一种基于MCU实现SOC测试修调的系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及芯片测试维修技术领域，具体为一种基于MCU实现SOC测试修调的系统及方法，包括基于串口协议的上位机软件通过上位机发送测试命令码，对测试标准文件进行处理、查询测试数据，分析测试数据；通过上机位发送测试命令码给下机位主控MCU，完成测试命令切换功能；对目标MCU进行测试修调，通过主控MCU测试装置对修调后的电压和频率进行采样，将修调后的数据进行记录；通过上机位发送测试命令码给下机位主控MCU，完成测试命令切换功能；通过上机位改变命令码，目标MCU执行测试，并将测试结果存放在串行外围设备接口，与上位机进行通信，为上位机提供数据查询和分析功能；测试完成后，退出测试模式。退出测试模式。退出测试模式。

【技术实现步骤摘要】
一种基于MCU实现SOC测试修调的系统及方法


[0001]本专利技术涉及芯片测试维修
，具体为一种基于MCU实现SOC测试修调的系统及方法。

技术介绍

[0002]32位MCU的测试工作十分重要，但是在实际测试中却面临了不少问题，其主要是因为在测试过程中无法对全部功能进行覆盖，并且在测试过程中对单颗MCU的测试时间较长，对于MCU的设计而言，测试技术以及测试成本是目前MCU的设计上的主要问题。市场对32位MCU的测试的主流做法是在MCU内部设计一个测试模式模块，用于在芯片量产测试阶段对关键参数的测试修调以及对主要内部关键单元进行测试，如可测试性设计测试。目前对32位MCU的测试主要依靠测试机构的自动化测试设备，自动化测试设备包括中测和成测，MCU测试模式的测试主要依靠中测实现，自动化测试设备在对32位MCU进行测试时芯片必须处于生产测试阶段，这就导致在对32位MCU的测试模式以及在可测试性设计等测试项功能中，因为本身设计错误而无法对测试验证。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种基于MCU实现SOC测试修调的系统及方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：一种基于MCU实现SOC测试修调的方法，方法包括：
[0005]步骤S100：基于串口协议的上位机软件通过上位机发送测试命令码，对测试标准文件进行处理、查询测试数据，分析测试数据；
[0006]步骤S200：对目标MCU进行测试修调，通过主控MCU测试装置对修调后的电压和频率进行采样，将修调后的数据进行记录；
[0007]步骤S300：通过上机位改变命令码，目标MCU执行测试，并将测试结果存放在串行外围设备接口，与上位机进行通信，为上位机提供数据查询和分析功能；
[0008]步骤S400：测试完成后，退出测试模式。
[0009]进一步的，步骤S100通过上机位发送测试命令码给下机位主控MCU，完成测试命令切换功能；通过对测试标准文件进行处理，将测试标准文件生成下位机能够使用的测试向量文件；通过私有协议对下位机存储数据进行读取，并显示在上位机；通过对测试数据读取和分析，完成测试数据的测试数据报告；
[0010]上述步骤通过将上机位将测试码发送给下机位主机主控MCU完成对测试命令切换，避免了人为去切换测试命令从而带来的人工浪费，节省了测试的开支。对测试标准文件进行处理，避免了测试标准文件在下机位无法使用的情况出现。
[0011]进一步的，步骤S200中对目标MCU进行测试修调过程包括：使用内部外部模块进行修调测试，并将修调过的数据进行记录；修调测试包括内核电压修调测试、时钟频率修调测
试；内核电压修调测试过程包括下位机主控MCU使用模数转换模块对修调后的电压值进行测量，通过与目标电压值比对，调整修调值，直至最接近目标电压值；时钟频率修调测试过程包括下位机主控MCU使用定时器模块对修调后的时钟频率进行测量测量，通过与目标频率值比对，调整修调值，直至最接近目标频率值；
[0012]上述步骤中将修调测试分为内核电压修调测试和时钟频率修调测试，按照内核电压和时钟频率的不同分开进行修调测试使修调过程更加合理科学。主控MCU使用模数转换模块和定时器模块分别对修调后的电压值和时钟频率进行调整，直至最接近目标值，是因为修调完成之后的修调值会与目标值产生一定的差距，对修调值进行调整可以使修调值与目标修调值接近，从而避免因为修调值与目标值过大对修调测试影响，使修调测试结果出现错误。
[0013]进一步的，步骤S300中为上位机提供数据查询和分析功能包括使用串行外围设备接口对数据进行存储，数据包括测试数据记录和标准文件；
[0014]上述步骤中通过上位机提供数据查询和分析功能，使用使用串行外围设备接口对数据进行存储，将测试数据和标准文件存放在串行外围设备接口进行存储，有利于在后续过程中对测试数据和标准文件的提取。
[0015]进一步的，步骤S400测试完成后过程包括通过上位机给主控MCU发送退出的命令码，主控MCU通过自定义协议给目标MCU发送退出命令码，退出测试模式。
