钻孔机及其精度补偿方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种钻孔机及其精度补偿方法、装置及存储介质，其中精度补偿方法包括：获取经钻孔机钻孔后的加工板的孔位检测数据；根据孔位检测数据获取加工板的涨缩系数；根据涨缩系数对钻孔机的光栅尺进行补偿。由此，不仅能够有效降低对光栅尺进行补偿的复杂性，而且成本低。成本低。成本低。

【技术实现步骤摘要】
钻孔机及其精度补偿方法、装置及存储介质


[0001]本专利技术涉及钻孔
，尤其涉及一种钻孔机及其精度补偿方法、精度补偿装置及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]钻孔机在PCB(Printed Circuit Board，印制电路板)板上进行钻孔时，由于光栅尺本身存在涨缩，导致PCB板精度偏低。为了减少光栅尺涨缩对PCB板精度的影响，需要对光栅尺进行补偿。
[0003]相关技术中，采用干涉仪对钻孔机进行校准，以补偿光栅尺涨缩对PCB板钻孔精度的影响，然而使用干涉仪质量重，携带不方便，价格昂贵，且对使用人员要求高，导致补偿存在复杂性高、成本高的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的第一个目的在于提出一种钻孔机的精度补偿方法，不仅能够有效降低对光栅尺进行精度补偿的复杂性，而且成本低。
[0005]本专利技术的第二个目的在于提出一种计算机可读存储介质。
[0006]本专利技术的第三个目的在于提出一种钻孔机。
[0007]本专利技术的第四个目的在于提出一种钻孔机的精度补偿装置。
[0008]为达到上述目的，本专利技术第一方面实施例提出了一种钻孔机的精度补偿方法，该方法包括：获取经钻孔机钻孔后的加工板的孔位检测数据；根据孔位检测数据获取加工板的涨缩系数；根据涨缩系数对钻孔机的光栅尺进行补偿。
[0009]根据本专利技术实施例的钻孔机的精度补偿方法，通过获取经钻孔机钻孔后的加工板的孔位检测数据，并根据孔位检测数据获取加工板的涨缩系数，以及根据涨缩系数对钻孔机的光栅尺进行补偿，不仅能够有效降低对光栅尺进行精度补偿的复杂性，而且成本低。
[0010]根据本专利技术的一个实施例，获取经钻孔机钻孔后的加工板的孔位检测数据，包括：通过光学检测设备获取经钻孔机钻孔后的加工板的孔位检测数据，孔位检测数据包括n个孔位中每个孔位的实际坐标和实际坐标与理论坐标之间的偏移量。
[0011]根据本专利技术的一个实施例，根据孔位检测数据获取加工板的涨缩系数，包括：获取每个孔位的X方向实际坐标和X方向偏移量；根据每个孔位的X方向偏移量获取n个孔位的X方向平均偏移量；根据每个孔位的X方向实际坐标以及每个孔位的X方向偏移量与X方向平均偏移量之间的差值，进行直线拟合运算，得到X方向涨缩系数。
[0012]根据本专利技术的一个实施例，根据孔位检测数据获取加工板的涨缩系数，还包括：获取每个孔位的Y方向实际坐标和Y方向偏移量；根据每个孔位的Y方向偏移量获取n个孔位的Y方向平均偏移量；根据每个孔位的Y方向实际坐标以及每个孔位的Y方向偏移量与Y方向平均偏移量之间的差值，进行直线拟合运算，得到Y方向涨缩系数。
[0013]根据本专利技术的一个实施例，X方向涨缩系数和Y方向涨缩系数均为直线拟合运算后获得的直线斜率。
[0014]根据本专利技术的一个实施例，根据涨缩系数对钻孔机的光栅尺进行补偿，包括：根据X方向涨缩系数对光栅尺在X方向上的至少两个位置点进行补偿得到至少两个X方向补偿值，并根据至少两个X方向补偿值对X方向上的剩余位置点进行线性补偿；根据Y方向涨缩系数对光栅尺在Y方向上的至少两个位置点进行补偿得到至少两个Y方向补偿值，并根据至少两个Y方向补偿值对Y方向上的剩余位置点进行线性补偿。
[0015]根据本专利技术的一个实施例，将X方向涨缩系数与X方向上的至少两个位置点中的每个位置点相乘，得到至少两个X方向补偿值；将Y方向涨缩系数与Y方向上的至少两个位置点中的每个位置点相乘，得到至少两个Y方向补偿值。
[0016]为达到上述目的，本专利技术第二方面实施例提出了一种计算机可读存储介质，该钻孔机的精度补偿程序被处理器执行时实现上述的钻孔机的精度补偿方法。
[0017]根据本专利技术实施例的计算机可读存储介质，通过获取经钻孔机钻孔后的加工板的孔位检测数据，并根据孔位检测数据获取加工板的涨缩系数，以及根据涨缩系数对钻孔机的光栅尺进行补偿，不仅能够有效降低对光栅尺进行精度补偿的复杂性，而且成本低。
