一种微电子生产检测线多线并行在线节拍优化方法技术

技术编号:37321173 阅读:33 留言:0更新日期:2023-04-21 23:01
本发明专利技术涉及微电子生产相关领域,具体为一种微电子生产检测线多线并行在线节拍优化方法,本发明专利技术解决了理论与实际不符导致的生产线效率节拍与估计值严重不符的问题,能够有效地提升并行产线的效率,对于越复杂的并行产线效果越显著。果越显著。果越显著。

【技术实现步骤摘要】
一种微电子生产检测线多线并行在线节拍优化方法


[0001]本专利技术涉及微电子生产相关领域,具体为一种微电子生产检测线多线并行在线节拍优化方法。

技术介绍

[0002]传统离线算法多采用预先模拟,预先制定策略的方式生成生产线多线并行时机器人或AGV的行动路径,这些方法在生产现场环境与仿真或预设参数不一致时会导致无法对现场进行及时的调整和优化,针对上述的问题,设计了一种微电子生产检测线多线并行在线节拍优化方法。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种微电子生产检测线多线并行在线节拍优化方法,通过在线优化并生成最优节拍的控制方法,可应用于以微电子生产或测试为代表的多线并行自动化线体,实时调整控制策略,优化节拍,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种微电子生产检测线多线并行在线节拍优化方法,包括以下步骤;
[0005]步骤S1、设定一套多线并行的生产线,它的N个工作站(可并可串)记为P1,P2,P3,

,P<br/>n
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微电子生产检测线多线并行在线节拍优化方法,其特征在于,包括以下步骤;步骤S1、设定一套多线并行的生产线,它的N个工作站(可并可串)记为P1,P2,P3,

,P
n
,N个工作站的状态分别记为S1,S2,S3,

,S
n
,其中不同工作站之间的动作都会有不同的消耗,记所有可能的动作为A1,A2,A3,

,A
m
,对应的消耗为C1,C2,C3,

,C
m
;步骤S2、当生产线启动时根据每一时刻的状态,系统判断有哪些可执行的动作,并选择合理的动作行动,直至最后所有产品都下线,期间所执行动作的序列记为AR1,AR2,AR3,

,AR
t
,整个序列的消耗为CR1,CR2,CR3,

,CR
t
,即整个生产线的消耗总和为:步骤S3、将步骤S2中理论上的各动作消耗CR1,CR2,CR3,

,CR
t
作为输入,在产线的任意时刻,状态为S
n
,在简单地得到下一个可以达到的状态为S
n+1
,即引入理论消耗值,使用模拟退火算法进行计算,但是由于所有可能的路径中,有相当一部分路径不满足约束条件,在设计模拟退火算法的转移概率矩阵时,将不符合路径的概率定义为...

【专利技术属性】
技术研发人员:李嘉程戴照恩秦梓晨
申请(专利权)人:美氪智能制造江苏有限公司
类型:发明
国别省市:

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