一种芯片检测辅助设备制造技术

本发明专利技术涉及芯片检测技术领域，且公开了一种芯片检测辅助设备，包括检测台，所述检测台的底端固定连接有支撑柱，所述检测台的顶端固定连接有紧固夹持机构，所述紧固夹持机构的内侧活动卡接有检测主体，所述检测主体的端部固定连接有连接插块；本发明专利技术通过设有的紧固夹持机构、检测主体、接通安装板、连接端子、检测连接线束和连接下压机构，便于在对不同规格的芯片进行检测时能够通过紧固夹持机构进行调节，从而能够快速的对检测主体、接通安装板、连接端子、检测连接线束和连接下压机构整体进行快速地更换，同时连接下压机构能够快速地将芯片与接通安装板之间进行连接固定，从而能够快速地且稳定地对芯片进行检测，操作方便。操作方便。操作方便。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片检测辅助设备


[0001]本专利技术涉及芯片检测
，更具体地涉及一种芯片检测辅助设备。

技术介绍

[0002]芯片也就是集成电路，在电子学中是一种将电路（主要包括半导体设备，也包括被动组件等）小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜（thin
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film）集成电路。在对芯片进行加工完成后需要通过检测设备对芯片进行通电检测，然而在对芯片进行检测时，需要对芯片的底部触脚进行连接通电，在检测过程中需要快速的对芯片进行定位，然而在实际的操作过程中，检测设备内部的部件结构较为复杂，为此，需要一种芯片检测辅助设备，来解决该问题，从而能够降低检测设备的成本及提高检测效率。

