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本申请涉及一种波纹管的剩余使用寿命确定方法、装置、设备和存储介质。所述方法包括：获取待测波纹管在目标温度下的目标高度；根据所述待测波纹管的初始高度和所述目标高度，确定目标高度比；基于所述待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，根据所述...该专利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））授权不得商用。