本实用新型专利技术是揭示一种遮蔽结构及其相关电子装置，其可用来防止设置于一电路板上的一电子元件受电磁波干扰，该遮蔽结构包含有一框座，设置于该电路板上且框围于该电子元件，该框座上设有至少一定位件。该遮蔽结构还包含有一遮盖，用来盖设于该框座上以遮蔽该电子元件，该盖体上设有至少一孔洞，用来卡合该框座的该定位件。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术是提供一种遮蔽结构及其相关电子装置，尤指一种用来防止设 置于电路板上的电子元件受电磁波干扰的遮蔽结构及其相关电子装置。
技术介绍
一般电子装置包含许多安装在电路板上的电子元件与电路，其对于电磁干扰(Electromagnetic Interference, EMI)相当敏感。电磁干扰可能来自于内部或外 部元件，此干扰会造成信号品质降低或信号全部衰减，而造成电子装置无法正 常运作。因此电磁干扰遮蔽结构便设计来遮蔽内部或外部元件所造成的电磁干 扰。举例来说，手持式电子装置如全球卫星定位装置、移动电话、个人数字助 理装置，或移动电脑等，在系统内部通常存在用来遮蔽电磁干扰的遮蔽结构。 请参阅图l，图1为现有技术一遮蔽结构10的示意图，遮蔽结构10为一件式 结构且其可为一金属盖板，用来包覆遮盖一电路板12上的电子元件14，以达 到防止电磁波干扰的效果。然而遮蔽结构IO是焊接固定在电路板12上，所以 当受到遮蔽结构IO遮盖包覆于内的电子元件14需进行更换或调整时，必须将 遮蔽结构10与电路板12间的焊料加热融化，方能取下遮蔽结构10以进行电 子元件14的更换或调整，之后再重新将遮盖结构IO焊接在电路板12上。如 此一来，不仅会浪费工时与焊料，且在再度热熔焊料的过程中有可能会对电路 板12上邻近的电子元件造成损坏。为了改善上述的缺点，两件式遮蔽结构的设计便应运而生。请参阅图2， 图2为现有技术另一遮蔽结构30的外观示意图，遮蔽结构30包含有一底座32， 以及一上盖34，底座32与上盖34皆可由金属材质所组成。底座32固定在一 电路板36上，且上盖34是以可分离的方式结合于底座32，其是用来包覆遮盖 电路板36上的电子元件38，以达到防止电磁波干扰的效果。请参阅图3，图3为现有技术遮蔽结构30的底座32的侧视图，此两件式结构的做法虽然可改善 一件式结构的拆装问题，但因为现今金属件加工技术的限制，使得底座32除 了底部与电路板36焊接的部份外(垂直部)，还多出了水平的延展部份，其水平 延展的部份会遮蔽其下方的电子元件38，这种遮蔽虽然对电子元件38或系统 本身不会造成任何影响，但在产品在半成品阶段进行测试时，如自动光学检测 (Auto Optical Inspection, AOI)或电路内测试时((In-Circuit Testing, ICT)，便会影 响测试设备检测的结果，造成可测率低落。举例来说，由于自动光学检测设备 是利用LED光源将光投射在电路板36上的电子元件38(如RLC元件或IC等)， 再以摄影机进行拍摄，以达到检查缺件及元件位移等情形，但底座32的水平 延展部分会将LED的光线遮住，且摄影机也无法对其下方的元件进行拍摄，所 以降低自动光学检测的可测率；或是对于电路内测试而言，由于电路内测试设 备是利用探针与电路板36上的零件脚作接触，因此在零件的上方也需要有足 够的空间来进行测试，但底座32的水平延展部分也同样的阻碍了探针的测试， 因此会导致电路内测试的可测率下降。所以如何设计出一工艺简易且不会妨碍 元件测试的遮蔽结构，便为现今防电磁波干扰机构设计所需努力的课题。
技术实现思路
