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本申请提供了芯片检测设备及其电路系统，所述电路系统包括：主控模块，所述主控模块用于输出选择信号；信号产生模块，所述信号产生模块用于接收所述选择信号并输出测试信号；芯片测试模块，所述芯片测试模块包括待测芯片，所述待测芯片用于接收所述测试信号并...
该专利属于潘洪玉所有，仅供学习研究参考，未经过潘洪玉授权不得商用。

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