检查设备和检查系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种检查设备和检查系统。检查设备包括透射成像装置，配置成构建被检查对象的透射图像；和衍射检测装置，配置成检测被检查对象的至少一部分的特性。透射成像装置限定检查通道。检查设备包括直线形轨道，沿横向跨检查通道。衍射检测装置能够沿直线形轨道移动至特定位置检测被检查对象的至少一部分衍射的辐射。部分衍射的辐射。部分衍射的辐射。

【技术实现步骤摘要】
检查设备和检查系统


[0001]本技术涉及安检
具体地，涉及一种检查设备和检查系统。

技术介绍

[0002]目前的安检设备满足不开包或开箱也能够快速检查物品。
[0003]现有的安检设备一般是射线透射成像的方式，较为先进的例如CT检查设备；然后，这类设备仍然存在可以观察大体形状而不能完全确定嫌疑物是否违禁的问题。
[0004]需要更加完善的设备，能够更加确定地判断被检查对象中是否包含违禁物。

技术实现思路

[0005]本技术的一方面提供一种检查设备，包括：
[0006]支架；
[0007]透射成像装置，被所述支架支撑并且配置成构建被检查对象的透射图像；和
[0008]衍射检测装置，被所述支架支撑，
[0009]其中，透射成像装置限定检查通道，被检查对象在检查通道被移动以便被透射成像装置扫描；
[0010]衍射检测装置包括衍射辐射检测器，所述衍射辐射检测器配置成能够在所述支架上沿检查通道的横向移动至特定位置接收经被检查对象的至少一部分衍射的辐射以便检测其特性。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检查设备，其特征在于包括：支架；透射成像装置，被所述支架支撑并且配置成构建被检查对象的透射图像；和衍射检测装置，被所述支架支撑，其中，透射成像装置限定检查通道，被检查对象在检查通道被移动以便被透射成像装置扫描；衍射检测装置包括衍射辐射检测器，所述衍射辐射检测器配置成能够在所述支架上沿检查通道的横向移动至特定位置接收经被检查对象的至少一部分衍射的辐射以便检测其特性。2.根据权利要求1所述的检查设备，其特征在于，所述检查设备包括沿直线延伸的轨道，设置在所述支架上并且配置成沿所述检查通道的延伸方向的横向跨过所述检查通道，其中，所述衍射辐射检测器被所述轨道支撑并且能够沿所述轨道移动以便在特定位置接收并检测经衍射的辐射。3.根据权利要求2所述的检查设备，其特征在于，所述衍射检测装置和所述透射成像装置包括共同的辐射源，配置成朝向被检查对象照射辐射；或所述衍射检测装置和所述透射成像装置包括各自的辐射源，配置成朝向被检查对象照射辐射。4.根据权利要求3所述的检查设备，其特征在于，基于所述透射图像确定被检查对象包含嫌疑物以及嫌疑物在被检查对象上的位置，并且基于嫌疑物的位置，所述衍射辐射检测器被移动至所述特定位置以便接收经所述嫌疑物衍射的辐射以便确定所述嫌疑物部分的特性。5.根据权利要求4所述的检查设备，其特征在于，所述特定位置大体位于所述辐射源和所述嫌疑物的连接线的延长线上。6.根据权利要求2所述的检查设备，其特征在于，所述轨道包括直线导轨，所述衍射辐射检测器包括探测器平移支架，所述衍射辐射检测器通过所述探测器平移支架在所述直线导轨上移动。7.根据权利要求6所述的检查设备，其特征在于还包括编码电机和丝杠，配置成由所述编码电机旋转所述丝杠，以便丝杠驱动所述探测器平移支架沿所述直线导轨移动。8.根据权利要求7所述的检查设备，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈志强，张丽，李元景，黄清萍，冯博，张立国，李桂培，洪明志，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：新型
国别省市：