一种LED数码管的光电检测系统及检测方法技术方案

技术编号:37453438 阅读:7 留言:0更新日期:2023-05-06 09:25
本发明专利技术公开了一种LED数码管的光电检测系统及检测方法,包括暗箱、图像获取模块、载具模块、驱动导轨模块、图像处理模块、主控模块、光性能检测模块、电性能检测模块、信息储存模块和驱动数据获取模块,暗箱内安装有图像获取模块,暗箱下方设置有驱动导轨模块,驱动导轨模块上驱动连接有载具模块,图像获取模块通过导线电性连接图像处理模块,图像处理模块通过数据导线电性连接主控模块,主控模块通过导线分别电性连接光性能检测模块、电性能检测模块和驱动导轨模块,本系统通过驱动数据获取模块可对驱动导轨的行进距离进行检测,从而通过主控模块和驱动导轨模块的配合使用可对行进距离进行补偿,降低位置误差,提高产品检测效果。提高产品检测效果。提高产品检测效果。

【技术实现步骤摘要】
一种LED数码管的光电检测系统及检测方法


[0001]本专利技术涉及数码管检测
,具体为一种LED数码管的光电检测系统及检测方法。

技术介绍

[0002]在LED制造领域,需要对已制造完成的LED数码管进行批量化的生产检测,检测LED数码管的电气性能、功能参数、外观等。对于LED数码管而言,除检测前述性能外,还需要对LED数码管的光性能参数进行检测,目前技术情况下,电子元器件制造过程中的前端工序,如晶片的固定、晶片的焊接等,都已由自动化机器来完成,而电子元器件的检测工序,自动化程度较低,现有技术中对非标准封装的LED数码管大都采用人工检测或者专用设备检测,依靠人工及肉眼观测的检测项目,存在主观性和检测结果的不一致性,同时,这些检测项目对检测人员的技能要求很高,影响检测效率,同时专用设备检测存在着操作复杂以及购入成本高的技术问题。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种LED数码管的光电检测系统及检测方法,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种LED数码管的光电检测系统,包括暗箱、图像获取模块、载具模块、驱动导轨模块、图像处理模块、主控模块、光性能检测模块、电性能检测模块、信息储存模块和驱动数据获取模块,所述暗箱内安装有图像获取模块,所述暗箱下方设置有驱动导轨模块,所述驱动导轨模块上驱动连接有载具模块,所述图像获取模块通过导线电性连接图像处理模块,所述图像处理模块通过数据导线电性连接主控模块,所述主控模块通过导线分别电性连接光性能检测模块、电性能检测模块和驱动导轨模块,所述光性能检测模块、电性能检测模块和图像处理模块均通过导线电性连接信息储存模块。
[0005]优选的,所述驱动导轨模块通过数据导线电性连接驱动数据获取模块,所述驱动数据获取模块通过数据导线与主控模块电性连接。
[0006]优选的,所述图像获取模块包括相机、镜头和光源,所述相机为CCD相机或者CMOS相机。
[0007]优选的,所述驱动导轨模块包括驱动电机、驱动导轨和驱动块,驱动导轨内通过轴承固定安装有螺杆,螺杆外表面螺纹连接驱动块,驱动电机与螺杆固定连接,驱动电机为伺服电机。
[0008]优选的,所述载具模块为LED数码管固定载具,LED数码管固定载具与驱动导轨模块的驱动块固定连接。
[0009]优选的,所述电性能检测模块的电性能信息包括LED数码管的正向电压值、反向漏电值、开路信息、短路信息。
[0010]优选的,所述光性能检测模块的光学性能信息包括LED数码管发光的亮度均匀性、色度均匀性、亮度分档、色度分档、是否漏光、是否有杂质以及是外壳否有划痕等信息。
[0011]优选的,所述驱动数据获取模块与驱动导轨模块的驱动电机电性连接,用于获取驱动电机的转速信息,从而计算出载具模块的行进距离。
[0012]优选的,所述主控模块为主控计算机。
[0013]一种LED数码管的光电检测方法,该方法包括以下步骤:
[0014]S1,将需要进行光电检测的LED数码管放置在载具模块上;
[0015]S2,驱动导轨模块驱动载具模块进行移动,将载具模块驱动至图像获取模块下方;
[0016]S3,图像获取模块的相机对载具模块上的LED数码管进行拍照,完成图像获取;
[0017]S4,图像获取模块将步骤S3拍得的图片信息传输至图像处理模块进行图像处理;
[0018]S5,图像处理模块将处理后的图像信息传输至主控模块;
[0019]S6,主控模块将步骤S5中接收的图像信息分别传输至光性能检测模块和电性能检测模块;
[0020]S7,光性能检测模块和电性能检测模块对数码管的光性能和电性能进行检测,完成光电检测工作,从而判断检测的数码管是否为良品;
[0021]S8,光性能检测模块和电性能检测模块将检测的数据传输至信息储存模块完成数据储存。
[0022]与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:
[0023]本专利技术的检测系统能够通过驱动导轨模块将待测LED数码管自动送入到检测箱体内,无需人工进行操作,具有一定的自动化进料效果;
[0024]通过系统设置的光性能检测模块和电性能检测模块能够自动对LED数码管进行光学性能和电性能的检测,具有自动化光电检测的技术效果;
[0025]本系统对LED数码管光电检测的速度快,准确度高,自动化程度好,且系统的硬件和软件构造打造简单,成本低廉。
[0026]本系统通过驱动数据获取模块可对驱动导轨的行进距离进行检测,从而通过主控模块和驱动导轨模块的配合使用可对行进距离进行补偿,降低位置误差,提高产品检测效果。
附图说明
[0027]图1为本专利技术的整体检测系统功能结构示意图;
[0028]图2为本专利技术的驱动导轨模块结构示意图;
[0029]图3为本专利技术的光电性能表格曲线示意图;
[0030]图4为本专利技术驱动导轨模块驱动电机的指令表示意图。
[0031]图中:1、暗箱;2、图像获取模块;3、载具模块;4、驱动导轨模块;5、图像处理模块;6、主控模块;7、光性能检测模块;8、电性能检测模块;9、信息储存模块;10、驱动数据获取模块。
具体实施方式
[0032]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完
整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0033]请参阅图1

