本申请涉及光伏技术领域，具体而言，涉及一种硅片检测装置。硅片检测装置包括硅片承载台以及电阻率检测组件。硅片承载台具有用于承载硅片的承载面。电阻率检测组件包括两个探针，两个探针沿水平方向间隔设置于承载面的相对两侧，探针用于与硅片的边缘接触；两个探针均可绕高度方向相对硅片承载台旋转，且两个探针均具有至少一个平行于高度方向的接触面，接触面设置于探针沿水平方向的靠近承载面的一端，以使两个探针与硅片的边缘接触时，两个探针的接触面均能够与硅片的边缘贴合。本申请的硅片检测装置的探针在与硅片的接触过程中能够与硅片实现面接触，有利于避免由于硅片与探针间接触不良、不稳定而导致的电阻率检测精度不高的情况。不高的情况。不高的情况。
【技术实现步骤摘要】
一种硅片检测装置
[0001]本申请涉及光伏
，具体而言，涉及一种硅片检测装置。
技术介绍
[0002]制绒工序是太阳电池制造领域中的一个重要工序。制绒工序是采用腐蚀液在硅片的受光面上刻蚀出金字塔绒面，以增加硅片的减反效果。
[0003]由于不同硅片之间会存在电阻率的差异，若将电阻率相差较大的多个硅片进行制绒等工序后并组装成电池组件，会因为硅片间电阻率差异较大而造成不同硅片的衰减不一样，进而导致电池组件明暗不均，导致电池组件效率降低以及产生发黑暗片等不良现象。
[0004]但是，现有的对硅片进行电阻率检测的装置普遍存在检测精度不高的问题，导致组装成电池组件的硅片之间依旧存在较大的电阻率差异，进而造成电池组件效率降低等不利影响。
技术实现思路
[0005]本申请提供一种硅片检测装置，其旨在改善现有的对硅片进行电阻率检测的装置的检测精度不高的技术问题。
[0006]本申请提供一种硅片检测装置，包括硅片承载台以及电阻率检测组件。
[0007]硅片承载台具有用于承载硅片的承载面。
[0008]电阻率检测组件包括两个探针，两个探针沿水平方向间隔设置于承载面的相对两侧，探针用于与硅片的边缘接触。
[0009]两个探针均可绕高度方向相对硅片承载台旋转，且两个探针均具有至少一个平行于高度方向的接触面，接触面设置于探针沿水平方向的靠近承载面的一端均，以使两个探针与硅片的边缘接触时，两个探针的接触面均能够与硅片的边缘贴合。
[0010]本申请通过将对硅片进行电阻率检测的两个探针分别设置于用于承载硅片的承载面的相对两侧，并设置两个探针均可绕高度方向相对硅片承载台旋转，当两个探针分别与承载面上的硅片的宽度或长度方向的相对两个边缘接触时，探针与硅片的边缘之间存在的摩擦力会带动探针绕高度方向相对硅片旋转台旋转，由于本申请设置两个探针沿水平方向的靠近承载面的一端均具有至少一个平行于高度方向的接触面，在探针与硅片的边缘接触并绕高度方向旋转的过程中，探针的平行于高度方向(即平行于硅片厚度方向)的接触面会与硅片的厚度边缘紧密贴合，相比于常规探针与硅片的点接触或者线接触的方式，本申请的硅片检测装置的探针在与硅片的接触过程中能够与硅片实现面接触，有利于稳定地对硅片进行电阻率检测，有利于避免由于硅片与探针间接触不良、不稳定而导致的电阻率检测精度不高的情况，进而便于后续将电阻率相近的硅片组装成电池组件，以提高电池组件的效率和减少暗片等不良现象。
[0011]在本申请的一些实施例中，两个探针绕高度方向均具有多个依次首尾连接的接触面，且两个探针沿水平方向的截面均为正多边形。
[0012]上述设置方式，使得探针在与硅片的边缘接触以绕高度方向旋转的过程中，探针的绕高度方向的周向所有接触面均可能与硅片的厚度边缘实现紧密贴合，有利于进一步提高对硅片的电阻率检测稳定性；且整个探针绕高度方向成对称结构，有利于避免探针在绕高度方向旋转的过程中，由于探针结构不对称而导致划伤硅片边缘的情况。
[0013]在本申请的一些实施例中，正多边形的外角为20
‑
40
°
。
[0014]正多边形的外角为20
‑
40
°
，有利于进一步提高对硅片的电阻率检测稳定性和精确度。
[0015]在本申请的一些实施例中，正多边形为正十边形。
[0016]正多边形为正十边形时，硅片检测装置对硅片的电阻率检测的稳定性和精确度较佳。
[0017]在本申请的一些实施例中，正多边形的边长为0.5
‑
0.9mm。
[0018]正多边形的边长为0.5