[0018]为达到上述目的，本专利技术第三方面实施例提出了一种钻孔机，该钻孔机包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的钻孔机的精度补偿程序，处理器执行程序时，实现上述的钻孔机的精度补偿方法。
[0019]根据本专利技术实施例的钻孔机，通过获取经钻孔机钻孔后的加工板的孔位检测数据，并根据孔位检测数据获取加工板的涨缩系数，以及根据涨缩系数对钻孔机的光栅尺进行补偿，不仅能够有效降低对光栅尺进行精度补偿的复杂性，而且成本低。
[0020]为达到上述目的，本专利技术第四方面实施例提出了一种钻孔机的精度补偿装置。该钻孔机的补偿装置包括：第一获取模块，用于获取经钻孔机钻孔后的加工板的孔位检测数据；第二获取模块，用于根据孔位检测数据获取加工板的涨缩系数；补偿模块，用于根据涨缩系数对钻孔机的光栅尺进行补偿。
[0021]根据本专利技术实施例的钻孔机的精度补偿装置，通过第一获取模块获取经钻孔机钻孔后的加工板的孔位检测数据，并通过第二获取模块根据孔位检测数据获取加工板的涨缩系数，以及通过补偿模块根据涨缩系数对钻孔机的光栅尺进行补偿，不仅能够有效降低对光栅尺进行精度补偿的复杂性，而且成本低。
[0022]本专利技术附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
附图说明
[0023]图1为根据本专利技术一个实施例的钻孔机的精度补偿方法的流程图；
[0024]图2为根据本专利技术一个实施例的获取加工板的涨缩系数的流程图；
[0025]图3为根据本专利技术另一个实施例的获取加工板的涨缩系数的流程图；
[0026]图4为根据本专利技术另一个实施例的钻孔机的结构框图；
[0027]图5为根据本专利技术一个实施例的钻孔机的精度补偿装置的结构框图。
具体实施方式
[0028]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0029]下面参考附图描述本专利技术实施例提供的钻孔机、钻孔机的精度补偿方法、钻孔机的精度补偿装置和计算机可读存储介质。
[0030]图1为根据本专利技术一个实施例的钻孔机的精度补偿方法的流程图，参考图1所示，该钻孔机的精度补偿方法可以包括以下步骤：
[0031]步骤S101：获取经钻孔机钻孔后的加工板的孔位检测数据。
[0032]具体来说，在PCB板的加工过程中，需要通过钻孔机对其进行钻孔，在具体示例中，钻孔机可以包括床身、固定于床身的横梁，沿Y向可运动的设于床身上的工作台、沿X向可运动的设于横梁上的主轴模块、用于在X方向上测量的X方向光栅尺和用于在Y方向上测量的Y方向光栅尺。在钻孔时，可以将待钻孔板固定在钻孔机的工作台上，并通过工作台、主轴模块和光栅尺在待钻孔本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种钻孔机的精度补偿方法，其特征在于，所述方法包括：获取经所述钻孔机钻孔后的加工板的孔位检测数据；根据所述孔位检测数据获取所述加工板的涨缩系数；根据所述涨缩系数对所述钻孔机的光栅尺进行补偿。2.根据权利要求1所述的钻孔机的精度补偿方法，其特征在于，所述获取经所述钻孔机钻孔后的加工板的孔位检测数据，包括：通过光学检测设备获取经所述钻孔机钻孔后的加工板的孔位检测数据，所述孔位检测数据包括n个孔位中每个孔位的实际坐标和实际坐标与理论坐标之间的偏移量。3.根据权利要求2所述的钻孔机的精度补偿方法，其特征在于，所述根据所述孔位检测数据获取所述加工板的涨缩系数，包括：获取所述每个孔位的X方向实际坐标和X方向偏移量；根据所述每个孔位的X方向偏移量获取所述n个孔位的X方向平均偏移量；根据所述每个孔位的X方向实际坐标以及所述每个孔位的X方向偏移量与所述X方向平均偏移量之间的差值，进行直线拟合运算，得到X方向涨缩系数。4.根据权利要求3所述的钻孔机的精度补偿方法，其特征在于，所述根据所述孔位检测数据获取所述加工板的涨缩系数，还包括：获取所述每个孔位的Y方向实际坐标和Y方向偏移量；根据所述每个孔位的Y方向偏移量获取所述n个孔位的Y方向平均偏移量；根据所述每个孔位的Y方向实际坐标以及所述每个孔位的Y方向偏移量与所述Y方向平均偏移量之间的差值，进行直线拟合运算，得到Y方向涨缩系数。5.根据权利要求4所述的钻孔机的精度补偿方法，其特征在于，所述X方向涨缩系数和所述Y方向涨缩系数均为直线拟合运算后获得的直线斜率。6.根据权利要求4或5所述的钻孔机的精度补...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱林林，管凌乾，
申请(专利权)人：苏州维嘉科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：