检查设备和检查系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种检查设备和检查系统。检查设备包括透射成像装置，配置成构建被检查对象的透射图像；和衍射检测装置，配置成检测被检查对象的至少一部分的特性。透射成像装置限定检查通道。检查设备包括直线形轨道，沿横向跨检查通道。衍射检测装置能够沿直线形轨道移动至特定位置检测被检查对象的至少一部分衍射的辐射。部分衍射的辐射。部分衍射的辐射。

【技术实现步骤摘要】
检查设备和检查系统


[0001]本技术涉及安检
具体地，涉及一种检查设备和检查系统。

技术介绍

[0002]目前的安检设备满足不开包或开箱也能够快速检查物品。
[0003]现有的安检设备一般是射线透射成像的方式，较为先进的例如CT检查设备；然后，这类设备仍然存在可以观察大体形状而不能完全确定嫌疑物是否违禁的问题。
[0004]需要更加完善的设备，能够更加确定地判断被检查对象中是否包含违禁物。

技术实现思路

[0005]本技术的一方面提供一种检查设备，包括：
[0006]支架；
[0007]透射成像装置，被所述支架支撑并且配置成构建被检查对象的透射图像；和
[0008]衍射检测装置，被所述支架支撑，
[0009]其中，透射成像装置限定检查通道，被检查对象在检查通道被移动以便被透射成像装置扫描；
[0010]衍射检测装置包括衍射辐射检测器，所述衍射辐射检测器配置成能够在所述支架上沿检查通道的横向移动至特定位置接收经被检查对象的至少一部分衍射的辐射以便检测其特性。
[0011]在一个实施例中，所述检查设备包括沿直线延伸的轨道，设置在所述支架上并且配置成沿所述检查通道的延伸方向的横向跨过所述检查通道，
[0012]其中，所述衍射辐射检测器被所述轨道支撑并且能够沿所述轨道移动以便在特定位置接收并检测经衍射的辐射。
[0013]在一个实施例中，所述衍射检测装置和所述透射成像装置包括共同的辐射源，配置成朝向被检查对象照射辐射；或r/>[0014]所述衍射检测装置和所述透射成像装置包括各自的辐射源，配置成朝向被检查对象照射辐射。
[0015]在一个实施例中，基于所述透射图像确定被检查对象包含嫌疑物以及嫌疑物在被检查对象上的位置，并且基于嫌疑物的位置，所述衍射辐射检测器被移动至所述特定位置以便接收经所述嫌疑物衍射的辐射以便确定所述嫌疑物部分的特性。
[0016]在一个实施例中，所述特定位置大体位于所述辐射源和所述嫌疑物的连接线的延长线上。
[0017]在一个实施例中，所述轨道包括直线导轨，所述衍射辐射检测器包括探测器平移支架，所述衍射辐射检测器通过所述探测器平移支架在所述直线导轨上移动。
[0018]在一个实施例中，检查设备还包括编码电机和丝杠，配置成由所述编码电机旋转所述丝杠，以便丝杠驱动所述探测器平移支架沿所述直线导轨移动。
[0019]在一个实施例中，所述衍射辐射检测器包括安装在所述探测器平移支架上的枢转轴，和安装在所述枢转轴上通过所述枢转轴支撑的探测器座，所述探测器座配置成通过所述枢转轴的旋转能够相对于所述探测器平移支架转动，从而调节所述衍射辐射检测器的位姿。
[0020]在一个实施例中，所述衍射辐射检测器包括安装在所述探测器平移支架上的调节电机，所述枢转轴包括调节件，所述调节电机与所述调节件接合以便通过所述调节件驱动所述枢转轴转动预定角度。
[0021]在一个实施例中，所述调节电机配置有驱动齿轮，所述调节件配置为与所述驱动齿轮啮合。
[0022]在一个实施例中，所述探测器座通过枢转轴被旋转，使得衍射辐射检测器的衍射辐射接收面朝向与辐射源接收经衍射的辐射。
[0023]在一个实施例中，所述透射成像装置包括透射辐射检测器，配置成接收透射通过被检查对象的辐射以便能够构建被检查对象的透射图像，所述透射辐射检测器包括多个检测单元，所述多个检测单元沿两排布置，并且每一排上的检测单元相互间隔开，并且两排的检测单元相对于辐射的投射方向构成连续的接收面。
[0024]在一个实施例中，位于两排的相邻的检测单元相对于辐射的投射方向具有重叠。
[0025]在一个实施例中，所述透射辐射检测器沿直线布置。
[0026]根据本技术的一方面提供一种检查系统，包括：
[0027]CT检查部，包括CT机，用于检查被检查对象是否包含嫌疑物品；和
[0028]复检部，包括以上述的检查设备，用于识别所述嫌疑物品的成分。
[0029]在一个实施例中，其中经所述CT检查部检查后，不包含嫌疑物的被检查对象被放行，包含嫌疑物的被检查对象被传送至所述复检部。
附图说明
[0030]附图用于更好地理解本方案，不构成对本技术的限定，其中：
[0031]图1示出了根据本技术的实施例的检查设备的正面示意图。
