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本发明涉及一种AI处理芯片质量监测方法、设备及系统，属于芯片检测技术领域，包括加热测试装置、形状轮廓检测装置、相对间距检测装置、振动测试装置、相对位置检测装置、松动检测装置、主控制装置；所述主控制装置分别与所述加热测试装置、形状轮廓检测装置...
该专利属于四川华鲲振宇智能科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过四川华鲲振宇智能科技有限责任公司授权不得商用。

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