芯片检测设备及其电路系统技术方案

本申请提供了芯片检测设备及其电路系统，所述电路系统包括：主控模块，所述主控模块用于输出选择信号；信号产生模块，所述信号产生模块用于接收所述选择信号并输出测试信号；芯片测试模块，所述芯片测试模块包括待测芯片，所述待测芯片用于接收所述测试信号并输出待处理信号；信号转换模块，所述信号转换模块用于将所述待处理信号转换为串口数据并发送至所述主控模块，以使所述主控模块输出显示控制信号；结果输出模块，所述结果输出模块用于接收所述显示控制信号以显示芯片检测结果。能够自动检测芯片是否损坏，且检测效率高。且检测效率高。且检测效率高。

【技术实现步骤摘要】
芯片检测设备及其电路系统


[0001]本申请涉及芯片检测、高校电子实验室的
，尤其涉及芯片检测设备及其电路系统。

技术介绍

[0002]目前市场上的芯片检测仪器大多比较笨重，体积较大，且有很多是针对特定企业的特定芯片检测仪器，用于高校的芯片检测仪器相对很少。
[0003]在大多高校的计算机实验室，会配备很多双列直插式芯片供学生做实验，但这些芯片经过多次使用，在插拔的过程中容易导致芯片损坏。当前，很多学生在做完实验后不检测芯片是否损坏就直接将芯片放回盒子里，导致正常芯片和损坏芯片混杂在一起；下一次实验前也不会去检测芯片的好坏，如果拿到一个已经损坏的芯片，实验过程中遇到问题就要逐一排查，浪费时间，效率低下。
[0004]基于此，本申请提供了芯片检测设备及其电路系统，以改进上述现有技术的不足。

