芯片存储装置设计及验证方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本申请实施例公开了一种芯片存储装置设计及验证方法、装置及电子设备。该方法包括：获取预先从芯片设计文档中提取的存储装置信息表,存储装置信息表包括按照预设表格位置存储的参数信息；根据预设表格位置与参数信息的映射关系，对存储装置信息表中各存储装置的参数信息进行转换，得到存储装置参数模型；根据存储装置参数模型生成存储装置对应的设计代码和验证模型，并基于设计代码实现对芯片存储装置的设计，基于验证模型对芯片存储装置进行验证。避开了人工的重复性操作，且所依据的是一份芯片设计文档，避免了设计与验证过程信息不对等导致的验证无效的情况。对等导致的验证无效的情况。对等导致的验证无效的情况。

【技术实现步骤摘要】
芯片存储装置设计及验证方法、装置及电子设备


[0001]本申请实施例涉及芯片设计
，尤其涉及一种芯片存储装置设计及验证方法、装置及电子设备。

技术介绍

[0002]目前，很多行业的产品设备都会设置芯片，从而完成一些智能化的工作，随着人们对于智能化的需求越来越高，芯片产品设备的结构中越来越重要。
[0003]一般，芯片设计过程中，需要进行设计和验证，其中，在设计过程中，设计人员需要人工对设计文档中的所有存储装置编写与总线进行交互的寄存器转换级(Register Transfer Level，RTL)代码，验证人员需要人工对设计文档中的所有存储装置设置相应的寄存器模型。
[0004]这两个过程中，会面对大量的存储装置，因此，这些工作都是具有重复性的人工工作，可能会带来较多不确定性的错误。而且在设计需求发生改变时，需要对设计文档进行修改，一方面，设计人员和验证人员都需要对RTL代码和寄存器模型进行相应的修改，这种方式会增加发生错误的可能性；另一方面，需要对设计人员和验证人员的设计文档进行同步更新，而设计人员和验证人员之间可能存在信息差，在有修改后，所依据的设计文档可能会是不同版本的，导致验证过程变为无用功，浪费资源。

