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本实用新型提供一种带有测试工装结构的激光器芯片测试装置,属于芯片领域,用于解决了芯片需要一一检测的问题,包括检测台和测试工装机构,检测台具有若干个测试槽,每个所述测试槽内设有用于存放芯片的放置台所述检测台底部固定有底台,所述移动滑轨的导向块...该专利属于无锡市华辰芯光半导体科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过无锡市华辰芯光半导体科技有限公司授权不得商用。
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