4,本专利技术提供一种技术方案:一种LED数码管的光电检测系统,包括暗箱1、图像获取模块2、载具模块3、驱动导轨模块4、图像处理模块5、主控模块6、光性能检测模块7、电性能检测模块8、信息储存模块9和驱动数据获取模块10,暗箱21用于将全自动LED数码管光电检测系统密闭起来,以保证检测不受外界光影响,暗箱1内安装有图像获取模块2,图像获取模块2用于对待检测的LED数码管进行拍照,完成图像获取工作;
[0034]暗箱1下方设置有驱动导轨模块4,驱动导轨模块4上驱动连接有载具模块3;驱动导轨模块4可完成对载具模块3的自动进料和推料工作,无需人工进行进料操作,使用方便,具有一定的自动化效果。
[0035]图像获取模块2通过导线电性连接图像处理模块5,图像处理模块5通过数据导线电性连接主控模块6,主控模块6通过导线分别电性连接光性能检测模块7、电性能检测模块8和驱动导轨模块4;从而通过主控模块6可完成对光性能检测模块7、电性能检测模块8和驱动导轨模块4综合控制;
[0036]且图像处理模块2对所获取的点亮后的LED数码管的图像信息进行处理,并通过光性能检测模块7获取LED数码管的光学性能信息;电性能测试模块8获取被测LED数码管的电学性能信息,从而完成光电性能检测工作;
[003本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种LED数码管的光电检测系统,其特征在于,包括暗箱(1)、图像获取模块(2)、载具模块(3)、驱动导轨模块(4)、图像处理模块(5)、主控模块(6)、光性能检测模块(7)、电性能检测模块(8)、信息储存模块(9)和驱动数据获取模块(10),所述暗箱(1)内安装有图像获取模块(2),所述暗箱(1)下方设置有驱动导轨模块(4),所述驱动导轨模块(4)上驱动连接有载具模块(3),所述图像获取模块(2)通过导线电性连接图像处理模块(5),所述图像处理模块(5)通过数据导线电性连接主控模块(6),所述主控模块(6)通过导线分别电性连接光性能检测模块(7)、电性能检测模块(8)和驱动导轨模块(4),所述光性能检测模块(7)、电性能检测模块(8)和图像处理模块(5)均通过导线电性连接信息储存模块(9)。2.根据权利要求1所述的一种LED数码管的光电检测系统,其特征在于:所述驱动导轨模块(4)通过数据导线电性连接驱动数据获取模块(10),所述驱动数据获取模块(10)通过数据导线与主控模块(6)电性连接。3.根据权利要求1所述的一种LED数码管的光电检测系统,其特征在于:所述图像获取模块(2)包括相机、镜头和光源,所述相机为CCD相机或者CMOS相机。4.根据权利要求1所述的一种LED数码管的光电检测系统,其特征在于:所述驱动导轨模块(4)包括驱动电机、驱动导轨和驱动块,驱动导轨内通过轴承固定安装有螺杆,螺杆外表面螺纹连接驱动块,驱动电机与螺杆固定连接,驱动电机为伺服电机。5.根据权利要求1所述的一种LED数码管的光电检测系统,其特征在于:所述载具模块(3)为LED数码管固定载具,LED数码管固定载具与驱动导轨模块(4)的驱动块固定连接。6.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员:武永刚
申请(专利权)人:深圳市吉之光电子有限公司
类型:发明
国别省市:

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