一种ATEDPS板卡制造技术

本实用新型专利技术公开了一种ATE DPS板卡，包括电源模块、DPS芯片、FPGA和DDR内存，所述DPS芯片包括若干个采样通道，所述电源模块为若干个采样通道提供电源，所述FPGA分别有所述DDR内存和DPS芯片连接，本实用新型专利技术实现了8通道的芯片电源供应，同时每通道带电流测量；采用了高精度1MHz的采样ADC，以及使用DDR缓存测量采样数据，实现了高精度，高速的DUT电压电流参数测量，同时可大量采集测量参数，可实现DUT长时间工作下的电源变化测量需求。工作下的电源变化测量需求。工作下的电源变化测量需求。

【技术实现步骤摘要】
一种ATE DPS板卡


[0001]本技术涉及ATE DPS板卡领域，更具体地，涉及一种8通道4象限ATE DPS板卡。

技术介绍

[0002]DPS(Device Power Supply)板卡是一种ATE(Automatic Test Equipment)里面常用的板卡，此板卡可为DUT(Device Under Test)提供电源并测量DUT的电压电流参数。市面上现有的一般DPS板卡不能连续采集大量参数，采样速率一般也为100KHz左右。

技术实现思路

[0003]针对现有技术存在的不足，本技术实施例的目的在于提供一种ATE DPS板卡，提供了一种最高1MHz采样率，最大样点数500万的四象限DPS板卡。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0005]一种ATE DPS板卡，包括电源模块、DPS芯片、FPGA和DDR内存，所述DPS芯片包括若干个采样通道，所述电源模块为若干个采样通道提供电源，所述FPGA分别有所述DDR内存和DPS芯片连接。
[0006]作为本技术进一步的方案，所述DPS芯片包括8个采样通道，每个采样通道包括AD5560主芯片和1MHz ADC采样芯片，所述FPGA通过控制总线分别与每个通道的AD5560主芯片连接，通过采样总线分别与每个通道的1MHzADC采样芯片连接。
[0007]作为本技术进一步的方案，所述电源模块包括HCAVDD模块、HCAVSS模块、AVDD模块和AVSS模块，所述HCAVDD模块为AD5560主芯片提供大电流正向电，所述HCAVSS模块为AD5560主芯片提供大电流负向电源，所述AVDD模块为AD5560主芯片提供小电流正向电源，所述AVSS模块为AD5560主芯片提供小电流正负向电源。
[0008]作为本技术进一步的方案，所述FPGA为zynq7020 FPGA，所述AD5560主芯片为ADI的AD5560芯片。
[0009]作为本技术进一步的方案，所述HCAVDD模块采用LT3864作为DCDC控制器，所述HCAVSS模块采用LT3863作为DCDC控制器，所述AVDD模块采用LT3864作为DCDC控制器，所述AVSS模块采用LT3863作为DCDC控制器。
[0010]作为本技术进一步的方案，所述DDR内存位于zynq7000核心板上，所述DDR内存采用1Gbit DDR3。
[0011]作为本技术进一步的方案，还包括24V电压输入端，所述24V电压输入端与所述电源模块连接；输出端口，所述输出端口与所述DDR内存连接。
[0012]本技术具有以下有益效果：实现了8通道的芯片电源供应，同时每通道带电流测量；采用了高精度1MHz的采样ADC，以及使用DDR缓存测量采样数据，实现了高精度，高速的DUT电压电流参数测量，同时可大量采集测量参数，可实现DUT长时间工作下的电源变化测量需求。
[0013]为更清楚地阐述本技术的结构特征和功效，下面结合附图与具体实施例来对
本技术进行详细说明。
附图说明
[0014]图1为本技术提供的HCAVDD模块的电路图。
[0015]图2为本技术提供的HCAVSS模块的电路图。
[0016]图3为本技术提供的AVDD模块的电路图。
[0017]图4为本技术提供的AVSS模块的电路图。
[0018]图5是本技术提供的DPS芯片的电路图。
[0019]图6是本技术提供的设计输出范围示意图。
[0020]图7是本技术提供的底板设计示意图。
[0021]图8是本技术提供的模块示意图。
具体实施方式
