分析支援装置、分析支援方法及计算机可读取介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种分析支援装置、分析支援方法及计算机可读取介质。分析支援装置包括：推定部，使用向分析装置提供的多个分析条件数据、及基于多个分析条件数据由分析装置获得的多个测定数据，通过回归分析对测定品质指标数据的分布进行推定；分析支援信息显示部，将分布显示在显示器上；以及保存部，响应于保存操作，将分布内所指定的关注点的分析条件数据保存到存储装置。存到存储装置。存到存储装置。

【技术实现步骤摘要】
分析支援装置、分析支援方法及计算机可读取介质


[0001]本专利技术涉及一种对从分析装置获得的测定数据进行处理的分析支援装置、方法及存储有程序的计算机可读取介质(非暂时的计算机可读介质(Non
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transitory computer readable medium))。

技术介绍

[0002]在制药公司等，对使用液相色谱仪的物质进行分析。此时，为了分别确认成为对象的物质与杂质，要求开发尽可能多的峰被分离的方法。方法的开发是通过获取针对各种分析条件的分析结果来实施。根据日本专利特开2015
‑
166726号公报中所公开的数据处理装置，可容易地获取未研究的分析条件。在方法的开发中，各种分析条件的所有组合均成为研究对象，但由于不可能实施全部的组合，因此有时会进行回归分析。

技术实现思路

[0003]通过将回归分析的结果显示为例如等高线或热图，用户可对最优的分析条件进行研究。进而，期望向用户提供用于有效利用回归分析的结果的功能。
[0004]本专利技术的目的是提供一种能够有效利用回归分析的结本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种分析支援装置，其特征在于，包括：推定部，使用向分析装置提供的多个分析条件数据、及基于所述多个分析条件数据由所述分析装置获得的多个测定数据，通过回归分析对测定品质指标数据的分布进行推定；分析支援信息显示部，将所述分布显示在显示器上；以及保存部，响应于保存操作，将所述分布内所指定的关注点的分析条件数据保存到存储装置。2.根据权利要求1所述的分析支援装置，其中所述保存部保存多个关注点的分析条件数据。3.根据权利要求1或2所述的分析支援装置，其中所述保存部中与所述关注点的分析条件数据一并保存由所述分析支援信息显示部进行的显示设定。4.根据权利要求1或2所述的分析支援装置，其中所述保存部将保存到所述存储装置中的所述关注点的分析条件数据的列表与所述分布一起显示在所述显示器上。5.根据权利要求1或2所述的分析支援装置，其中所述分布包含所述测定品质指标数据的等高线。6.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：川瀬智裕，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：