评估低重复频率自发辐射占比装置、系统及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种评估低重复频率自发辐射占比装置、系统及方法，其装置包括激光功率分束器、脉冲提取结构、测量结构及数据处理器，激光功率分束器用于接收待测激光器输出的待测激光脉冲信号，并将待测激光脉冲信号拆分为两束输出；脉冲提取结构用于根据其中一束待测激光脉冲信号获取分离不同长短脉冲信号的触发信号，并根据触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取自发辐射信号和目标脉冲信号；测量结构分别对自发辐射信号及目标脉冲信号进行信号属性测量、并对应输出信号测量数据；数据处理器用于根据信号测量数据获取待测激光脉冲信号的自发辐射占比。本发明专利技术能计算脉冲间自发辐射信号的占比，评估脉冲间自发辐射信号的光谱和能量特性分布。光谱和能量特性分布。光谱和能量特性分布。

【技术实现步骤摘要】
评估低重复频率自发辐射占比装置、系统及方法


[0001]本专利技术涉及光纤激光
，具体是涉及一种评估低重复频率自发辐射占比装置、系统及方法。

技术介绍

[0002]高对比度的脉冲激光器已经成为工业加工、基础科学、生物医药领域不可或缺的工具，得益于光纤激光器的紧凑型、高能量转换效率、低成本，基于脉冲光纤激光技术的应用快速发展。当前低重复频率（<50kHz）的脉冲激光器因其稳定性好，抗环境干扰能力强，体积小，已经被广泛应用在激光雷达领域，为汽车自动驾驶、风力发电机、环境气溶胶监测提供脉冲激光光源。然而这类型光源由于占空比较低，在放大过程中容易产生大量的自发辐射能量。并且在光纤激光放大器中，通常采用较长的增益光纤提高光转换效率，导致额外的自发辐射积累，影响脉冲对比度。在高能量脉冲激光应用中，自发辐射能量会导致探测元件和待加工材料表面的热量累积，造成损伤。同时脉冲前沿过高的自发辐射也是限制灵敏度的重要因素之一。
[0003]现阶段，脉冲对比度的评估通常采用开关机或测量平均功率的方式，这是无法测量实际脉冲间的自发辐射的。由于缺本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种评估低重复频率自发辐射占比装置，其特征在于，包括：激光功率分束器，用于接收待测激光器输出的待测激光脉冲信号，并将所述待测激光脉冲信号拆分为两束输出；脉冲提取结构，用于根据其中一束待测激光脉冲信号获取分离不同长短脉冲信号的触发信号，并根据所述触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取自发辐射信号和目标脉冲信号；测量结构，用于分别对所述自发辐射信号及所述目标脉冲信号进行信号属性测量、并对应输出信号测量数据；以及，数据处理器，与所述测量结构电连接，用于根据所述信号测量数据获取所述待测激光脉冲信号的自发辐射占比。2.如权利要求1所述的评估低重复频率自发辐射占比装置，其特征在于，所述脉冲提取结构包括同步触发信号产生器及激光开关，所述激光功率分束器与所述激光开关电连接；所述同步触发信号产生器，用于根据其中一束待测激光脉冲信号获取分离不同长短脉冲信号的触发信号；所述激光开关，用于根据所述触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取长脉冲信号及短脉冲信号；其中，所述长脉冲信号对应于自发辐射信号，所述短脉冲信号对应于目标脉冲信号。3.如权利要求2所述的评估低重复频率自发辐射占比装置，其特征在于，所述激光开关用于，当检测到触发信号为分离短脉冲信号时，则输出短门信号，并在另一束待测激光脉冲信号中提取短门信号宽度大于另一束待测激光脉冲信号的时间宽度、且短门信号与另一束待测激光脉冲信号同步时的目标脉冲信号；当检测到触发信号为分离长脉冲信号时，则输出长门信号，并在另一束待测激光脉冲信号中提取长门信号宽度小于另一束待测激光脉冲信号的时间宽度、且长门信号与另一束待测激光脉冲信号之间的延时大于另一束待测激光脉冲信号间隔时的自发辐射信号。4.如权利要求1所述的评估低重复频率自发辐射占比装置，其特征在于，所述测量结构包括光谱仪及功率计；所述光谱仪，用于分别测量所述自发辐射信号的光谱及所述目标脉冲信号的光谱；所述功率计，用于分别测量所述自发辐射信号的能量及所述目标脉冲信号的能量。5.一种评估低重复频率自发辐射占比系统，其特征在于，包括：待测激光器，用于输出待测激光脉冲信号；以及，如权利要求1至4中任一项所述的评估低重复频率自发辐射能量占比装置，所述评估低重复频率自发辐射能量占比装置设于所述待测激光器的一侧。6.一种评估低重复频率自发辐射...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘洋，杨经义，
申请(专利权)人：武汉中科锐择光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：