一种带有测试工装结构的激光器芯片测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种带有测试工装结构的激光器芯片测试装置，属于芯片领域，用于解决了芯片需要一一检测的问题，包括检测台和测试工装机构，检测台具有若干个测试槽，每个所述测试槽内设有用于存放芯片的放置台所述检测台底部固定有底台，所述移动滑轨的导向块连接于测试工装机构，带动所述测试工装机构作往复运动，本实用新型专利技术工作人员只需事先设置好程序，就可以使两个移动滑轨以及气缸自动运作，使检测触杆有调序的对芯片进行依次检测，工作人员就可进行其他工作，过一定时间后就可进行通过观测检测数据，对同一批的芯片生产质量进行掌握。行掌握。行掌握。

【技术实现步骤摘要】
一种带有测试工装结构的激光器芯片测试装置


[0001]本技术属于芯片领域，涉及芯片测试技术，具体为一种带有测试工装结构的激光器芯片测试装置。

技术介绍

[0002]随着芯片模组一体化集成成为趋势，模组功能趋向复杂化、多功能化，例如SIP模组等，现在车间内生产时，需要对芯片进行抽量检查，从而判断这一批生产的芯片是否满足性能以及质量的需求，对芯片的检查方式为采用接电的方式，去判断芯片内部的电路是否合格，为此采用检测触杆的方式，对内部芯片导电，看是否形成回路，进行检测，而现车间检测，需要工作人员将不同类型的芯片放置在检测台上，进行一一检测，需要大量的人力辅助，为此造成人力资源的浪费，需要工作人员在检测台旁进行时刻操作，耗时耗力。为此，我们提出一种带有测试工装结构的激光器芯片测试装置。

技术实现思路

[0003]针对现有技术存在的不足，本技术目的是提供一种带有测试工装结构的激光器芯片测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]本技术的目的可以通过以下技术方案实现：
[0005]一种带有测试工装结构的激光器芯片本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种带有测试工装结构的激光器芯片测试装置，包括检测台(1)和测试工装机构(3)，检测台(1)具有若干个测试槽(5)，每个所述测试槽(5)内设有用于存放芯片的放置台(7)，其特征在于，所述检测台(1)底部固定有底台(2)，所述底台(2)内部设置有移动机构(6)，所述移动机构(6)带动每个所述放置台(7)作同步升降运动，所述检测台(1)中间设有移动滑轨(4)，所述移动滑轨(4)的导向块连接于测试工装机构(3)，带动所述测试工装机构(3)作往复运动；所述测试工装机构(3)包括Y型杆(301)，所述Y型杆(301)的侧壁与移动滑轨(4)的导向块固定连接，所述Y型杆(301)的横向杆延伸至检测台(1)的两侧正上方，所述Y型杆(301)的横向杆设置有第二移动滑轨(302)，所述第二移动滑轨(302)的导向块设置有与芯片所配合的检测触杆(305)，带动所述检测触杆(305)作往复运动。2.根据权利要求1所述的一种带有测试工装结构的激光器芯片测试装置，其特征在于，位于移动滑轨(4)两侧的所述测试槽(5)数量相等，所述第二移动滑轨(302)的导向块固定连接有夹持件(303)，所述夹持件(303)内壁固定有气缸(304)。3.根据权利要求2所述的一...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱华，杨惠婷，黄兴，
申请(专利权)人：无锡市华辰芯光半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：