技术实现思路

[0005]本申请的目的在于提供芯片检测设备及其电路系统，能够自动检测芯片是否损坏，且检测效率高。
[0006]本申请的目的采用以下技术方案实现：
[0007]第一方面，本申请提供了一种芯片检测设备的电路系统，所述电路系统包括：
[0008]主控模块，所述主控模块用于输出选择信号；
[0009]信号产生模块，所述信号产生模块与所述主控模块通信连接，所述信号产生模块用于接收所述选择信号并输出测试信号；
[0010]芯片测试模块，所述芯片测试模块包括待测芯片，所述待测芯片与所述信号产生模块通信连接，所述待测芯片用于接收所述测试信号并输出待处理信号；
[0011]信号转换模块，所述信号转换模块与所述主控模块通信连接，所述信号转换模块用于将所述待处理信号转换为串口数据并发送至所述主控模块，以使所述主控模块输出显示控制信号；
[0012]结果输出模块，所述结果输出模块与所述主控模块通信连接，所述结果输出模块用于接收所述显示控制信号以显示芯片检测结果。
[0013]该技术方案的有益效果在于：能够自动检测芯片是否损坏，且检测效率高。
[0014]通过主控模块向信号产生模块输出选择信号，以确定信号产生模块所输出的测试信号，测试信号输入至待测芯片后，待测芯片输出待处理信号至信号转换模块，由信号转换模块将待处理信号处理为串口数据，并将串口数据发送至主控模块，主控模块基于串口数据判断芯片是否损坏，并将芯片检测结果(即检测通过或检测不通过)对应的显示控制信号发送至结果输出模块，结果输出模块根据接收到的显示控制信号显示芯片检测结果。
[0015]在一些可选的实施方式中，所述电路系统还包括：
[0016]芯片型号采集模块，所述芯片型号采集模块与所述主控模块通信连接，所述芯片型号采集模块用于获取型号采集信息并输出至所述主控模块，以使所述主控模块输出所述选择信号。
[0017]该技术方案的有益效果在于：设置芯片型号采集模块以获取型号采集信息并输出至主控模块，以使主控模块输出与型号采集信息对应的选择信号，也就是说，主控模块可以基于型号采集信息来自动确定所输出的选择信号，相比于人工设置主控模块输出的选择信号来说，进一步提高了芯片的检测效率。
[0018]在一些可选的实施方式中，所述型号采集信息是所述待测芯片的图像，所述芯片型号采集模块包括：
[0019]图像采集单元，所述图像采集单元用于采集所述待测芯片的图像并输出；
[0020]通信单元，所述通信单元与所述图像采集单元电连接，所述通信单元与所述主控模块通信连接，所述通信单元用于接收所述图像并输出至所述主控模块，以使所述主控模块输出所述选择信号。
[0021]该技术方案的有益效果在于：设置图像采集单元来采集待测芯片的图像，再通过通信单元将图像传输至主控模块，主控模块以图像作为型号采集信息，基于图像识别出待测芯片的型号，从而输出型号对应的选择信号。图像识别技术应用范围广，识别准确度高，智能化程度高，进一步提高了芯片的检测效率。
[0022]在一些可选的实施方式中，所述图像采集单元采用摄像头。
[0023]该技术方案的有益效果在于：摄像头有高中低端全线产品，用户可以根据实际应用中的性能需求和成本需求，选择适合的摄像头作为图像采集单元。
[0024]在一些可选的实施方式中，所述信号转换模块包括：
[0025]至少一个三态门，每个所述三态门均与所述待测芯片的其中一个引脚电连接，每个所述三态门用于接收对应引脚输出的所述待处理信号并输出；
[0026]至少一个LED灯，每个所述LED灯与其中一个所述三态门电连接，每个所述LED灯用于接收对应三态门输出的所述待处理信号并点亮或熄灭；
[0027]并口转串口芯片，所述并口转串口芯片分别与部分或全部所述三态门电连接，所述并口转串口芯片还与所述主控模块电连接，所述并口转串口芯片用于接收所连接的所述三态门输出的所述待处理信号并将所述待处理信号转换为所述串口数据，以将所述串口数据发送至所述主控模块。
[0028]该技术方案的有益效果在于：现有技术在物理层面(用于设置待测芯片的)紧锁座是和并口转串口芯片全部相连的，但是有些并口转串口芯片没有那么多引脚，所以紧锁座的输出引脚有一部分是不需要用到的，如果直接悬空会有影响(自动置0/1，影响芯片检测结果)，所以加上三态门将这些没有用到的(紧锁座的输出)引脚置为高阻态，即将这些线路断开，消除其对芯片检测结果的影响。设置LED灯，通过LED灯的点亮和熄灭，便于用户肉眼观察LED灯所处线路中的高、低电平。通过并口转串口芯片，将并口数据(即待处理信号)转换为串口数据，便于主控模块进行数据处理。
[0029]在一些可选的实施方式中，所述显示控制信号是检测通过信号或者检测不通过信号；
[0030]所述结果输出模块包括双色灯，所述双色灯包括发光颜色不同的第一LED和第二
LED；
[0031]所述第一LED与所述主控模块电连接，所述第一LED用于接收所述检测通过信号并点亮；
[0032]所述第二LED与所述主控模块电连接，所述第二LED用于接收所述检测不通过信号并点亮。
[0033]该技术方案的有益效果在于：设置颜色不同的第一LED和第二LED，分别用于接收检测通过信号和检测不通过信号并点亮不同颜色，便于用户肉眼观测芯片检测结果。
[0034]在一些可选的实施方式中，所述主控模块还用于生成报警控制信号并输出；
[0035]所述结果输出模块还包括：
[0036]蜂鸣器，所述蜂鸣器与所述主控模块电连接，所述蜂鸣器用于接收所述报警控制信号并进行报警。
[0037]该技术方案的有益效果在于：当芯片检测结果是检测不通过时，主控模块生成报警控制信号并发送至蜂鸣器，利用蜂鸣器进行报警，成本较低，且能将报警信息提醒到距离较远的范围内。
[0038]第二方面，本申请提供了一种芯片检测设备，所述芯片检测设备包括上述任一项芯片检测设备的电路系统。
[0039]在一些可选的实施方式中，所述芯片检本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片检测设备的电路系统，其特征在于，所述电路系统包括：主控模块，所述主控模块用于输出选择信号；信号产生模块，所述信号产生模块与所述主控模块通信连接，所述信号产生模块用于接收所述选择信号并输出测试信号；芯片测试模块，所述芯片测试模块包括待测芯片，所述待测芯片与所述信号产生模块通信连接，所述待测芯片用于接收所述测试信号并输出待处理信号；信号转换模块，所述信号转换模块与所述主控模块通信连接，所述信号转换模块用于将所述待处理信号转换为串口数据并发送至所述主控模块，以使所述主控模块输出显示控制信号；结果输出模块，所述结果输出模块与所述主控模块通信连接，所述结果输出模块用于接收所述显示控制信号以显示芯片检测结果。2.根据权利要求1所述的芯片检测设备的电路系统，其特征在于，所述电路系统还包括：芯片型号采集模块，所述芯片型号采集模块与所述主控模块通信连接，所述芯片型号采集模块用于获取型号采集信息并输出至所述主控模块，以使所述主控模块输出所述选择信号。3.根据权利要求2所述的芯片检测设备的电路系统，其特征在于，所述型号采集信息是所述待测芯片的图像，所述芯片型号采集模块包括：图像采集单元，所述图像采集单元用于采集所述待测芯片的图像并输出；通信单元，所述通信单元与所述图像采集单元电连接，所述通信单元与所述主控模块通信连接，所述通信单元用于接收所述图像并输出至所述主控模块，以使所述主控模块输出所述选择信号。4.根据权利要求3所述的芯片检测设备的电路系统，其特征在于，所述图像采集单元采用摄像头。5.根据权利要求1
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4任一项所述的芯片检测设备的电路系统，其特征在于，所述信号转换模块包括：至少一个三态门，每个所述三态门均与所述待测芯片的其中一个引脚电连接，每个所述三态门用于接收对应引脚输出的所述待处理信...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘洪玉，
申请(专利权)人：潘洪玉，
类型：新型
国别省市：