试样观察装置制造方法及图纸

本公开的试样观察装置具备：透明容器，其收容包含试样的介质；光源部，其设置于容器的下方，朝向容器内照射第一照射光(I)；受光构件，其接收第一照射光被介质散射后的散射光，受光构件具有透光区域和受光区域，位于介质和光源部之间的与光源部重叠的位置。光源部之间的与光源部重叠的位置。光源部之间的与光源部重叠的位置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】试样观察装置


[0001]本公开涉及一种用于观察存在于细胞培养用培养基等介质中的细胞等试样的试样观察装置。

技术介绍

[0002]在使用具备显微镜等透镜的大型的试样观察装置来观察试样的情况下，难以在培养箱内等有限的空间内同时观察多个试样。另外，作为用于使试样观察装置小型化的现有技术，已知有例如将光源配置于传感器的侧方，由传感器的传感器面接收从光源射出光的反射光而生成图像的现有技术(例如，参照专利文献1)。
[0003]在先技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：日本专利第6543002号公报

技术实现思路

[0006]本公开的试样观察装置具备：透明容器，其收容包含试样的介质；光源部，其设置于所述容器的下方，朝向所述容器内照射照射光；以及受光构件，其接收所述照射光被所述介质散射后的散射光。所述受光构件具有透光区域和受光区域，位于所述介质和所述光源部之间的与所述光源部重叠的位置。
[0007]另外，本公开的试样观察系统具备：上述多个试样观察装置；多个控制装置，其分别与所述多个试样观察装置连接，对所述多个试样观察装置各自的试样观察动作进行控制；以及监视装置，其与所述多个控制装置分别通信，输出所述多个试样观察装置的监视信息。
附图说明
[0008]本专利技术的目的、特色及优点根据下述的详细说明和附图将变得更加明确。
[0009]图1A是示出本公开的实施方式的试样观察装置的概要结构的剖视图。
[0010]图1B是示出本公开的实施方式的试样观察装置的概要结构的剖视图。
[0011]图1C是示出本公开的实施方式的试样观察装置的概要结构的剖视图。
[0012]图2是本公开的实施方式的试样观察装置的局部放大剖视图。
[0013]图3是本公开的实施方式的试样观察装置的局部放大剖视图。
[0014]图4是本公开的实施方式的试样观察装置中的受光部的俯视图。
[0015]图5是本公开的实施方式的试样观察装置中的受光部的剖视图。
[0016]图6是示出本公开的实施方式的试样观察装置中的受光部的形状的一例的俯视图。
[0017]图7是示出本公开的实施方式的试样观察装置中的受光部的形状的一例的俯视图。
[0018]图8是示出本公开的实施方式的试样观察装置中的受光部的形状的一例的俯视图。
[0019]图9是示出本公开的实施方式的试样观察装置中的受光部的形状的一例的俯视图。
[0020]图10是示出本公开的实施方式的试样观察装置的变形例的剖视图。
[0021]图11是示出本公开的实施方式的试样观察装置中的受光部的受光区域的量子效率光谱的一例的图。
[0022]图12是示出本公开的实施方式的试样观察装置中的介质的吸收光谱的一例的图。
[0023]图13A是示出本公开的实施方式的试样观察系统的分解立体图。
[0024]图13B是示出本公开的实施方式的试样观察系统的分解立体图。
[0025]图14是示出本公开的实施方式的试样观察系统的变形例的分解立体图。
[0026]图15是示出本公开的实施方式的试样观察系统的变形例的分解立体图。
具体实施方式
[0027]以下，使用附图对本公开的实施方式的试样观察装置进行说明。
[0028]<试样观察装置>
[0029](第一实施方式)
[0030]图1A及图1B是示出第一实施方式的试样观察装置100的概要结构的剖视图。第一实施方式的试样观察装置100具备光源部10、容器20、以及受光构件40。图1B是图1A的变形例。如图1B所示，试样观察装置100也可以是具备位于介质80与受光构件40之间的狭缝构件30的结构。在具备狭缝构件30的结构的情况下，能够与受光构件40的受光区域42对应地配置狭缝部31。其结果是，例如能够抑制接收应该由相邻的受光区域42接收的、被细胞壁等散射的散射光等。狭缝构件30具备狭缝部31及遮光部32。受光构件40具备透光区域41及受光区域42。