技术实现思路

[0003]为了克服现有技术的上述缺陷，本专利技术提供了一种芯片检测辅助设备，以解决上述
技术介绍
中存在的问题。
[0004]本专利技术提供的一种芯片检测辅助设备，包括检测台，所述检测台的底端固定连接有支撑柱，所述检测台的顶端固定连接有紧固夹持机构，所述紧固夹持机构的内侧活动卡接有检测主体，所述检测主体的端部固定连接有连接插块，所述检测主体的顶端固定连接有接通安装板，所述接通安装板的顶端设有连接端子，所述接通安装板的表面固定连接有检测连接线束，所述检测主体的内部活动连接有连接下压机构，所述紧固夹持机构包括固定限位框架，所述固定限位框架的内侧开设有与连接插块相适配的固定通孔，所述固定限位框架的一端端部固定连接有第二固定安装块，所述第二固定安装块的一侧固定连接有固定安装框架，所述固定安装框架的内侧活动连接有活动安装底块，所述活动安装底块的表面固定连接有电动伸缩杆，所述连接插块的内部开设有与电动伸缩杆输出端相互贴合的插孔。所述接通安装板的表面外侧固定套接有固定套块，所述固定套块的表面固定连接有固定定位杆，所述固定定位杆的表面外侧活动套接有活动作用臂，所述活动作用臂的表面开设有固定通槽，所述固定通槽的内侧活动连接有连接从动杆，所述连接从动杆的端部固定连接有活动顶块，所述活动作用臂的内侧端部固定连接有连接提拉杆。所述固定限位框架的前表面端部固定连接有第一定位块，所述第一定位块的内部活动连接有活动螺杆，所述活动螺杆的一端固定连接有连接安装盘，所述连接安装盘的表面固定连接有摇动握杆，所述活动螺杆的表面外侧活动套接有第一移动块，所述第一移动块的端部固定连接有第一连接安装臂，所述第一连接安装臂的端部固定连接有连接限位杆，所述连接限位杆的另一端固定连接有第二连接安装臂，所述第二连接安装臂的端部固定连接有第二移动块，所述连接限位杆的表面与活动安装底块的端部相互贴合。
[0005]进一步的，所述活动螺杆的另一端固定连接有第一限位盘，所述活动螺杆的表面外侧固定套接有固定限位卡环，所述固定限位框架的后表面端部固定连接有第二定位块，
所述第二定位块的内部活动连接有固定导向杆，所述固定导向杆的端部固定连接有固定限位盘，所述第二移动块的内部与固定导向杆的表面外侧相互滑动连接。
[0006]进一步的，进一步的，所述连接齿轮与连接卡齿之间相互啮合连接，所述下压板的底端与检测主体的内部相互贴合。
[0007]进一步的，所述连接定位机构包括固定套筒，所述固定套筒的内部活动连接有活动插杆，所述活动插杆的表面外侧固定套接有受力安装套环，所述受力安装套环的一侧固定连接有受力弹簧，所述活动插杆的一端固定连接有连接拉盘。
[0008]本专利技术的技术效果和优点：本专利技术通过设有的紧固夹持机构、检测主体、接通安装板、连接端子、检测连接线束和连接下压机构，便于在对不同规格的芯片进行检测时能够通过紧固夹持机构进行调节，从而能够快速的对检测主体、接通安装板、连接端子、检测连接线束和连接下压机构整体进行快速地更换，同时连接下压机构能够快速地将芯片与接通安装板之间进行连接固定，从而能够快速地且稳定地对芯片进行检测，操作方便。
[0009]本专利技术通过设有的固定套块、固定定位杆、活动作用臂、固定通槽、活动顶块、连接从动杆和连接提拉杆，便于在对芯片检测完成后，将连接提拉杆向上进行抬起，使得活动作用臂能够在固定定位杆的表面外侧进行偏转，带动固定通槽向上进行偏转，对连接从动杆进行托起，从而能够使得活动顶块向上进行移动，从而能够将检测完成后的芯片顶出，从而能够快速地将芯片取出，操作方便。
[0010]本专利技术通过设有的连接风扇和导风管，便于在对芯片检测完成并拿取后，能够通过连接风扇对空气气流进行抽动，通过导风管对接通安装板和连接端子的表面进行吹动，从而能够对接通安装板的顶部和连接端子的内侧进行清理，防止灰尘造成接触不良，影响对芯片的检测结果。
附图说明
[0011]图1为本专利技术的整体结构示意图。
[0012]图2为本专利技术的图1中A处放大结构示意图。
[0013]图3为本专利技术的连接下压机构结构示意图。
[0014]图4为本专利技术的紧固夹持机构结构示意图。
[0015]图5为本专利技术的连接风扇结构示意图。
[0016]图6为本专利技术的连接定位机构结构示意图。
[0017]附图标记为：1、检测台；2、支撑柱；3、紧固夹持机构；4、检测主体；5、接通安装板；6、连接端子；7、检测连接线束；8、连接下压机构；9、下压板；10、连接卡齿；11、第一固定安装块；12、连接齿轮；13、连接转杆；14、连接转盘；15、连接定位机构；16、固定限位框架；17、固定通孔；18、连接插块；19、第二固定安装块；20、固定安装框架；21、活动安装底块；22、电动伸缩杆；23、第一定位块；24、活动螺杆；25、连接安装盘；26、摇动握杆；27、第一移动块；28、第一连接安装臂；29、连接限位杆；30、固定限位卡环；31、第一限位盘；32、连接风扇；33、导风管；34、第二定位块；35、固定导向杆；36、固定限位盘；37、第二连接安装臂；38、第二移动块；39、固定套筒；40、活动插杆；41、受力安装套环；42、受力弹簧；43、连接拉盘；44、固定套块；45、固定定位杆；46、活动作用臂；47、固定通槽；48、活动顶块；49、连接从动杆；50、连接
提拉杆。
实施方式
[0018]下面将结合本专利技术中的附图，对本专利技术中的技术方案进行清楚、完整地描述，另外，在以下的实施方式中记载的各结构的形态只不过是例示，本专利技术所涉及的并不限定于在以下的实施方式中记载的各结构，在本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施方式都属于本专利技术保护的范围。
实施例1
[0019]参照图1
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6，本专利技术提供了一种芯片检测辅助设备，包括检测台1，检测台1的底端固定连接有支撑柱2，检测台1的顶端固定连接有紧固夹持机构3，紧固夹持机构3的内侧活动卡接有检测主体4，检测主体4的端部固定连接有连接插块18，检测主体4的顶端固定连接有接通安装板5，接通安装板5的顶端设有连接端子6，接通安装板5的表面固定连接有检测连接线束7，检测主体4的内部活动连接有连本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片检测辅助设备，包括检测台，其特征在于：所述检测台的底端固定连接有支撑柱，所述检测台的顶端固定连接有紧固夹持机构，所述紧固夹持机构的内侧活动卡接有检测主体，所述检测主体的端部固定连接有连接插块，所述检测主体的顶端固定连接有接通安装板，所述接通安装板的顶端设有连接端子，所述接通安装板的表面固定连接有检测连接线束，所述检测主体的内部活动连接有连接下压机构；所述紧固夹持机构包括固定限位框架，所述固定限位框架的内侧开设有与连接插块相适配的固定通孔，所述固定限位框架的一端端部固定连接有第二固定安装块，所述第二固定安装块的一侧固定连接有固定安装框架，所述固定安装框架的内侧活动连接有活动安装底块，所述活动安装底块的表面固定连接有电动伸缩杆，所述连接插块的内部开设有与电动伸缩杆输出端相互贴合的插孔。2.根据权利要求1所述的一种芯片检测辅助设备，其特征在于：所述接通安装板的表面外侧固定套接有固定套块，所述固定套块的表面固定连接有固定定位杆，所述固定定位杆的表面外侧活动套接有活动作用臂，所述活动作用臂的表面开设有固定通槽，所述固定通槽的内侧活动连接有连接从动杆，所述连接从动杆的端部固定连接有活动顶块，所述活动作用臂的内侧端部固定连接有连接提拉杆。3.根据权利要求1所述的一种芯片检测辅助设备，其特征在于：所述固定限位框架的前表面端部固定连接有第一定位块，所述第一定位块的内部活动连接有活动螺杆，所述活动螺杆的一端固定连接有连接安装盘，所述连接安装盘的表面固定连接有摇动握杆，所述活动螺杆的表面外侧活动套接有第一移动块，所述第一移动块的端部固定连接有第一连接安装臂，所述第一连接安装臂的端部固定连接有连接限位杆，所述连接限位杆的另一端固定连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：宗凤雪，
申请(专利权)人：宗凤雪，
类型：发明
国别省市：