本发明专利技术涉及夹持装置技术领域，具体公开了一种温补晶振调试夹持装置及夹持方法。该温补晶振调试夹持装置包括：固定板，固定板的上端设置有压板，压板下端的四角处均安装有第一滑杆，第一滑杆与固定板滑动连接，第一滑杆贯穿并延伸至固定板的下端，第一滑杆下端位于固定板下端的一侧安装有限位底盘，第一滑杆外部位于固定板与限位底盘之间安装有复位弹簧，固定板内部的中间位置处设置有夹持腔，夹持腔内部的中间位置处固定设置有支撑架，压板的下端安装有压块，压块的下端安装有防滑垫。通过压板配合复位弹簧的作用力将需要调试的温补晶振夹持固定，解决了传统温补晶振调试中连接的可靠性较差的问题，大幅度的提高了温补晶振调试后的合格率。后的合格率。后的合格率。
【技术实现步骤摘要】
一种温补晶振调试夹持装置及夹持方法
[0001]本专利技术涉及夹持装置
，特别涉及了一种温补晶振调试夹持装置及夹持方法。
技术介绍
[0002]温补晶振的频率温度稳定度是表征温补晶振性能指标的关键参数，尤其是对于高精密温补晶振、温补晶振频率温度稳定度调试工序决定了最终温补晶振的频率温度稳定度性能指标。
[0003]现有技术中对于温补晶振的频率温度稳定度的调试通常采用导线连接的方式，将导线焊接在温补晶振的触点，随后连接调试仪器进行调试工作。
[0004]鉴于此，提出一种温补晶振调试夹持装置及夹持方法，用于解决上述中连接的可靠性较差，无法保证调试出性能指标合格的温补晶振，从而影响了成品的合格率的问题。
技术实现思路
[0005]针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种温补晶振调试夹持装置及夹持方法，以解决上述的技术问题。
[0006]一方面，本专利技术提供了一种温补晶振调试夹持装置，包括固定板，所述固定板的上端设置有压板，所述压板下端的四角处均安装有第一滑杆，所述第一滑杆与固定板滑动连接，所述第一滑杆贯穿并延伸至固定板的下端，所述第一滑杆下端位于固定板下端的一侧安装有限位底盘，所述第一滑杆外部位于固定板与限位底盘之间安装有复位弹簧，所述固定板内部的中间位置处设置有夹持腔，所述夹持腔内部的中间位置处固定设置有支撑架，所述压板的下端安装有压块，所述压块的下端安装有防滑垫。
[0007]进一步的，所述压板的上端安装有拉手架，且拉手架与压板固定连接，所述夹持腔内部的左右两侧均安装有第二滑杆。
[0008]进一步的，所述夹持腔内部的前后两侧均安装有内滑壳，且内滑壳与第二滑杆滑动连接。
[0009]进一步的，所述内滑壳内部的中间位置处安装有第三滑杆，所述第三滑杆的外部安装有滑块，且滑块与第三滑杆滑动连接。
[0010]进一步的，所述滑块的上端安装有接触片，所述滑块的下端安装有推杆，且推杆与滑块固定连接。
[0011]进一步的，所述固定板下端的四角处均安装有支撑底柱，且支撑底柱与固定板固定连接。
[0012]进一步的，所述滑块内部设置有连接模块，所述连接模块一端与所述接触片固定连接，所述连接模块另一端穿设于所述滑块下表面，设置在所述滑块底部。
[0013]另一方面，本专利技术一种夹持方法，应用于上述一种温补晶振调试夹持装置中，该方法包括：
[0014]拉动所述拉手架，所述压板沿所述第一滑杆设置方向进行运动，以使所述压板与所述固定板之间产生间隙；
[0015]将待调试温补晶振穿过所述间隙放置在所述支撑架上表面，调整所述接触片位置，以使所述接触片与所述温补晶振触点位置相连接；
[0016]停止拉动所述拉手架，所述压板沿所述第一滑杆设置方向进行运动，所述压板与所述温补晶振相连接，以使所述压板对所述温补晶振进下压固定。
[0017]进一步地，调整所述接触片位置具体为：
[0018]移动所述推杆，以使所述推杆带动所述滑块和内滑壳沿所述第二滑杆设置方向进行运动，进而使所述内滑壳向所述温补晶振触点行移动；
[0019]待所述内滑壳移动至与所述温补晶振触点后，移动所述推杆，以使所述推杆带动所述滑块和接触片沿所述第三滑杆设置方向进行运动，进而使所述接触片向所述温补晶振触点进行移动。
[0020]本专利技术一种温补晶振测试装置及测试方法与现有技术相比，具备以下有益效果，
[0021]通过拉动拉手架使得压板升起，限位底盘推动复位弹簧使其受力压缩形变，将需要夹持的温补晶振放置在支撑架的上端，温补晶振的触点与接触片接触，随后松开拉手架，复位弹簧复位推动限位底盘使得第一滑杆向下移动进而使得压板向下移动，压块对温补晶振进行下压固定，以此方式使得温补晶振的固定夹持更加方便快捷，相对于现有技术中使用导线连接调试设备的方式，该方式连接更加方便，提高了调试工作的效率。
[0022]进一步的，本专利技术实施例中温补晶振测试装置通过设置第二滑杆和内滑壳，使其移动滑块，调整接触片位置，进一步使接触片与温补晶振的触点更好贴合，提升调试工作效率的同时，更好的兼容了对不同规格的温补晶振进行调试的工作。