[0016]为更好的实现上述方法还提出一种基于MCU实现SOC测试修调的系统，系统包括传输模块、修调模块、数据存放模块、退出模块；
[0017]传输模块，用于对上位机发送测试命令码进行传输；
[0018]修调模块，用于对目标MCU进行测试修调，通过主控MCU测试装置对修调后的电压和频率进行采样，将修调后的数据进行记录；
[0019]数据存放模块，用于对目标MCU执行测试，并将测试结果存放在串行外围设备接口，与上位机进行通信，为上位机提供数据查询和分析功能；
[0020]退出模块，用于对在测试完成后，退出测试。
[0021]进一步的，传输模块包括传输单元：
[0022]传输单元，用于对通过上机位发送测试命令码给下机位主控MCU，完成测试命令切换功能；通过对测试标准文件进行处理，将测试标准文件处理部分，生成下位机能够使用的测试向量文件；通过私有协议对下位机存储数据进行读取，并显示在上位机；通过对测试数据读取和分析，完成测试数据的测试数据报告。
[0023]进一步的，修调模块包括修调单元：
[0024]修调单元，用于对目标MCU进行测试修调；使用内部外部模块进行修调测试，并将修调过的数据进行记录；下位机主控MCU使用模数转换模块对修调后的电压值进行测量，通过与目标电压值比对，调整修调值，直至最接近目标电压值；下位机主控MCU使用定时器模块对修调后的时钟频率进行测量测量，通过与目标频率值比对，调整修调值，直至最接近目标频率值。
[0025]进一步的，数据存放模块包括数据存放单元：
[0026]数据存放单元，用于对数据使用串行外围设备接口进行存储，数据包括测试数据记录和标准文件。
[0027]进一步的，退出模块包括退出单元：
[0028]退出单元，用于对主控MCU发送退出的命令码，主控MCU通过自定义协议给目标MCU发送退出命令码，退出测试模式进一步的。
[0029]与现有技术相比，本专利技术所达到的有益效果是：本专利技术不仅可以在MCU量产测试阶段对MCU进行关键参数的测试修调，而且在MCU芯片设计阶段，可以实现对MCU芯片在现场对芯片代码设计的器件的功能验证，从而确保芯片测试模式以及可测性测试等测试项功能的设计正确无误。按照内核电压和时钟频率的不同分开进行修调测试使修调过程更加合理科学，对修调值进行调整可以使修调值与目标修调值接近，从而避免因为修调值与目标值过大对修调测试影响。使用串行外围设备接口对测试数据和标准文件进行存储，有利于在后续过程中对测试数据和标准文件的提取。
附图说明
[0030]附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限制。在附图中：
[0031]图1是本专利技术一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于MCU实现SOC测试修调的方法，其特征在于，所述方法包括：步骤S100：基于串口协议的上位机软件通过上位机发送测试命令码，对测试标准文件进行处理、查询测试数据，分析所述测试数据；步骤S200：对目标MCU进行测试修调，通过主控MCU测试装置对修调后的电压和频率进行采样，将修调后的数据进行记录；步骤S300：通过上机位改变命令码，所述目标MCU执行测试，并将测试结果存放在串行外围设备接口，与所述上位机进行通信，为上位机提供数据查询和分析功能；步骤S400：测试完成后，退出测试模式。2.根据权利要求1所述的一种基于MCU实现SOC测试修调的方法，所述步骤S100通过上机位发送测试命令码给下机位主控MCU，完成测试命令切换功能；通过对测试标准文件进行处理，将测试标准文件生成下位机能够使用的测试向量文件；通过私有协议对下位机存储数据进行读取，并显示在上位机；通过对测试数据读取和分析，完成测试数据的测试数据报告。3.根据权利要求2所述的一种基于MCU实现SOC测试修调的方法，其特征在于：所述步骤S200中对目标MCU进行测试修调过程包括：使用内部外部模块进行修调测试，并将修调过的数据进行记录；所述修调测试包括内核电压修调测试、时钟频率修调测试；所述内核电压修调测试过程包括下位机主控MCU使用模数转换模块对修调后的电压值进行测量，通过与目标电压值比对，调整修调值，直至最接近目标电压值；所述时钟频率修调测试过程包括下位机主控MCU使用定时器模块对修调后的时钟频率进行测量测量，通过与目标频率值比对，调整修调值，直至最接近目标频率值。4.根据权利要求1所述的一种基于MCU实现SOC测试修调的方法，其特征在于：所述步骤S300中为上位机提供数据查询和分析功能包括使用串行外围设备接口对数据进行存储，所述数据包括测试数据记录和标准文件。5.根据权利要求1所述的一种基于MCU实现SOC测试修调的方法，其特征在于：所述步骤S400测试完成后过程包括通过上位机给主控MCU发送退出的命令码，所述主控MCU通过自定义协议给目标MCU发送退出命令码，退出测试模式。6.一种应用于权利要求1

【专利技术属性】
技术研发人员：孙乾程，王伟，丁颖，朱立明，
申请(专利权)人：海速芯杭州科技有限公司无锡市海速芯业电子科技有限公司深圳海速芯业科技有限公司，
类型：发明
国别省市：