一种超低畸变线扫镜头制造技术

本实用新型专利技术涉及工业镜头技术领域，具体公开一种超低畸变线扫镜头，由物方到像依次包括具有正光焦度的前组透镜组T1、光阑S以及具有正光焦度的后组透镜组T2：所述前组透镜组T1包括具有正光焦度的第一透镜组S1和具有负光焦度的第二透镜组S2；焦距f、焦距f

【技术实现步骤摘要】
一种超低畸变线扫镜头


[0001]本技术涉及工业镜头
，尤其涉及一种超低畸变线扫镜头。

技术介绍

[0002]随着工业自动化的快速发展，机器视觉已广泛地应用于各行业自动化生产过程中，尤其是在人工检测无法判断的岗位，需要借助机器视觉完成检测要求。其中，线扫应用需求日渐凸显，如：FPC定位切割、液晶屏划伤检测、圆柱电容表面缺陷检测、手机盖板膜孔检测、裂痕检测等场景中。这些应用的检测精度要求非常高，而线扫镜头作为检测系统的“眼睛”，其光学性能直接影响整个视觉系统的精度。因此，相应地要求线扫镜头的光学畸变尽可能低，分辨率尽可能高，以便支持分辨率高达16K 3.5μm的超高清线扫相机。
[0003]然而，现有线扫镜头的光学性能总存在不足之处，例如，光学畸变大、分辨率低等，故现有线扫镜头无法达到超高清线扫相机的性能要求。因此，对于更高光学性能的线扫镜头的研发就更为迫切。
[0004]本背景部分中公开的以上信息仅被包括用于增强本公开内容的背景的理解，且因此可包含不形成对于本领域普通技术人员而言在当前已经知晓的现有技术的信息。
技本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种超低畸变线扫镜头，其特征在于，由物方到像依次包括具有正光焦度的前组透镜组T1、光阑S以及具有正光焦度的后组透镜组T2：所述前组透镜组T1包括具有正光焦度的第一透镜组S1和具有负光焦度的第二透镜组S2；所述超低畸变线扫镜头的焦距f、所述第一透镜组S1的焦距f
S1
以及所述第二透镜组S2的焦距f
S2
满足以下关系式：0.85<|f
S1
/f|<1.10，2.50<|f
S2
/f|<3.50；所述前组透镜组T1与后组透镜组T2关于所述光阑S对称设置，且所述前组透镜组T1的焦距f
T1
和所述后组透镜组T2的焦距f
T2
满足关系式：0.96<f
T1
/f
T2
<1.04。2.根据权利要求1所述的超低畸变线扫镜头，其特征在于，所述第一透镜组S1包括：第一透镜G1，所述第一透镜G1具有正光焦度，且呈双凸结构或弯月结构；第二透镜G2，所述第二透镜G2具有正光焦度，且呈双凸结构；第三透镜G3，所述第三透镜G3具有负光焦度，且呈双凹结构；其中，所述第二透镜G2和第三透镜G3胶合成第一胶合透镜组U1。3.根据权利要求2所述的超低畸变线扫镜头，其特征在于，所述第二透镜组S2包括：第四透镜G4，所述第四透镜G4具有正光焦度，且呈弯月结构或双凸结构；第五透镜G5，所述第五透镜G5具有负光焦度，且呈弯月结构或双凹结构；其中，所述第四透镜G4和第五透镜G5胶合成第...

【专利技术属性】
技术研发人员：林佳敏，曾振煌，卢盛林，
申请(专利权)人：广东奥普特科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：