附图说明
[0023]图1为本专利技术整体结构示意图；
[0024]图2为本专利技术压板与固定板分离状态立体图；
[0025]图3为本专利技术内滑壳剖视图。
[0026]图中：1、固定板；2、支撑底柱；3、压板；4、第一滑杆；5、限位底盘；6、复位弹簧；7、压块；8、防滑垫；9、拉手架；10、夹持腔；11、第二滑杆；12、内滑壳；13、支撑架；14、第三滑杆；15、滑块；16、推杆；17、接触片。
具体实施方式
[0027]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0028]请参阅图1至图3，本专利技术提供一种技术方案，一种温补晶振调试夹持装置，包括固定板1，固定板1的上端设置有压板3，压板3下端的四角处均安装有第一滑杆4，第一滑杆4与固定板1滑动连接，第一滑杆4贯穿并延伸至固定板1的下端，第一滑杆4下端位于固定板1下端的一侧安装有限位底盘5，第一滑杆4外部位于固定板1与限位底盘5之间安装有复位弹簧
6，固定板1内部的中间位置处设置有夹持腔10，夹持腔10内部的中间位置处固定设置有支撑架13，压板3的下端安装有压块7，压块7的下端安装有防滑垫8。
[0029]具体而言，本专利技术实施例中，压板3的上端安装有拉手架9，且拉手架9与压板3固定连接，夹持腔10内部的左右两侧均安装有第二滑杆11，拉手架9用于对压板3进行拉起控制。
[0030]具体而言，本专利技术实施例中，夹持腔10内部的前后两侧均安装有内滑壳12，且内滑壳12与第二滑杆11滑动连接，通过第二滑杆11的设置使得内滑壳12在夹持腔10内部的移动更加方便。
[0031]请参阅图3，内滑壳12内部的中间位置处安装有第三滑杆14，第三滑杆14的外部安装有滑块15，且滑块15与第三滑杆14滑动连接，第三滑杆14使得滑块15沿第三滑杆设置方向上进行移动，以便于调节滑块15的位置处。
[0032]具体而言，本专利技术实施例中，滑块15的上端安装有接触片17，滑块15的下端安装有推杆16，且推杆16与滑块15固定连接。
[0033]具体而言，滑块15内部设置有连接模块，连接模块一端与接触片17固定连接，连接模块另一端穿设于滑块15下表面，设置在滑块底部。
[0034]可以理解的是，接触片17上端用于与温补晶振的触点进行贴合接触，接触片17的下端与连接模块连接，通过将连接模块穿过滑块15下表面与调试设备连接对温补晶振进行调试，避免了传统中将导线焊接在温补晶振的触点再通过调试设备连接对温补晶振进行调试而造成额温补晶振造成焊本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种温补晶振调试夹持装置，包括固定板(1)，其特征在于，所述固定板(1)的上端设置有压板(3)，所述压板(3)下端的四角处均安装有第一滑杆(4)，所述第一滑杆(4)与固定板(1)滑动连接，所述第一滑杆(4)贯穿并延伸至固定板(1)的下端，所述第一滑杆(4)下端位于固定板(1)下端的一侧安装有限位底盘(5)，所述第一滑杆(4)外部位于固定板(1)与限位底盘(5)之间安装有复位弹簧(6)，所述固定板(1)内部的中间位置处设置有夹持腔(10)，所述夹持腔(10)内部的中间位置处固定设置有支撑架(13)，所述压板(3)的下端安装有压块(7)，所述压块(7)的下端安装有防滑垫(8)。2.根据权利要求1所述的一种温补晶振调试夹持装置，其特征在于，所述压板(3)的上端安装有拉手架(9)，且拉手架(9)与压板(3)固定连接，所述夹持腔(10)内部的左右两侧均安装有第二滑杆(11)。3.根据权利要求2所述的一种温补晶振调试夹持装置，其特征在于，所述夹持腔(10)内部的前后两侧均安装有内滑壳(12)，且内滑壳(12)与第二滑杆(11)滑动连接。4.根据权利要求3所述的一种温补晶振调试夹持装置，其特征在于，所述内滑壳(12)内部的中间位置处安装有第三滑杆(14)，所述第三滑杆(14)的外部安装有滑块(15)，且滑块(15)与第三滑杆(14)滑动连接。5.根据权利要求4所述的一种温补晶振调试夹持装置，其特征在于，所述滑块(15)的上端安装有接触片(17)，所述滑块(15)的下端安装有推杆(16)，且推杆(16)与滑块(15)固定连接。6.根据权利要求1所述的一种温补晶振调...
【专利技术属性】
技术研发人员：王佳彬，杨国永，尹维国，李传军，苗洁，侯俊，
申请(专利权)人：晶宇兴电子科技三河有限公司，
类型：发明
国别省市：
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