一种集成高温和亮度寿命测试的发光器件寿命测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种集成高温和亮度寿命测试的发光器件寿命测试设备，涉及测试设备技术领域，包括安装柜、电源组、测试槽，所述测试槽的内部设置有测试单元。本实用新型专利技术通过设置测试单元，实现安装座对发光器件进行通电点亮测试，电脑内部的软件控制信号采集仪器采集测试硅光二极管的信号，通过分析硅光二极管的信号判断反光器件的寿命情况，与此同时，通过高精度温度控制器使加热片对测试槽内进行升温，使温度传感器检测到指定温度后，加热片对测试槽内维持恒定温度，从而对发光器件进行高温测试，通过以上零件的相互配合使用，实现同步对若干个发光器件进行高温和亮度衰减测试，大大增加测试设备的实用性，降低测试成本，提高测试效率。高测试效率。高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种集成高温和亮度寿命测试的发光器件寿命测试设备


[0001]本技术涉及测试设备
，具体是一种集成高温和亮度寿命测试的发光器件寿命测试设备。

技术介绍

[0002]半导体发光二极管是一种重要的光电子器件，它在科学研究和工农业生产中均有非常广泛的应用，发光二极管虽小，但要准确测量它的各项光和辐射参数并非一件易事，中国光学光电子行业协会光电器件专业分会根据国内及行业内部的实际情况，初步制定了行业标准发光二极管测试方法，2002年起在行业内部试行。
[0003]传统的发光器件寿命测试设备只用于发光器件在点亮过程中测试衰减过程，当要用于高温测试寿命时候，只能放置到高温箱里面进行测试寿命，这种测试方法需要一个空间大的高温箱，另外也增加了成本，故而研发一款可以集成高温和亮度寿命一起测试的设备，进而降低测试成本，提高测试效率。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于：为了解决测试成本较高，测试效率较低的问题，提供一种集成高温和亮度寿命测试的发光器件寿命测试设备。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种集本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成高温和亮度寿命测试的发光器件寿命测试设备，包括安装柜(1)、电源组(2)，其特征在于，所述安装柜(1)的内部一侧安装有若干个测试箱(3)，所述测试箱(3)的内部开设若干个测试槽(4)，所述测试槽(4)的内部设置有测试单元(5)；所述测试单元(5)包括测试盒(501)、安装座(502)、加热片(503)、硅光二极管(504)和温度传感器(505)；所述测试盒(501)滑动安装于所述测试槽(4)的内部，所述安装座(502)固定安装于所述测试盒(501)的内部底端，所述加热片(503)固定安装于所述测试槽(4)的内壁一端，所述硅光二极管(504)固定安装于所述测试盒(501)的内部底端，并位于所述安装座(502)的一端，所述温度传感器(505)固定安装于所述测试槽(4)的内部。2.根据权利要求1所述的一种集成高温和亮度寿命测试的发光器件寿命测试设备，其特征在于，所述测试盒(501)呈“L”型结构，所述测试槽(4)的内壁两端开设有供所述测试盒(501)限位滑动的移动槽，所述测试盒(501)的外壁一端转动安装有把手。3.根据权利要求1所述的一种集成高温和亮度寿命测试的发光器件寿命测试设备，其特征在于，所述安装柜(1)的内部...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁丙生，刘镇岭，王剑斌，赖芸光，廖燕锋，
申请(专利权)人：广州晶合设备有限公司，
类型：新型
国别省市：