【技术实现步骤摘要】
芯片检测设备及其电路系统
[0001]本申请涉及芯片检测、高校电子实验室的
，尤其涉及芯片检测设备及其电路系统。
技术介绍
[0002]目前市场上的芯片检测仪器大多比较笨重，体积较大，且有很多是针对特定企业的特定芯片检测仪器，用于高校的芯片检测仪器相对很少。
[0003]在大多高校的计算机实验室，会配备很多双列直插式芯片供学生做实验，但这些芯片经过多次使用，在插拔的过程中容易导致芯片损坏。当前，很多学生在做完实验后不检测芯片是否损坏就直接将芯片放回盒子里，导致正常芯片和损坏芯片混杂在一起；下一次实验前也不会去检测芯片的好坏，如果拿到一个已经损坏的芯片，实验过程中遇到问题就要逐一排查，浪费时间，效率低下。
[0004]基于此，本申请提供了芯片检测设备及其电路系统，以改进上述现有技术的不足。
技术实现思路
[0005]本申请的目的在于提供芯片检测设备及其电路系统，能够自动检测芯片是否损坏，且检测效率高。
[0006]本申请的目的采用以下技术方案实现：
[0007]第一方面，本...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片检测设备的电路系统，其特征在于，所述电路系统包括：主控模块，所述主控模块用于输出选择信号；信号产生模块，所述信号产生模块与所述主控模块通信连接，所述信号产生模块用于接收所述选择信号并输出测试信号；芯片测试模块，所述芯片测试模块包括待测芯片，所述待测芯片与所述信号产生模块通信连接，所述待测芯片用于接收所述测试信号并输出待处理信号；信号转换模块，所述信号转换模块与所述主控模块通信连接，所述信号转换模块用于将所述待处理信号转换为串口数据并发送至所述主控模块，以使所述主控模块输出显示控制信号；结果输出模块，所述结果输出模块与所述主控模块通信连接，所述结果输出模块用于接收所述显示控制信号以显示芯片检测结果。2.根据权利要求1所述的芯片检测设备的电路系统，其特征在于，所述电路系统还包括：芯片型号采集模块，所述芯片型号采集模块与所述主控模块通信连接，所述芯片型号采集模块用于获取型号采集信息并输出至所述主控模块，以使所述主控模块输出所述选择信号。3.根据权利要求2所述的芯片检测设备的电路系统，其特征在于，所述型号采集信息是所述待测芯片的图像，所述芯片型号采集模块包括：图像采集单元，所述图像采集单元用于采集所述待测芯片的图像并输出；通信单元，所述通信单元与所述图像采集单元电连接，所述通信单元与所述主控模块通信连接，所述通信单元用于接收所述图像并输出至所述主控模块，以使所述主控模块输出所述选择信号。4.根据权利要求3所述的芯片检测设备的电路系统，其特征在于，所述图像采集单元采用摄像头。5.根据权利要求1
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4任一项所述的芯片检测设备的电路系统，其特征在于，所述信号转换模块包括：至少一个三态门，每个所述三态门均与所述待测芯片的其中一个引脚电连接，每个所述三态门用于接收对应引脚输出的所述待处理信...
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