本技术是提供一种用来防止设置于电路板上的电子元件受电磁波干 扰的遮蔽结构及其相关电子装置，以解决上述的问题。本技术的申请专利范围是揭示一种遮蔽结构，用来防止设置于一电路 板上的一电子元件受电磁波干扰，该遮蔽结构包含有一框座，设置于该电路板 上且框围于该电子元件，该框座上设有至少一定位件。该遮蔽结构还包含有一 遮盖，用来盖设于该框座上以遮蔽该电子元件，该盖体上设有至少一孔洞，用 来卡合该框座的该定位件。本技术的申请专利范围是还揭示一种遮蔽结构，用来防止设置于一电 路板上的一电子元件受电磁波干扰，该遮蔽结构包含有一框座，设置于该电路 板上且框围于该电子元件，该框座上设有至少一孔洞。该遮蔽结构还包含有一 遮盖，用来盖设于该框座上以遮蔽该电子元件，该盖体上设有至少一定位件， 用来卡合于该框座的该孔洞内。本技术的申请专利范围还揭示一种可防电磁波干扰的电子装置，其包 含有一电路板，其可供设置一电子元件，以及一遮蔽结构，用来遮蔽该电路板 上的该电子元件，以防止该电子元件受电磁波干扰，该遮蔽结构包含有一框座， 设置于该电路板上且框围于该电子元件，该框座上设有至少一定位件。该遮蔽 结构还包含有一遮盖，用来盖设于该框座上以遮蔽该电子元件，该盖体上设有 至少一孔洞，用来卡合该框座的该定位件。本技术的申请专利范围是还揭示一种可防电磁波干扰的电子装置，其 包含有一电路板，其可供设置一电子元件，以及一遮蔽结构，用来遮蔽该电路 板上的该电子元件，以防止该电子元件受电磁波干扰，该遮蔽结构包含有一框 座，设置于该电路板上且框围于该电子元件，该框座上设有至少一孔洞。该遮 蔽结构还包含有一遮盖，用来盖设于该框座上以遮蔽该电子元件，该盖体上设 有至少一定位件，用来卡合于该框座的该孔洞内。附图说明图1为现有技术遮蔽结构的示意图。图2为现有技术另一遮蔽结构的外观示意图。图3为现有技术遮蔽结构的底座的侧视图。图4为本技术第一实施例电子装置的元件爆炸图。 图5为本技术对电子元件进行检测的示意图。 图6为本技术电子装置的组装图。 图7为本技术第二实施例电子装置的元件爆炸图。主要元件符号说明:10 遮蔽结构14 电子元件30 遮蔽结构34 上盖38 电子元件12 电路板32 底座 36 电路板50电子装置52电路板54电子元件56遮蔽结构58框座60定位件62盖64盖体66外缘68孑L洞100电子装置102遮蔽结构104框座106孔洞108盖..110盖体112外缘114定位件说明书第4/6页具体实施方式请参阅图4，图4为本技术第一实施例一种可防电磁波干扰的电子装 置50的元件爆炸图，电子装置50包含有一电路板52，其可为一印刷电路板， 且其上是设有多个电子元件54(如RLC元件或IC等)，电子装置50还包含有一 遮蔽结构56，用来遮蔽电路板52上的电子元件54，以防止电子元件54受电 磁波干扰。遮蔽结构56包含有一框座58，设置于电路板52上且框围于电子元 件54，框座58可为一中空水平金属片，框座58上设有至少一定位件60，定 位件60可为一凸出件，如卡榫或销(pin)等。遮蔽结构56还包含有一遮盖62， 用来盖设于框座58上以遮蔽电子元件54，遮盖62可由金属材质所组成，遮盖 62包含有一盖体64，其内形成有一中空容室，且遮盖62还包含有一外缘66， 其延伸于盖体64，外缘66上形成有至少一孔洞68，其是分别设置于相对应框 座58的定位件60的位置，当遮盖62组装于框座58上时，框座58的定位件 60是分别卡合于遮盖62的孔洞68内。请参阅图5，图5为本技术对电子元件54进行检测的示意图，框座 58可以焊接或其他方式平贴固定于电路板52上，由于框座58为一水平金属片， 意即没有90度的弯折，所以不会有遮蔽电子元件54的疑虑。当电子装置50 在半成品阶段进行测试(如自动光学检测或电路内测试)时，可先不将遮盖62组 装结合于框座58，待检测完毕后再将遮盖62卡合于框座58。由于自动光学检 测设备是利用LED光本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种遮蔽结构，用来防止设置于一电路板上的一电子元件受电磁波干扰，其特征在于，所述遮蔽结构包含有： 一框座，设置于所述电路板上且框围于所述电子元件，所述框座上设有至少一定位件；以及 一遮盖，用来盖设于所述框座上以遮蔽所述电子元件，所述盖体上设有至少一孔洞，用来卡合所述框座的所述定位件。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：郑贵永，赵健智，
申请(专利权)人：纬创资通股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]
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