检测装置、检测方法、存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种检测装置、检测方法和存储介质。检测装置用于检测滤光片模块。检测装置包括照明模块、物镜、预设样本、透镜、图像探测模块和图像分析模块。照明模块用于发出激发光。滤光片模块可以滤除杂散光及改变激发光的传播方向。物镜用于会聚激发光线。预设样本用于接收激发光以产生荧光。荧光被物镜收集及透过滤光片模块。透镜用于会聚荧光在图像探测模块的有效区域。图像探测模块用于接收荧光并形成图像。图像分析模块用于分析荧光图像得到滤光片模块的装配情况。本申请的检测装置可以模拟滤光片模块应用的基因测序仪高分辨率荧光显微成像系统，可直接检测滤光片模块的装配情况，检测装置集成一体化，实现快速检测的目的，简单、可行。可行。可行。

【技术实现步骤摘要】
检测装置、检测方法、存储介质


[0001]本申请涉及基因测序
，特别涉及一种检测装置、检测方法和存储介质。

技术介绍

[0002]第二代基因测序技术又称高通量测序技术，通常采用高分辨显微成像系统采集拍照微流控芯片上DNA簇的荧光图像，最终由软件识别图像中的碱基序列实现核酸检测。高分辨显微成像系统中的图像探测器获取的图像质量不仅受成像系统的光学元器件的参数影响，还受光机系统中滤光片组的装配情况影响。滤光片组的装配情况会影响测序仪的成像光路和图像质量，从而影响其识别碱基序列的准确率。
[0003]光机系统装配不规范导致滤光片被外力挤压。例如，光机件的加工误差过大使得滤光片表面受力不均匀，或将滤光片固定于光机系统的过程中施力过大等都会使滤光片发生微小形变，影响滤光片表面的平整度使其产生一定程度的弯曲。这种微小形变难以被肉眼观察到，但其会影响成像系统的光路，使得图像质量变差，降低基因测序仪的测序质量。
[0004]相关技术中，使用薄膜干涉法检测滤光片表面的平整度可用于评估滤光片是否产生了微小形变。但由于光机系统的结构复杂，且光机系本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测装置，用于检测滤光片模块，其特征在于，所述检测装置包括：照明模块，用于发出激发光，所述滤光片模块位于所述激发光的光路上，用于改变所述激发光的传播方向以照射到预设样本上；物镜，位于所述激发光的光路上，用于会聚所述激发光；预设样本，设置在所述激发光的光路上且位于所述物镜下游，用于接收所述激发光以产生荧光，所述荧光被所述物镜收集经过所述滤光片模块；透镜，位于所述荧光的光路上且位于所述滤光片模块下游，用于会聚所述荧光以传递给图像探测模块；图像探测模块，位于所述荧光的光路上，用于接收所述荧光并形成预设样本的荧光图像；和图像分析模块，所述图像分析模块与所述图像探测模块连接，所述图像分析模块用于分析所述荧光图像得到所述滤光片模块的装配情况。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述预设样本包括荧光纳米微球样本。3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述滤光片模块用于基因测序仪高分辨率荧光显微成像系统，所述荧光纳米微球的尺寸小于所述高分辨率荧光显微成像系统的极限分辨率。4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述高分辨率荧光显微成像系统用于采集微流控芯片上DNA簇的荧光图像，所述荧光纳米微球具有与所述DNA簇相近的吸收光谱与辐射光谱。5.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：固定平台，形成有通孔，所述激...

【专利技术属性】
技术研发人员：张芬，陈龙超，王谷丰，
申请(专利权)人：深圳赛陆医疗科技有限公司，
类型：发明
国别省市：