本申请公开了一种检测装置、检测方法和存储介质。检测装置用于检测滤光片模块。检测装置包括照明模块、物镜、预设样本、透镜、图像探测模块和图像分析模块。照明模块用于发出激发光。滤光片模块可以滤除杂散光及改变激发光的传播方向。物镜用于会聚激发光线。预设样本用于接收激发光以产生荧光。荧光被物镜收集及透过滤光片模块。透镜用于会聚荧光在图像探测模块的有效区域。图像探测模块用于接收荧光并形成图像。图像分析模块用于分析荧光图像得到滤光片模块的装配情况。本申请的检测装置可以模拟滤光片模块应用的基因测序仪高分辨率荧光显微成像系统，可直接检测滤光片模块的装配情况，检测装置集成一体化，实现快速检测的目的，简单、可行。可行。可行。
【技术实现步骤摘要】
检测装置、检测方法、存储介质
[0001]本申请涉及基因测序
，特别涉及一种检测装置、检测方法和存储介质。
技术介绍
[0002]第二代基因测序技术又称高通量测序技术，通常采用高分辨显微成像系统采集拍照微流控芯片上DNA簇的荧光图像，最终由软件识别图像中的碱基序列实现核酸检测。高分辨显微成像系统中的图像探测器获取的图像质量不仅受成像系统的光学元器件的参数影响，还受光机系统中滤光片组的装配情况影响。滤光片组的装配情况会影响测序仪的成像光路和图像质量，从而影响其识别碱基序列的准确率。
[0003]光机系统装配不规范导致滤光片被外力挤压。例如，光机件的加工误差过大使得滤光片表面受力不均匀，或将滤光片固定于光机系统的过程中施力过大等都会使滤光片发生微小形变，影响滤光片表面的平整度使其产生一定程度的弯曲。这种微小形变难以被肉眼观察到，但其会影响成像系统的光路，使得图像质量变差，降低基因测序仪的测序质量。
[0004]相关技术中，使用薄膜干涉法检测滤光片表面的平整度可用于评估滤光片是否产生了微小形变。但由于光机系统的结构复杂，且光机系统中各滤光片的位置固定、角度及膜层的朝向各不相同，因此，薄膜干涉法不适用于对已经装配于光机系统上的滤光片的平整度进行检测，不能评估光机系统中滤光片组的装配是否规范，无法判断出成像系统的光路是否受到影响。
[0005]此外，实验室级的测量方法通常采用高精度的轮廓测量仪结合高动态范围图像合成技术（HDR扫描算法）对被测量样本的表面轮廓进行重建以实现对其平整度的评估，可计算出被测样本表面的形变程度。但是在实际生产过程中，已经装配完成的基因测序仪光机系统中的滤光片通常位于光机内部，用轮廓测量仪测量其表面形变程度进而评估滤光片组是否装配规范的可行性不高，且测量成本过大、耗费时间且难以应用于批量。
技术实现思路
[0006]有鉴于此，本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的问题之一。为此，本申请的目的在于提供一种检测装置、检测方法和存储介质。
[0007]本申请实施方式提供一种检测装置，用于检测滤光片模块。所述检测装置包括照明模块、物镜、预设样本、透镜、图像探测模块和图像分析模块。所述照明模块用于发出激发光，所述滤光片模块位于所述激发光的光路上，用于改变所述激发光的传播方向以照射到预设样本上；所述物镜位于所述激发光的光路上，用于会聚所述激发光；所述预设样本设置在所述激发光的光路上且位于所述物镜下游，用于接收所述激发光以产生荧光，所述荧光经过所述物镜及所述滤光片模块；所述透镜位于所述荧光的光路上且位于所述滤光片模块下游，用于会聚所述荧光以传递给所述图像探测模块；所述图像探测模块位于所述荧光的光路上，用于接收所述荧光并形成预设样本的荧光图像；所述图像分析模块与所述图像探测模块连接，所述图像分析模块用于分析所述荧光图像得到所述滤光片模块的装配情况。
[0008]如此，本申请的所述检测装置通过所述照明模块、所述物镜、所述预设样本、所述透镜、所述图像探测模块和所述图像分析模块可以模拟所述滤光片模块所应用的高分辨率荧光显微成像系统，能够直接检测所述滤光片模块的装配情况，检测装置集成一体化，无需考虑单个滤光片的安装位置和膜层朝向等问题，只需单独更换滤光片模块即可实现快速检测所述滤光片模块的装配情况的目的，简单、可行。
[0009]在某些实施方式中，所述预设样本包括荧光纳米微球样本。
[0010]如此，本申请的所述检测装置以所述荧光纳米微球为所述预设样本，由于所述荧光纳米微球与DNA簇的特性相近，可以模拟所述滤光片模块在高分辨率荧光显微成像系统的应用环境，因此，所述荧光纳米微球可以用于检测所述滤光片模块的装配情况。
[0011]在某些实施方式中，所述滤光片模块用于高分辨率荧光显微成像系统，所述荧光纳米微球的尺寸小于所述高分辨率荧光显微成像系统的极限分辨率。
