一种激光芯片测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种激光芯片测试系统，涉及激光芯片测试技术领域，包括光功率测试设备、光波形测试设备、分束镜、准直镜和电源，其中，所述电源为待测试激光芯片供电，准直镜一侧用于设置待测试激光芯片，准直镜另一侧设有分束镜，所述分束镜的两条输出光路分别设有光功率测试设备和光波形测试设备。同时分别用于测试芯片光波形及光功率，实现芯片光波形及光功率测试同步测试。功率测试同步测试。功率测试同步测试。

【技术实现步骤摘要】
一种激光芯片测试系统


[0001]本技术涉及激光芯片测试
，具体涉及一种激光芯片测试系统。

技术介绍

[0002]分析LIV测试数据可以确定激光器的特性，包括产生激光的临界电流、量子效率和输出的非线性特性，光波形测试系统及方法。LIV测试数据是评估激光器件性能的重要指标。通过LIV测试性能，可以了解激光器件的工作电压，电流及光功率，器件衰减趋势。目前的LIV测试一般使用积分球/光功率计进行测试。而光波形测试则是对激光器上升沿及下降沿性能进行评测，而过慢的上升和下降速度，阻碍了光发射的频率，限制了应用场景和效果。主要测试设备为光波形探测器。以上两个测试内容为激光器评估的主要手段及测试内容。
[0003]对于激光器光波形及光功率测试均为单独设备进行测试。为完整测试样品需要使用两套设备进行测试，测试完其中一项后，需拆卸已测试设备或者是挪动光源进行下一个测试内容，极其不方便且不能保证光型及测试条件为同一环境，影响产品测试准确性。

技术实现思路

[0004]针对测试条件不在同一环境，影响产品测试准确性的技术问题，本技术提供了一种本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光芯片测试系统，其特征在于，包括光功率测试设备、光波形测试设备、分束镜、准直镜和电源，其中，所述电源为待测试激光芯片供电，准直镜一侧用于设置待测试激光芯片，准直镜另一侧设有分束镜，所述分束镜的两条输出光路分别设有光功率测试设备和光波形测试设备。2.根据权利要求1所述的一种激光芯片测试系统，其特征在于，所述光功率测试设备为波形探测器。3.根据权利要求1所述的一种激光芯片测试系统，其特征在于，所述光功率测试设备为光功率计、热功率计和硅光功率计中的一种。4.根据权利要求1所述的一种激光芯片测试系统，其特征在于，所述分束镜的透反率≥9：1。5.根据权利要求1所述的一种激光芯片测试系统，其特征在于，所述分束镜和光波形测试设备之间设有衰减片。...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄蓓，莫庆伟，刘锐，
申请(专利权)人：浙江老鹰半导体技术有限公司，
类型：新型
国别省市：