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一种微电子生产检测线多线并行在线节拍优化方法技术
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文档序号:37321173
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本发明涉及微电子生产相关领域,具体为一种微电子生产检测线多线并行在线节拍优化方法,本发明解决了理论与实际不符导致的生产线效率节拍与估计值严重不符的问题,能够有效地提升并行产线的效率,对于越复杂的并行产线效果越显著。果越显著。果越显著。
该专利属于美氪智能制造(江苏)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过美氪智能制造(江苏)有限公司授权不得商用。
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