[0031]在图1A的结构中，容器20、受光部40和光源部10也可以相互紧贴。在该情况下，试样观察装置100成为薄型化且紧凑的结构。另外，由于在各构件之间不存在空间部，因此能够抑制来自光源部10的射出光衰减。对于图1B的结构，也可以同样地使容器20、狭缝构件30、受光部40和光源部10相互紧贴。
[0032]试样观察装置100的受光构件40位于介质80与光源部10之间。由此，能够将受光构件40设置于介质80与光源部10之间的极其狭窄的设置部位、设置空间。其结果是，能够使试样观察装置100及试样观察系统101小型化。另外，在容器20的下方设置有朝向容器20内照射照射光的光源部10。由此，可以将光均匀地照射到试样70及介质80，并可以获得均匀的图像。
[0033]光源部10具有朝向容器20中的介质80射出第一照射光IL1的功能。作为光源部10，例如可以采用LED(Light Emitting Diode)等发光元件、电致发光装置(EL装置)、荧光灯、半导体激光元件等激光发光装置等。光源部10也可以是将多个LED、有机EL元件、无机EL元件、半导体激光元件等发光元件排列成矩阵状的面发光型。另外，光源部10也可以构成为包括扩散板或导光板。在光源部10具备导光板的情况下，也可以是在导光板的一个端面配置至少一个发光元件的端面发光型。
[0034]变形例的情况下，光源部10设置于隔着受光构件40与狭缝构件30对置的位置。由此，能够不需要较大的占有空间而紧凑地配置光源部10、狭缝构件30、及受光构件40。
[0035]如图2及图3所示，从光源部10射出的照射光(以下也称为第一照射光)IL1的一部分透过受光构件40的透光区域41，由收纳于容器20的介质80散射。散射后的第一散射光SL1中的与水平面垂直的第一垂直光VL1的一部分通过狭缝构件30的狭缝部31，由受光构件40的受光区域42接收。由于第一垂直光VL1遇到试样70时被散射，因此在存在狭缝部31的情况下，若在该部位存在试样70(图2)，则通过了狭缝部31的第一通过光PL1的光量与在狭缝部31的部位不存在试样70的情况(图3)相比减少。由此，能够将由试样70引起的第一垂直光VL1的散射强度作为光检测强度之差进行检知，因此能够检测狭缝部31的部位有无试样70。在狭缝部31的部位不存在试样70的情况下将由受光区域42接收的光量I1示于下述的式(1)，在狭缝部31的部位存在试样70的情况下将由受光区域42接收的光量I1’
示于下述的式(2)。
[0036]I0‑
B＝I1…
(1)
[0037]I0‑
(B+A)
‑
SL＝I1′…
(2)
[0038]在此，I0表示第一垂直光VL1的量，A表示由试样70吸收的光的量，B表示由介质80吸收的光的量，SL表示由试样7本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种试样观察装置，其中，所述试样观察装置具备：透明容器，其收容包含试样的介质；光源部，其设置于所述容器的下方，朝向所述容器内照射照射光；以及受光构件，其接收所述照射光被所述介质散射后的散射光，所述受光构件具有透光区域和受光区域，位于所述介质和所述光源部之间的与所述光源部重叠的位置。2.根据权利要求1所述的试样观察装置，其中，所述受光构件在所述光源部侧具备遮光构件。3.根据权利要求1或2所述的试样观察装置，其中，所述试样观察装置具备使所述散射光通过的狭缝构件，所述狭缝构件位于所述介质与所述受光构件之间。4.根据权利要求1至3中任一项所述的试样观察装置，其中，在隔着所述容器与所述光源部对置的位置具有反射构件。5.根据权利要求1至4中任一项所述的试样观察装置，其中，所述试样观察装置具备使所述容器相对于所述光源部装卸的装卸构件。6.根据权利要求3所述的试样观察装置，其中，所述受光构件位于所述容器内的底面上，所述狭缝构件位于所述受光构件的正上方。7.根据权利要求3所述的试样观察装置，其中，所述受光构件位于所述光源部与所述容器之间，所述狭缝构件位于所述容器内的底面上。8.根据权利要求3所述的试样观察装置，其中，所述受光构件位于所述光源部与所述容器之间，所述狭缝构件位于所述受光构件与所述容器之间，所述容器、所述狭缝构件、所述受光构件和所述光源部相互紧贴。9.根据权利要求1至8中任一项所述的试样观察装置，其中，所述受光构件具有多个所述受光区域。10.根据权利要求9所述的试样观察装置，其中，多个所述受光区域在俯视下是正方形，所述透光区域的面积大于所述多个...

【专利技术属性】
技术研发人员：神田荣二，
申请(专利权)人：京瓷株式会社，
类型：发明
国别省市：