[0022]下面将结合附图和有关知识对本技术作出进一步的说明，进行清楚、完整地描述，显然，所描述的应用仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0023]一种ATE DPS板卡，参照图8所示，本技术提供了一种最高1MHz采样率，最大样点数500万的四象限DPS板卡，可以解决市面上现有的一般DPS板卡不能连续采集大量参数，采样速率一般也为100KHz左右的问题；具体包括电源模块、DPS芯片、FPGA和DDR内存，DPS芯片包括若干个采样通道，电源模块为若干个采样通道提供电源，FPGA分别有DDR内存和DPS芯片连接，其中每个通道均采用1MHz采样率16bit ADC，实现了各通道采样率可调，测量精度高的特点，使用DDR缓存测量采样数据，实现了可测量DUT电源的动态特征。
[0024]参照图7
‑
图8所示，DPS芯片包括8个采样通道，每个采样通道包括AD5560主芯片和1MHz ADC采样芯片，FPGA通过控制总线分别与每个通道的AD5560主芯片连接，通过采样总线分别与每个通道的1MHz ADC采样芯片连接。可以实现测量采样率高，且可变。采样ADC的采样时钟由FPGA供给，此时钟范围0Hz
‑
1MHz。
[0025]本技术测量采样点数大，通过FPGA读取ADC的数值后将存放在DDR内存里，每通道最大样点数>1M。测量精度高，测量ADC采用的是16bit ADC,市面上常见的DPS板卡一般为10
‑
14bit adc,精度为1
‰‑5‰
，本技术理论精度0.5
‰
.而且可以支持输出任意并联，并联时输出电压范围不变，电流范围为单通道范围乘以并联通道数。
[0026]以及参照图7所示，本技术的底板设计主要是使用了可拆卸式子板，实现了8通道的芯片电源供应，同时每通道带电流测量。
[0027]本技术主要采用了高精度1MHz的采样ADC，且使用DDR缓存测量采样数据，实现了高精度，高速的DUT电压电流参数测量，同时可大量采集测量参数，可实现DUT长时间工作下的电源变化测量需求。
[0028]具体实现方式如下：
[0029]本技术中，参照图7所示，AD5560芯片需要四个电源模块供应，分别是大电流低正压HCAVDD模块，大电流低负压HCAVSS模块，小电流正高压AVDD模块，小电流负高压AVSS模块，这四个电源模块和AD5560主芯片通过DPS板卡的PCB相互连接。
[0030]进一步，本技术选用ADI的AD5560芯片作为主芯片，选用LTC2378作为采样
ADC，选用zynq7020 FPGA作为控制器；
[0031]电源模块包括HCAVDD模块、HCAVSS模块、AVDD模块和AVSS模块；其中，HCAVDD模块为AD5560主芯片提供大电流正向电，参照图1所示，采用LT3864作为DCDC控制器，输入电压24V，输出电压10V，电流可到10A；
[0032]HCAVSS模块为AD5560主芯片提供大电流负向电源，参照图2所示，采用LT3863作为DCDC控制器，输本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种ATE DPS板卡，其特征在于，包括电源模块、DPS芯片、FPGA和DDR内存，所述DPS芯片包括若干个采样通道，所述电源模块为若干个采样通道提供电源，所述FPGA分别有所述DDR内存和DPS芯片连接。2.如权利要求1所述的一种ATE DPS板卡，其特征在于，所述DPS芯片包括8个采样通道，每个采样通道包括AD5560主芯片和1MHz ADC采样芯片，所述FPGA通过控制总线分别与每个通道的AD5560主芯片连接，通过采样总线分别与每个通道的1MHz ADC采样芯片连接。3.如权利要求2所述的一种ATE DPS板卡，其特征在于，所述电源模块包括HCAVDD模块、HCAVSS模块、AVDD模块和AVSS模块，所述HCAVDD模块为AD5560主芯片提供大电流正向电，所述HCAVSS模块为AD5560主芯片提供大电流负向电源，所述AVDD模块为AD5560主芯片提供小电流正向电源，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘安超，戴进，
申请(专利权)人：长沙驰芯半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：