主轴校准方法、电路板加工方法及系统技术方案

技术编号:41741244 阅读:23 留言:0更新日期:2024-06-19 13:01
本申请公开了一种主轴校准方法、电路板加工方法及系统,属于电路板制造技术领域,该主轴校准方法包括:将电路板加工设备的一个主轴移动到检测位置,获取主轴在检测位置时的位置坐标;将电路板加工设备的另一个主轴移动到检测位置,获取主轴在检测位置时的位置坐标;基于两个主轴的位置坐标,判断两个主轴的同心度是否超出同心度阈值;当超出同心度阈值时,对两个主轴进行同心度补偿。该主轴校准方法测量两个主轴的同心度,当超出同心度阈值时,对两个主轴进行同心度补偿,以确保两个主轴的加工中心坐标一致,从而可以通过两个主轴同步加工一块电路板,保障加工的精度,提升加工的效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于电路板制造,具体涉及一种主轴校准方法、电路板加工方法及系统


技术介绍

1、为提高加工效率和板子利用率,在pcb(printed circuit board印刷电路板)加工时,一块pcb整板上通常排布有多组阵列的线路图,且排布越来越密。传统加工是采用每个轴加工一个区域的方式,效率相对较低,而采用多轴同步加工,加工精度又难以保障。


技术实现思路

1、专利技术目的:本申请实施例提供一种主轴校准方法,旨在克服目前采用多轴同步加工电路板,加工精度难以保障的技术问题;本申请实施例的另一目的是提供一种电路板加工方法;本申请实施例的第三个目的是提供一种电路板加工系统。

2、技术方案:本申请实施例所述的一种主轴校准方法,包括:

3、将电路板加工设备的一个主轴移动到检测位置,获取所述主轴在所述检测位置时的位置坐标;

4、将所述电路板加工设备的另一个所述主轴移动到所述检测位置,获取所述主轴在所述检测位置时的位置坐标;

5、基于两个所述主轴的所述位置坐标,判断两个所述主轴的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种主轴校准方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的主轴校准方法,其特征在于,对两个所述主轴进行同心度补偿包括:

3.根据权利要求1或2所述的主轴校准方法,其特征在于,对两个所述主轴进行同心度补偿包括:

4.根据权利要求3所述的主轴校准方法,其特征在于,所述多个孔在所述电路板上呈阵列排布;

5.根据权利要求3所述的主轴校准方法,其特征在于,采用孔位检测仪对所述电路板的所述多个孔进行所述光学检测。

6.根据权利要求1所述的主轴校准方法,其特征在于,所述主轴校准方法还包括:

7.根据权利要求1所述的主轴校准...

【技术特征摘要】

1.一种主轴校准方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的主轴校准方法,其特征在于,对两个所述主轴进行同心度补偿包括:

3.根据权利要求1或2所述的主轴校准方法,其特征在于,对两个所述主轴进行同心度补偿包括:

4.根据权利要求3所述的主轴校准方法,其特征在于,所述多个孔在所述电路板上呈阵列排布;

5.根据权利要求3所述的主轴校准方法,其特征在于,采用孔位检测仪对所述电路板的所述多个孔进行所述光学检测。

6.根据权利要求1所述的主轴校准方法,其特征在于,所...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄齐齐丁舟航黄筱寅
申请(专利权)人:苏州维嘉科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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