[0032]图2示出了根据本技术的实施例的检查设备的侧面示意图。
具体实施方式
[0033]为更清楚地阐述本技术的目的、技术方案及优点，以下将结合附图对本技术的实施例进行详细的说明。应当理解，下文对于实施例的描述旨在对本技术的总体构思进行解释和说明，而不应当理解为是对本技术的限制。在说明书和附图中，相同或相似的附图标记指代相同或相似的部件或构件。为了清晰起见，附图不一定按比例绘制，并且附图中可能省略了一些公知部件和结构。
[0034]除非另外定义，本技术使用的技术术语或者科学术语应当为本技术所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本技术中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。措词“一”或“一个”不排除多个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连
接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”“顶”或“底”等等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。当诸如层、膜、区域或衬底基板之类的元件被称作位于另一元件“上”或“下”时，该元件可以“直接”位于另一元件“上”或“下”，或者可以存在中间元件。
[0035]本技术公开一种检查设备，包括透射成像装置和衍射检测装置。透射成像装置配置成朝向被检查对象照射辐射并通过检查透射辐射而构建被检查对象的透射图像。衍射检测装置配置成朝向被检查对象照射辐射并通过检查从被检查对象衍射的辐射而检测被检查对象的至少一部分的特性。在本实施例中，透射成像装置限定检查通道，被检查对象可以通过检查通道被透射成像装置扫描。衍射检测装置可以沿检查通道的延伸方向的横向移动，例如移动至特定位置检测衍射辐射。在本技术中，衍射检测装置可以移动到一个特定位置处完成衍射辐射的测量，因而不需要(横向)跨检查通道布置一排衍射检测探测器，这大大减小设备的成本。在本实施例中，衍射检测装置包括衍射辐射检测器，衍射检测装置能够移动至特定位置可以指的是衍射辐射检测器能够移动至特定位置接收经衍射的辐射，从而检测被检查对象的至少一部分衍射的辐射。
[0036]在一个实施例中，透射成像装置包括透射辐射检测器，配置成接收透射通过被检查对象的辐射以便能够构建被检查对象的透本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检查设备，其特征在于包括：支架；透射成像装置，被所述支架支撑并且配置成构建被检查对象的透射图像；和衍射检测装置，被所述支架支撑，其中，透射成像装置限定检查通道，被检查对象在检查通道被移动以便被透射成像装置扫描；衍射检测装置包括衍射辐射检测器，所述衍射辐射检测器配置成能够在所述支架上沿检查通道的横向移动至特定位置接收经被检查对象的至少一部分衍射的辐射以便检测其特性。2.根据权利要求1所述的检查设备，其特征在于，所述检查设备包括沿直线延伸的轨道，设置在所述支架上并且配置成沿所述检查通道的延伸方向的横向跨过所述检查通道，其中，所述衍射辐射检测器被所述轨道支撑并且能够沿所述轨道移动以便在特定位置接收并检测经衍射的辐射。3.根据权利要求2所述的检查设备，其特征在于，所述衍射检测装置和所述透射成像装置包括共同的辐射源，配置成朝向被检查对象照射辐射；或所述衍射检测装置和所述透射成像装置包括各自的辐射源，配置成朝向被检查对象照射辐射。4.根据权利要求3所述的检查设备，其特征在于，基于所述透射图像确定被检查对象包含嫌疑物以及嫌疑物在被检查对象上的位置，并且基于嫌疑物的位置，所述衍射辐射检测器被移动至所述特定位置以便接收经所述嫌疑物衍射的辐射以便确定所述嫌疑物部分的特性。5.根据权利要求4所述的检查设备，其特征在于，所述特定位置大体位于所述辐射源和所述嫌疑物的连接线的延长线上。6.根据权利要求2所述的检查设备，其特征在于，所述轨道包括直线导轨，所述衍射辐射检测器包括探测器平移支架，所述衍射辐射检测器通过所述探测器平移支架在所述直线导轨上移动。7.根据权利要求6所述的检查设备，其特征在于还包括编码电机和丝杠，配置成由所述编码电机旋转所述丝杠，以便丝杠驱动所述探测器平移支架沿所述直线导轨移动。8.根据权利要求7所述的检查设备，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈志强，张丽，李元景，黄清萍，冯博，张立国，李桂培，洪明志，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：新型
国别省市：