波纹管的剩余使用寿命确定方法、装置、设备和存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种波纹管的剩余使用寿命确定方法、装置、设备和存储介质。所述方法包括：获取待测波纹管在目标温度下的目标高度；根据所述待测波纹管的初始高度和所述目标高度，确定目标高度比；基于所述待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，根据所述目标温度，确定目标性能变化速率；根据所述目标性能变化速率和所述目标高度比，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命。该方法为合理的确定待测波纹管的剩余使用寿命提供了一种可选方式。纹管的剩余使用寿命提供了一种可选方式。纹管的剩余使用寿命提供了一种可选方式。

【技术实现步骤摘要】
波纹管的剩余使用寿命确定方法、装置、设备和存储介质


[0001]本申请涉及计算机
，特别是涉及一种波纹管的剩余使用寿命确定方法、装置、设备和存储介质。

技术介绍

[0002]随着仪器仪表产业的发展，出现了波纹管。波纹管是指用可折叠皱纹片沿折叠伸缩方向连接成的管状弹性敏感元件，将压力转换成位移或力，作为测量仪表的测量元件。波纹管管壁较薄，灵敏度较高，测量范围为数十帕至数十兆帕，经常用于安装在飞机，火箭等重要设备的关键部位测量压力。因此确定波纹管的使用寿命对于设备的运行安全具有重要意义。
[0003]传统技术中，只能通过将波纹管拆下来进行全面检查确定波纹管的剩余使用寿命。这样不仅增加了检查人员的工作量，而且反复拆装会对波纹管的测量精度产生影响。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种波纹管的剩余使用寿命确定方法、装置、设备和存储介质，无需拆卸波纹管，即可精准确定波纹管剩余使用寿命。
[0005]第一方面，本申请提供了一种波纹管的剩余使用寿命确定方法。所述方法包括：
[0006]获取待测波纹管在目标温度下的目标高度；
[0007]根据所述待测波纹管的初始高度和所述目标高度，确定目标高度比；
[0008]基于所述待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，根据所述目标温度，确定目标性能变化速率；
[0009]根据所述目标性能变化速率和所述目标高度比，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命。
[0010]在其中一个实施例中，根据所述目标性能变化速率和所述目标高度比，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命，包括：
[0011]根据所述目标高度比和所述待测波纹管的寿命调节参数，确定调整高度比；
[0012]根据所述调整高度比和所述目标性能变化速率，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命。
[0013]在其中的一个实施例中，根据所述调整高度比和所述目标性能变化速率，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命，包括：
[0014]将所述调整高度比与所述目标性能变化速率之间的比值，作为所述待测波纹管的剩余使用寿命。
[0015]在其中的一个实施例中，上述的波纹管的剩余使用寿命确定方法还包括：
[0016]根据所述初始高度，以及标准波纹管在每一测试温度下不同使用天数的测试高度，确定所述标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率；其中，所述标准波纹管与所述待测波纹管的型号相同；
[0017]根据所述标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系。
[0018]在其中一个实施例中，根据所述初始高度，以及标准波纹管在每一测试温度下不同使用天数的测试高度，确定所述标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，包括：
[0019]针对每一测试温度，根据所述初始高度，以及所述标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度，确定所述标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度比；
[0020]根据通用高度比模型，以及所述标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度比，确定所述标准波纹管在该测试温度下的测试性能变化速率。
[0021]在其中的一个实施中，根据所述标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系，包括：
[0022]基于阿伦尼斯方程，根据所述标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系。
[0023]第二方面，本申请还提供了一种波纹管的剩余使用寿命确定装置。所述装置包括：
[0024]高度获取模块，用于获取待测波纹管在目标温度下的目标高度；
[0025]第一确定模块，用于根据所述待测波纹管的初始高度和所述目标高度，确定目标高度比；
[0026]第二确定模块，用于基于所述待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，根据所述目标温度，确定目标性能变化速率；
[0027]第三确定模块，用于根据所述目标性能变化速率和所述目标高度比，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命。
[0028]第三方面，本申请还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
[0029]获取待测波纹管在目标温度下的目标高度；
[0030]根据所述待测波纹管的初始高度和所述目标高度，确定目标高度比；
[0031]基于所述待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，根据所述目标温度，确定目标性能变化速率；
[0032]根据所述目标性能变化速率和所述目标高度比，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命。
[0033]第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
[0034]获取待测波纹管在目标温度下的目标高度；
[0035]根据所述待测波纹管的初始高度和所述目标高度，确定目标高度比；
[0036]基于所述待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，根据所述目标温度，确定目标性能变化速率；
[0037]根据所述目标性能变化速率和所述目标高度比，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命。
[0038]第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品，包括计算
机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
[0039]获取待测波纹管在目标温度下的目标高度；
[0040]根据所述待测波纹管的初始高度和所述目标高度，确定目标高度比；
[0041]基于所述待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，根据所述目标温度，确定目标性能变化速率；
[0042]根据所述目标性能变化速率和所述目标高度比，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命。
[0043]上述波纹管的剩余使用寿命确定方法、装置、设备和存储介质，通过测定待测波纹管的目标温度，根据待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，即可确定待测波纹管的在目标温度下的目标性能变化速率，然后测定待测波纹管的目标高度来确定待测波纹管的目标高度比，进而通过对待测波纹管的目标性能变化速率以及目标高度比进行分析，即可精准确定待测波纹管的剩余使用寿命。上述方案，相比于传统确定波纹管剩余使用寿命的方式而言，无需拆卸波纹管，避免了拆卸对波纹管性能的影响，同时降低了人工成本，为合理且精准确定待测波纹管的剩余使用寿命提供了一种可选方式。
附图说明
[0044]图1为一个实施例中波纹管的剩余使用寿命确定方法的应用环境图；
[0045]图2为一个实施例中波纹管的剩余使用寿命确定方法的流程示意图；
[0046]图3为一个实施例中波纹管的剩余使用寿命确定方法细节步骤示意图；
[0047]图4为一个实施例中确定波纹管的温度与性能变化速率之间的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种波纹管的剩余使用寿命确定方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测波纹管在目标温度下的目标高度；根据所述待测波纹管的初始高度和所述目标高度，确定目标高度比；基于所述待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，根据所述目标温度，确定目标性能变化速率；根据所述目标性能变化速率和所述目标高度比，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标性能变化速率和所述目标高度比，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命，包括：根据所述目标高度比和所述待测波纹管的寿命调节参数，确定调整高度比；根据所述调整高度比和所述目标性能变化速率，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述调整高度比和所述目标性能变化速率，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命，包括：将所述调整高度比与所述目标性能变化速率之间的比值，作为所述待测波纹管的剩余使用寿命。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据所述初始高度，以及标准波纹管在每一测试温度下不同使用天数的测试高度，确定所述标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率；其中，所述标准波纹管与所述待测波纹管的型号相同；根据所述标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述初始高度，以及标准波纹管在每一测试温度下不同使用天数的测试高度，确定所述标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，包括：针对每一测试温度，根据所述初始...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟云龙，王学孔，何宗科，汪凯蔚，唐庆云，周阳红生，黄永华，颜镠钏，丁榕，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：