[0012]如此，本申请的所述滤光片模块用于所述高分辨率荧光显微成像系统，所述预设样本中的所述荧光纳米微球的尺寸小于所述高分辨率荧光显微成像系统的所述极限分辨率，所述荧光纳米微球的成像结果的点扩散函数代表系统的成像性能，能比DNA簇更好的反应出所述高分辨率荧光显微成像系统的像差，所述图像探测器得到与所述高分辨荧光显微成像系统的光学衍射极限接近的荧光图像，所述图像分析模块进而可以根据该荧光图像分析所述高分辨率荧光显微成像系统中所述滤光片模块的装配情况。
[0013]在某些实施方式中，所述高分辨率荧光显微成像系统用于采集微流控芯片上DNA簇的荧光图像，所述荧光纳米微球具有与所述DNA簇相近的吸收光谱与辐射光谱。
[0014]如此，本申请的所述荧光纳米微球具有与所述DNA簇相近的所述吸收光谱与所述辐射光谱，可以模拟所述DNA簇用于所述高分辨率荧光显微成像系统的所述荧光图像采集的场景，可以得到趋近于所述高分辨荧光显微成像系统光学衍射极限的荧光图像，因此，可以选用所述荧光纳米微球作为检测所述高分辨率荧光显微成像系统中所述滤光片模块的装配情况的样本。
[0015]在某些实施方式中，所述检测装置还包括固定平台。所述固定平台形成有通孔，所述激发光和所述荧光通过所述通孔，所述固定平台用于固定所述滤光片模块及所述物镜以使所述滤光片模块及所述物镜位于所述反射光和所述荧光的光路上。
[0016]如此，本申请的所述检测装置中的所述固定平台可以固定所述滤光片模块的位置及固定安装所述物镜，以完成所述滤光片模块的装配情况的评估。
[0017]在某些实施方式中，所述检测装置还包括升降台和载物台。所述载物台置于所述升降台上，所述预设样本放置在所述载物台上，所述升降台包括用于调节所述载物台高度的调节旋钮。
[0018]如此，本申请的所述检测装置可以通过所述调节旋钮调节所述升降台的高度使得所述载物台及所述预设样本也上下移动，使得所述检测装置可以匹配到所述物镜的最佳焦面，得到清晰的所述荧光图像，以便于分析评估所述滤光片模块的装配情况。
[0019]本申请还提供一种检测方法，用于上述任一项实施方式中所述的检测装置。所述检测方法包括获取图像探测模块形成的荧光图像；根据参考图像判断所述荧光图像是否正常；若所述荧光图像正常，确定所述滤光片模块装配合格；若所述荧光图像不正常，确定所述滤光片模块装配不合格。
[0020]如此，本申请的所述检测方法可以根据所述参考图像判断所述荧光图像是否正常，进而确定所述滤光片模块的装配情况。
[0021]在某些实施方式中，所述根据参考图像判断所述荧光图像是否正常包括：利用预设算法提取所述荧光图像中预设轮廓与所述参考图像的轮廓进行比较，判断所述荧光图像是否正常。
[0022]如此，本申请的所述检测方法可以使用所述预设算法提取得到所述荧光图像轮廓和所述参考图像轮廓，以判断所述荧光图像是否正常。
[0023]在某些实施方式中，所述检测方法包括：标记已检测的所述滤光片模块；按照所述滤光片模块的合格与不合格的装配结果，对所述滤光片模块进行分类。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种检测装置，用于检测滤光片模块，其特征在于，所述检测装置包括：照明模块，用于发出激发光，所述滤光片模块位于所述激发光的光路上，用于改变所述激发光的传播方向以照射到预设样本上；物镜，位于所述激发光的光路上，用于会聚所述激发光；预设样本，设置在所述激发光的光路上且位于所述物镜下游，用于接收所述激发光以产生荧光，所述荧光被所述物镜收集经过所述滤光片模块；透镜，位于所述荧光的光路上且位于所述滤光片模块下游，用于会聚所述荧光以传递给图像探测模块；图像探测模块，位于所述荧光的光路上，用于接收所述荧光并形成预设样本的荧光图像；和图像分析模块，所述图像分析模块与所述图像探测模块连接，所述图像分析模块用于分析所述荧光图像得到所述滤光片模块的装配情况。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述预设样本包括荧光纳米微球样本。3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述滤光片模块用于基因测序仪高分辨率荧光显微成像系统，所述荧光纳米微球的尺寸小于所述高分辨率荧光显微成像系统的极限分辨率。4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述高分辨率荧光显微成像系统用于采集微流控芯片上DNA簇的荧光图像，所述荧光纳米微球具有与所述DNA簇相近的吸收光谱与辐射光谱。5.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：固定平台，形成有通孔，所述激...
【专利技术属性】
技术研发人员：张芬，陈龙超，王谷丰，
申请(专利权)人：深圳赛陆医疗科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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