‑
0.9mm，能够使得探针与硅片边缘的接触面积较为合适，有利于进一步提高对硅片的电阻率检测稳定性和精确度。
[0019]在本申请的一些实施例中，电阻率检测组件还包括连接两个探针的连接元件，连接元件位于硅片承载台的高度方向的一侧，并可绕高度方向相对硅片承载台旋转。
[0020]连接元件的设置，可以有效实现在连接元件绕高度方向相对硅片承载台旋转过程中，连接元件连接的两个探针可以与承载面上的硅片的相对两个边缘接触，使得探针能够适用于对不同尺寸的硅片进行电阻率检测。
[0021]在本申请的一些实施例中，电阻率检测组件还包括升降元件，升降元件连接硅片承载台以及连接元件。
[0022]升降元件的设置，可以使得升降元件的升降带动连接元件的升降，进而使得连接元件连接的两个探针可以升降至与承载面上的硅片的高度一致的位置，进而实现两个探针均能够有效与承载面上的硅片的边缘接触。
[0023]在本申请的一些实施例中，升降元件和连接元件均设置于硅片承载台的远离承载面的一侧。
[0024]上述设置方式，便于装卸硅片于硅片承载台的承载面上。
[0025]在本申请的一些实施例中，硅片承载台内还设置有重量检测元件，重量检测元件用于对承载面上的硅片进行重量检测。
[0026]重量检测元件的设置，可以获取承载面上的硅片的重量信息，有利于后续基于获取的重量信息确定硅片的厚度信息，有利于避免后续制绒等工序中采用厚度不一致的硅片而发生硅片碎片等现象；也便于后续更加准确地将厚度相近的硅片组装成电池组件，避免由于电池组件中具有厚度差异较大的硅片而导致电池组件玻璃板间产生间隙使得电池组件效果和寿命下降的情况。
[0027]在本申请的一些实施例中，硅片检测装置还包括图像识别元件，图像识别元件用于对承载面上的硅片的面积进行扫描确认。
[0028]图像识别元件的设置，可以获取承载面上硅片的面积尺寸信息，便于后续基于硅片的重量信息以及面积尺寸信息以获取硅片的厚度信息，进而将便于后续更加准确地将厚度相近的硅片组装成电池组件。
附图说明
[0029]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0030]图1示出了本申请实施例提供的硅片检测装置的第一示例的俯视图。
[0031]图2示出了本申请实施例提供的硅片检测装置的第一示例的仰视图。
[0032]图3示出了图1沿A
‑
A方向的剖视图。
[0033]图4示出了图1中B处的放大图。
[0034]图5示出了本申请实施例提供的硅片检测装置的第二示例的俯视图。
[0035]图6示出了图5中C处的放大图。
[0036]图标：10
‑
硅片检测装置；100
‑
硅片承载台；110
‑
承载面；120
‑
支架；200
‑
电阻率检测组件；210
‑
探针；211
‑
接触面；220
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种硅片检测装置，其特征在于，包括：硅片承载台以及电阻率检测组件；所述硅片承载台具有用于承载硅片的承载面；所述电阻率检测组件包括两个探针，两个所述探针沿水平方向间隔设置于所述承载面的相对两侧，所述探针用于与所述硅片的边缘接触；两个所述探针均可绕高度方向相对所述硅片承载台旋转，且两个所述探针均具有至少一个平行于高度方向的接触面，所述接触面设置于所述探针沿水平方向的靠近所述承载面的一端，以使两个所述探针与所述硅片的边缘接触时，两个所述探针的所述接触面均能够与所述硅片的边缘贴合。2.根据权利要求1所述的硅片检测装置，其特征在于，两个所述探针的所述接触面的数量均为多个；每个所述探针中，多个所述接触面绕所述探针的高度方向依次首尾连接，且每个所述探针沿水平方向的截面均为正多边形。3.根据权利要求2所述的硅片检测装置，其特征在于，所述正多边形的外角为20
‑
40
°
。4.根据权利要求3所述的硅片检测装置，其特征在于，所述正多边形为正十边形。5.根据...
【专利技术属性】
技术研发人员：方明良，
申请(专利权)人：通威太阳能眉山有限公司，
类型：新型
国别省市：
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