技术实现思路

[0005]本申请实施例提供一种芯片存储装置设计及验证方法、装置及电子设备，以降低芯片存储装置设计及验证过程中的人工操作以及出错几率。
[0006]第一方面，本申请实施例提供了一种芯片存储装置设计及验证方法，所述方法包括：
[0007]获取预先从芯片设计文档中提取的存储装置信息表,所述存储装置信息表包括按照预设表格位置存储的参数信息；
[0008]根据预设表格位置与参数信息的映射关系，对所述存储装置信息表中各存储装置的参数信息进行转换，得到存储装置参数模型；
[0009]根据所述存储装置参数模型生成所述存储装置对应的设计代码和验证模型，并基于所述设计代码实现对芯片存储装置的设计，基于所述验证模型对所述芯片存储装置进行验证。
[0010]第二方面，本申请实施例还提供了一种芯片存储装置设计及验证装置，该芯片存储装置设计及验证装置包括：
[0011]获取模块，用于获取预先从芯片设计文档中提取的存储装置信息表,所述存储装置信息表包括按照预设表格位置存储的参数信息；
[0012]转换模块，用于根据预设表格位置与参数信息的映射关系，对所述存储装置信息表中各存储装置的参数信息进行转换，得到存储装置参数模型；
[0013]设计及验证模块，用于根据所述存储装置参数模型生成所述存储装置对应的设计代码和验证模型，并基于所述设计代码实现对芯片存储装置的设计，基于所述验证模型对所述芯片存储装置进行验证。
[0014]第三方面，本申请实施例还提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
[0015]一个或多个处理器；
[0016]存储装置，用于存储一个或多个程序，
[0017]当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如本申请任一实施例提供的芯片存储装置设计及验证方法。
[0018]第四方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如本申请任一实施例提供的芯片存储装置设计及验证方法。
[0019]本申请实施例的技术方案通过对从芯片设计文档中预先提取的存储装置信息表进行转换，得到存储装置参数模型，然后基于该存储装置参数模型生成相应的设计代码和验证模型，从而实现对芯片存储装置的设计以及验证，该过程利用生成的存储装置参数模型，避开了人工的重复性操作，转由机器来自动进行，且所依据的是一份芯片设计文档，无论芯片设计文档如何改变，设计代码和验证模型生成所依据的均是同一份芯片设计文档，避免了设计与验证过程信息不对等导致的验证无效的情况。
附图说明
[0020]图1为本申请实施例一提供的芯片存储装置设计及验证方法的流程示意图；
[0021]图2是本申请的实施例二提供的一种对存储装置信息表进行转换的流程示意图；
[0022]图3是本申请的实施例三提供的一种生成设计代码的流程示意图；
[0023]图4为本申请的实施例四提供的一种生成验证模型的流程示意图；
[0024]图5是本申请的实施例五提供的一种芯片存储装置设计及验证方法的流程示意图；
[0025]图6为本申请实施例六提供的一种芯片存储装置设计及验证装置的结构示意图；
[0026]图7为本申请实施例七提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0027]下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本申请，而非对本申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结构。
[0028]实施例一
[0029]图1为本申请实施例一提供的芯片存储装置设计及验证方法的流程示意图，本实施例可适用于芯片存储装置设计及验证的场景。该方法可以由芯片存储装置设计及验证装置来执行，该装置可采用硬件和/或软件的方式实现,并一般可以集成在具有数据运算能力的计算机等电子设备中，具体包括如下步骤：
[0030]步骤101、获取预先从芯片设计文档中提取的存储装置信息表,存储装置信息表包括按照预设表格位置存储的参数信息。
[0031]本步骤中，预先从芯片设计文档中提取存储装置信息表的过程可以由人工来实现，一般，设计文档中会针对一些功能模块进行设计，而功能模块中会存在大量的存储装置，即寄存器和存储器，设计文档中会标明各存储装置的参数信息，由于设计文档的文档格式在不同公司甚至是不同项目中，都会有所不同，设计文档中记录存储装置的参数信息的方式也会有所不同，因此，为了提高本实施例方案的普适性，可以先由人工从芯片设计文档中提取存储装置的参数信息，并按照一定的预设表格位置存储相应的参数信息，形成存储装置信息表。
[0032]在一个具体的例子中，存储装置信息表可以如下表1所示：
[0033]表1
[0034][0035]其中，REGISTER作为每个寄存器的开始标志；对应的第一行中的第二列中的括号的为该寄存器的名字；第二行作为该寄存器的地址信息，第二列的冒号之后的数据为该寄存器在基地址的基础上的偏移量。第三行为对应的位域信息，其中第二列为对应每一个field域的位宽和地址信息；第三列为寄存器最小单元域的名字；第四列为读写属性的描述，必须要符合寄存器的读写的规则；第五列为对应的复位值；第六列为对应的该最小单元的描述。
[0036]另外，需要说明的是，从芯片设计文档到存储装置信息表的过程，不限于上述提到的人工方式，由于大部分芯片设计文档中存储装置的参数信息存储的比较具有规律性，本实施例还可以通过文本识别模型，按照存储装置信息表中的单元格定义，从芯片设计文档中识别相应的信息，并填入对应的单元格中。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
Spec2Reg工具。8.一种芯片存储装置设计及验证装置，其特征在于，所述装置包括：获取模块，用于获取预先从芯片设计文档中提取的存储装置信息表,所述存储装置信息表包括按照预设表格位置存储的参数信息；转换模块，用于根据预设表格位置与参数信息的映射关系，对所述存储装置信息表中各存储装置的参数信息进行转换，得到存储装置参数模型；设计及验证模块，用于根据所述存储装置参数模型生成所述存储装置对应的设计代码和验证模型，并基于所述设计代码实现对芯片存储装置的设计，基于所述验证模型对...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗力川，葛子毓，赵双妹，苏国彬，刘迪军，
申请(专利权)人：宸芯科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：