一种超低畸变线扫镜头制造技术

本实用新型专利技术涉及工业镜头技术领域，具体公开一种超低畸变线扫镜头，由物方到像依次包括具有正光焦度的前组透镜组T1、光阑S以及具有正光焦度的后组透镜组T2：所述前组透镜组T1包括具有正光焦度的第一透镜组S1和具有负光焦度的第二透镜组S2；焦距f、焦距f

【技术实现步骤摘要】
一种超低畸变线扫镜头


[0001]本技术涉及工业镜头
，尤其涉及一种超低畸变线扫镜头。

技术介绍

[0002]随着工业自动化的快速发展，机器视觉已广泛地应用于各行业自动化生产过程中，尤其是在人工检测无法判断的岗位，需要借助机器视觉完成检测要求。其中，线扫应用需求日渐凸显，如：FPC定位切割、液晶屏划伤检测、圆柱电容表面缺陷检测、手机盖板膜孔检测、裂痕检测等场景中。这些应用的检测精度要求非常高，而线扫镜头作为检测系统的“眼睛”，其光学性能直接影响整个视觉系统的精度。因此，相应地要求线扫镜头的光学畸变尽可能低，分辨率尽可能高，以便支持分辨率高达16K 3.5μm的超高清线扫相机。
[0003]然而，现有线扫镜头的光学性能总存在不足之处，例如，光学畸变大、分辨率低等，故现有线扫镜头无法达到超高清线扫相机的性能要求。因此，对于更高光学性能的线扫镜头的研发就更为迫切。
[0004]本背景部分中公开的以上信息仅被包括用于增强本公开内容的背景的理解，且因此可包含不形成对于本领域普通技术人员而言在当前已经知晓的现有技术的信息。

