电容校准系统、方法、设备及存储介质技术方案

本申请提供了一种电容校准系统、方法、设备及存储介质，涉及但不限于设备测试技术领域，通过将切换装置与电容测量装置的测试接口电连接、电极驱动组件的第一电极组件以及第二电极组件与切换装置电连接；通过控制模块控制电极驱动组件的驱动件使得第一电极组件和第二电极组件处于开路状态以及通过控制模块控制驱动件使得第一电极组件和第二电极组件处于短路状态，并分别在开路状态和短路状态时通过电容测量装置和切换装置进行校准以分别得到用于电容校准的第一校准参数和第二校准参数。因此通过控制模块、电机驱动组件以及切换装置实现不同待测通道的开路和短路的自动校准，提升电容的校准效率。提升电容的校准效率。提升电容的校准效率。

【技术实现步骤摘要】
电容校准系统、方法、设备及存储介质


[0001]本申请实施例涉及但不限于设备测试
，尤其涉及一种电容校准系统、方法、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]目前在测试机行业中，往往需要对电容器(如多层陶瓷电容器(MLCC))测量容值及损耗这两个重要参数，此时通常借助于电容测量装置进行容值和损耗的测量。但是，在电容测量装置使用前，往往需要完成开路、短路两项校准，但是相关技术中电容测量装置无法实现内部编程，因此需要人为进行校准。以电容测量装置为电容计E4981A为例，在进行测量之前，在无被测物时，需要先进行开路以及短路的测量，且由于电容计上待测量的通道较多，需要逐一测试，从而导致校准时间较长，因此，需要一种方式能提升电容测量装置的电容的校准效率。

技术实现思路

[0003]以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
[0004]本申请实施例提供了一种电容校准系统、方法、设备及存储介质，能提升电容测量装置的电容的校准效率。
[0005]第一方面，根据本申请一些实施例提供的一种电容校本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电容校准系统，其特征在于，所述电容校准系统包括：电容测量装置；切换装置，所述切换装置与所述电容测量装置的测试接口电连接；电极驱动组件，所述电极驱动组件包括驱动件、第一电极组件以及第二电极组件，所述驱动件的驱动端与所述第一电极组件连接，所述第一电极组件以及所述第二电极组件均与所述切换装置电连接；控制模块，所述控制模块与所述切换装置、所述电容测量装置以及所述驱动件均通信连接，所述控制模块用于控制所述驱动件使得所述第一电极组件和所述第二电极组件处于开路状态并通过所述电容测量装置和所述切换装置进行开路校准得到的第一校准参数，所述控制模块还用于控制所述驱动件使得所述第一电极组件和所述第二电极组件处于短路状态并通过所述电容测量装置和所述切换装置进行短路校准得到的第二校准参数，所述第一校准参数和所述第二校准参数用于对所述电容测量装置进行电容校准。2.根据权利要求1所述的电容校准系统，其特征在于，所述控制模块还用于：获取所述电容测量装置的待测通道集以及当前的校准流程类别；遍历所述待测通道集并生成所述待测通道集中每一待测通道的通道片选请求；向所述电容测量装置以及所述切换装置发送所述通道片选请求；将所述电容测量装置的校准状态设置为关闭状态，并触发所述电容测量装置对所述待测通道进行校准；从所述电容测量装置中读取所述待测通道的校准值；当所述校准流程类别为开路校准，将所述校准值作为第一校准参数；当所述校准流程类别为短路校准，将所述校准值作为第二校准参数。3.根据权利要求1所述的电容校准系统，其特征在于，所述电容校准系统还包括显示模块，所述控制模块还用于：将所述第一校准参数与预设的开路校准阈值进行开路校验；当开路校验结果显示校验不合格，控制所述显示模块将所述第一校准参数的待测通道用第一颜色填充。4.根据权利要求3所述的电容校准系统，其特征在于，所述第一校准参数与所述电容测量装置的待测通道一一对应，所述待测通道设置有多个，所述控制模块还用于：将多个所述第一校准参数进行第一极差计算；当所述第一极差计算的计算结果大于预设的开路极值阈值，控制所述显示模块显示开路校准不良信息。5.根据权利要求1所述的电容校准系统，其特征在于，所述电容校准系统还包括显示模块，所述控制模块还用于：将所述第二校准参数与预设的短路标准阈值进行短路校验；当短路校验结果显示校验不合格，控制所述显示模块将所述第二校准参数的待测通道用第二颜色填充。6.根据权利要求5所述的电容校准系统，其特征在于，所述第二校准参数与所述电容测量装置的待测通道一一对应，所述待测通道设置有多个，所述控制模块还用于：将多个所述第二校准参数进行第二极差计算；
当所述第二极差计算的计算结果大于预设的短路极值阈值，控制所述显示模块显示短路校准不良信息。7.根据权利要求1所述的电容校准系统，其特征在于，所述控制模块还用于：控制所述驱动件回零并获取被测物的高度；根据所述高度，控制所述驱动件驱动所述第一电极组件沿竖直方向移动，直至所述第一电极组件和所述第二电极组件之间的间距为所述高度。8.一种电容校准方法，其特征在于，所述校准方法应用于电容校准系统，所述电容校准系统包括：电容测量装置、切换装置以及电极驱动组件，所述切换装置与所述电容测量装置的测试接口电连接；所述电极驱动组件包括驱动件...

【专利技术属性】
技术研发人员：张岩晨，吴海城，刘锋，龚博，周浩贤，
申请(专利权)人：珠海市奥德维科技有限公司，
类型：发明
国别省市：