一种AI处理芯片质量监测方法、设备及系统技术方案

本发明专利技术涉及一种AI处理芯片质量监测方法、设备及系统，属于芯片检测技术领域，包括加热测试装置、形状轮廓检测装置、相对间距检测装置、振动测试装置、相对位置检测装置、松动检测装置、主控制装置；所述主控制装置分别与所述加热测试装置、形状轮廓检测装置、相对间距检测装置、振动测试装置、相对位置检测装置、松动检测装置连接。通过加热测试装置、形状轮廓检测装置、相对间距检测装置、振动测试装置、相对位置检测装置、松动检测装置之间的配合，可对芯片及其安装固定件进行具象化的质量检测，克服现阶段对于芯片工作强度较大的领域忽视芯片安装固定件质量检测的缺陷，保障了芯片及其安装固定件对于发热和振动异常环境中的运行可靠性。可靠性。可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种AI处理芯片质量监测方法、设备及系统


[0001]本专利技术属于芯片检测
，具体涉及一种AI处理芯片质量监测方法、设备及系统。

技术介绍

[0002]随着芯片的应用范围及功能特性的增强，芯片在越来越多的领域得到较为广泛的应用，如工业、航空航天、军事或者汽车轮船等领域；尤其随着AI处理芯片产量的提高，需要对AI处理芯片的功能性参数进行检测，如电气工作参数(高压电流、接触电阻、绝缘电阻、抗电强度)等。
[0003]现阶段对于芯片质量的测试仅在芯片投入使用前进行检测测试，而对于芯片投入使用后的相关检测测试则存在较大缺陷；尤其是芯片工作强度较大的AI处理领域，经常因为芯片发热而引起整个电控系统的故障，但是这种情况下，芯片的热属性测试也是通过了的；有很大可能是因为与芯片适配的固定件被芯片发热所损坏，而对于芯片适配件（芯片及其适配的安装固定件等）的检测是经常被忽略的环节。
[0004]因此，现阶段需设计一种AI处理芯片质量监测设备、系统及方法，来解决以上问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术目的在于提供一种A本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种AI处理芯片质量监测设备，其特征在于，包括加热测试装置、形状轮廓检测装置、相对间距检测装置、振动测试装置、相对位置检测装置、松动检测装置、主控制装置；所述主控制装置分别与所述加热测试装置、形状轮廓检测装置、相对间距检测装置、振动测试装置、相对位置检测装置、松动检测装置连接；所述加热测试装置用于对芯片及其安装固定件进行加热测试；所述形状轮廓检测装置用于检测安装固定件的实时形状轮廓，并判断所述实时形状轮廓是否异常；所述相对间距检测装置用于检测芯片与安装固定件之间的实时相对间距，并判断所述实时相对间距是否异常；所述振动测试装置用于对芯片及其安装固定件进行振动测试；所述相对位置检测装置用于检测芯片与安装固定件之间的实时相对位置，并判断所述实时相对位置是否异常；所述松动检测装置用于检测芯片与安装固定件之间是否发生相对松动。2.根据权利要求1所述的一种AI处理芯片质量监测设备，其特征在于，进行加热测试时，所述主控制装置控制所述加热测试装置常开，控制所述形状轮廓检测装置、相对间距检测装置常闭；当所述加热测试装置对芯片及其安装固定件进行加热测试的加热温度达到设定温度，且加热时长达到加热设定时长时；所述主控制装置控制所述形状轮廓检测装置开启；当所述形状轮廓检测装置判断所述实时形状轮廓异常时，所述主控制装置控制所述相对间距检测装置开启。3.根据权利要求1所述的一种AI处理芯片质量监测设备，其特征在于，还包括加热位置检测装置，所述加热位置检测装置与所述主控制装置连接；所述加...

【专利技术属性】
技术研发人员：于巍波，赵彦钧，
申请(专利权)人：四川华鲲振宇智能科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：