技术实现思路

[0005]本技术的一个目的在于，提供一种超低畸变线扫镜头，具有较高的分辨率和较低的畸变，能有效满足超高清线扫相机的光学性能要求。
[0006]为达以上目的，本技术提供一种超低畸变线扫镜头，由物方到像依次包括具有正光焦度的前组透镜组T1、光阑S以及具有正光焦度的后组透镜组T2：
[0007]所述前组透镜组T1包括具有正光焦度的第一透镜组S1和具有负光焦度的第二透镜组S2；所述超低畸变线扫镜头的焦距f、所述第一透镜组S1的焦距f
S1
以及所述第二透镜组S2的焦距f
S2
满足以下关系式：0.85<|f
S1
/f|<1.10，2.50<|f
S2
/f|<3.50；
[0008]所述前组透镜组T1与后组透镜组T2关于所述光阑S对称设置，且所述前组透镜组T1的焦距f
T1
和所述后组透镜组T2的焦距f
T2
满足关系式：0.96<f
T1
/f
T2
<1.04。
[0009]可选的，所述第一透镜组S1包括：
[0010]第一透镜G1，所述第一透镜G1具有正光焦度，且呈双凸结构或弯月结构；
[0011]第二透镜G2，所述第二透镜G2具有正光焦度，且呈双凸结构；
[0012]第三透镜G3，所述第三透镜G3具有负光焦度，且呈双凹结构；
[0013]其中，所述第二透镜G2和第三透镜G3胶合成第一胶合透镜组U1。
[0014]可选的，所述第二透镜组S2包括：
[0015]第四透镜G4，所述第四透镜G4具有正光焦度，且呈弯月结构或双凸结构；
[0016]第五透镜G5，所述第五透镜G5具有负光焦度，且呈弯月结构或双凹结构；
[0017]其中，所述第四透镜G4和第五透镜G5胶合成第二胶合透镜组U2。
[0018]可选的，
[0019]所述后组透镜组T2包括具有正光焦度的第三胶合透镜U3、具有负光焦度的第四胶合透镜U4以及具有正光焦度的第十透镜G10；
[0020]其中，所述第三胶合透镜U3的焦距f
U3
和所述第四胶合透镜U4的焦距f
U4
满足关系式：0.08<|f
U3
/f
U4
|<0.35。
[0021]可选的，各所述透镜均为球面镜。
[0022]可选的，所述第一透镜G1的前表面顶点到所述第十透镜G10的后表面顶点的距离L与所述超低畸变线扫镜头的焦距f满足关系式：0.60＜|L/f|。
[0023]可选的，所述第一胶合透镜组U1的焦距f
U1
和超低畸变线扫镜头的焦距f满足关系式：15.00＜|f
U1
/f|＜30.00。
[0024]可选的，超低畸变线扫镜头的光学后截距BFL与超低畸变线扫镜头的焦距f满足关系式：|BFL/f|＜1.70。
[0025]可选的，超低畸变线扫镜头的半像高y
’
与超低畸变线扫镜头的焦距f满足关系式：|y
’
/f|＜0.45。
[0026]可选的，所述第一透镜组S1的第一透镜G1的折射率为n1，则n1满足关系式：1.85＜n1＜2.00。
[0027]本技术的有益效果在于：提供一种超低畸变线扫镜头，需要说明的是，所述前组透镜组T1与后组透镜组T2对称结构设置，有利于减小甚至消除垂轴像差，进而减小畸变。进一步地，配合合理的焦距参数限定，即可使超低畸变线扫镜头在减小畸变的情况下，依然可以具有较高的分辨率，进而满足超高清线扫相机的光学性能要求。
附图说明
[0028]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0029]图1为实施例提供的应用示例1的结构示意图；
[0030]图2为实施例提供的应用示例1的光学畸变曲线图；
[0031]图3实施例提供的应用示例2的结构示意图；
[0032]图4实施例提供的应用示例3的结构示意图。
具体实施方式
[0033]为使得本技术的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而非全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0034]在本技术的描述中，需要理解的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。当一个组件被认为是“设置在”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中设置的组
件。
[0035]此外，术语“长”“短”“内”“外”等指示方位或位置关系为基于附图所展示的方位或者位置关系，仅是为了便于描述本技术，而不是指示或暗示所指的装置或原件必须具有此特定的方位、以特定的方位构造进行操作，以此不能理解为本技术的限制。
[0036]以下将结合附图所示的具体实施方式对本技术进行详细描述。但这些实施方式并不限制本技术，本领域的普通技术人员根据这些实施方式所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本技术的保护范围内。
[0037]本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种超低畸变线扫镜头，其特征在于，由物方到像依次包括具有正光焦度的前组透镜组T1、光阑S以及具有正光焦度的后组透镜组T2：所述前组透镜组T1包括具有正光焦度的第一透镜组S1和具有负光焦度的第二透镜组S2；所述超低畸变线扫镜头的焦距f、所述第一透镜组S1的焦距f
S1
以及所述第二透镜组S2的焦距f
S2
满足以下关系式：0.85<|f
S1
/f|<1.10，2.50<|f
S2
/f|<3.50；所述前组透镜组T1与后组透镜组T2关于所述光阑S对称设置，且所述前组透镜组T1的焦距f
T1
和所述后组透镜组T2的焦距f
T2
满足关系式：0.96<f
T1
/f
T2
<1.04。2.根据权利要求1所述的超低畸变线扫镜头，其特征在于，所述第一透镜组S1包括：第一透镜G1，所述第一透镜G1具有正光焦度，且呈双凸结构或弯月结构；第二透镜G2，所述第二透镜G2具有正光焦度，且呈双凸结构；第三透镜G3，所述第三透镜G3具有负光焦度，且呈双凹结构；其中，所述第二透镜G2和第三透镜G3胶合成第一胶合透镜组U1。3.根据权利要求2所述的超低畸变线扫镜头，其特征在于，所述第二透镜组S2包括：第四透镜G4，所述第四透镜G4具有正光焦度，且呈弯月结构或双凸结构；第五透镜G5，所述第五透镜G5具有负光焦度，且呈弯月结构或双凹结构；其中，所述第四透镜G4和第五透镜G5胶合成第...

【专利技术属性】
技术研发人员：林佳敏，曾振煌，卢盛林，
申请(专利权)人：广东奥普特科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：