技术的光拾取装置的检查方法，其特征 在于，在上述第五测试光盘内存在形成有偏心大致为lOOfimp-p 的区域。第IO专利技术是根据第6专利技术的光拾取装置的检查方法，特征在 于，增加使用了第六测试光盘的再现信号评价，利用使用了至 少六种测试光盘的再现信号评价来检查光拾取装置，其中，第 六测试光盘是具有产生再现错误的缺陷区域的测试光盘。第ll专利技术是根据第IO专利技术的光拾取装置的检查方法，其特 征在于，形成上述第三测试光盘的盘面抖动使其在半径5 7 m m 附近大致成为0.4mmp-p。第12专利技术是根据第IO专利技术的光拾取装置的检查方法，其特 征在于，在上述第六测试光盘内形成有大致2 0 0 ji m的黑色斑点。第13专利技术是根据第I本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光拾取装置的检查方法，其特征在于，　利用使用了记录层为单层的第一测试光盘和记录层为双层的第二测试光盘的至少两种以上的测试光盘的再现信号评价来检查光拾取装置。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：中谷守雄，鹫见聪，日比野清司，
申请(专利权)人：三洋电机株式会社，三洋光学设计株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]