峰面积显示装置及方法、峰面积计算装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及峰面积显示装置，具备获取部、峰面积计算部及显示装置。获取部获取由色谱仪测量而得的测量数据。峰面积计算部将示出从测量数据(MD)得到的色谱图与模型函数的残差的损失函数的取值抑制在规定的范围内，并且进行使峰面积最大化或最小化的最优化运算，由此使模型函数拟合至色谱图。峰面积计算部还求出峰面积的最大值或最小值。显示装置(显示器)显示由峰面积计算部求出的峰面积的最大值或最小值，或者显示对峰面积的最大值或最小值进行处理而得到的信息。理而得到的信息。理而得到的信息。

【技术实现步骤摘要】
峰面积显示装置及方法、峰面积计算装置及方法


[0001]本专利技术涉及显示测量出的波形的峰面积的装置及方法、以及计算峰面积的装置及方法。

技术介绍

[0002]为了进行通过色谱仪测量的波形的定量与定性，对色谱图进行模型函数的拟合。对于模型函数而言，能够对实测波形高精度地进行拟合至关重要。在“PeakFit”、株式会社HULINKS、[2021年6月4日检索]、<URL:https://www.hulinks.co.jp/software/da_visual/peakfit/functions#chorom>中，为了进行利用色谱仪测量的波形的定量与定性，提出有各种模型函数。
[0003]在医药品的管理中，要求医药品中包含的主成分的含量为规定的量以上。此外，要求医药品中包含的杂质的含量为规定的量以下。因此，在医药品的分析中，进行主成分及杂质的定量与定性。

技术实现思路

[0004]如上所述，要求使模型函数的拟合更接近于实测波形。其目的在于将模型函数拟合为表示实测波形的合理的形状。相对于此，例如在医本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种峰面积显示装置，其特征在于，具备：获取部，获取由色谱仪测量而得的测量数据；峰面积计算部，将示出从所述测量数据得到的色谱图与模型函数的残差的损失函数的取值抑制在规定的范围内，并且进行使峰面积最大化或最小化的最优化运算，由此使所述模型函数拟合至所述色谱图，求出所述峰面积的最大值或最小值；显示装置，显示由所述峰面积计算部求出的所述峰面积的最大值或最小值，或者显示对所述峰面积的最大值或最小值进行处理而得到的信息。2.如权利要求1所述的峰面积显示装置，其特征在于，所述测量数据是通过对医药品进行分析处理而得到的数据，所述峰面积计算部求出所述医药品中包含的杂质的峰面积的最大值。3.如权利要求1或权利要求2所述的峰面积显示装置，其特征在于，所述最优化运算包括求解带约束的最优化问题的运算，其中，在将对最小损失值加上规定的值而得的值作为所述损失函数应取的值的范围的约束条件下，使所述峰面积最大化或最小化。4.如权利要求1或权利要求2所述的峰面积显示装置，其特征在于，所述最优化运算包括求解带正则化的损失函数最小化问题的运算，其中，所述正则化将所述峰面积的值作为惩罚项。5.如权利要求1或权利要求2所述的峰面积显示装置，其特征在于，所述损失函数包含通过最小二乘法获取所述色谱图与所述模型函数的残差的函数。6.如权利要求1或权利要求2所述的峰面积显示装置，其特征在于，所述损失函数包含通过最大似然推定与后...

【专利技术属性】
技术研发人员：野田阳，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：