一种盘状试样的铝合金四板无损检测方法技术

本发明专利技术公开了一种盘状试样的铝合金四板无损检测方法，包括铝合金四板，所述铝合金四板呈盘体状，其厚度从中心到四周边缘逐渐变小，其特征在于，使用X射线机对所述铝合金四板进行无损检测，包括以下步骤：S101：根据铝合金四板的检测位置选择底片；S102：使用带箭头的十字形铅块在铝合金四板上标记；S103：将要检测的铝合金四板放置在底片上，使用X射线机进行单次无损检测。本发明专利技术填补了目测和显微镜观察无法完全找到铸造缺陷的空白，找到铸造缺陷在铝合金四板中的具体位置，为保障专用设备平稳安全运行提供数据支撑。稳安全运行提供数据支撑。稳安全运行提供数据支撑。

【技术实现步骤摘要】
一种盘状试样的铝合金四板无损检测方法


[0001]本专利技术属于无损探伤检测的
，特别是一种盘状试样的铝合金四板无损检测方法。

技术介绍

[0002]铝合金四板是某专用设备的重要零件，目前铝合金四板的加工工艺为原料经过熔炼浇铸和机加工去黑皮后得到铝合金锻坯，铝合金锻坯经两次模锻和热处理后得到铝合金模锻件，铝合金模锻件经过机械加工后，最终得到铝合金四板的成品件。但在铝合金四板成品件的实际生产中，有一定概率会在浇铸过程中产生气孔、夹杂和冷隔等铸造缺陷。铸造缺陷的存在可能导致设备在运行过程中出现铝合金四板开裂现象，发生设备的失效、功耗增大或炸机等情况。
[0003]为了将存在铸造缺陷的铝合金四板检出，现阶段主要使用目测和显微镜观察的方法对铝合金四板表面是否存在铸造缺陷进行判定。由于人工检测存在一定的漏检率，并且不能发现埋藏型铸造缺陷，不能保证使用目测观察的铝合金四板完全合格。因此，设计一种适合于铝合金四板的裂纹检测方法非常必要，现有技术中，射线探伤是利用X射线等能够穿透材料的特性，并由于材料对射线的吸收和散射作用的不同，当射线穿过铸造缺陷时，射线的强度会发生一定改变，从而使胶片感光不一样，在底片上形成黑度不同的影像，据此判断材料内部缺陷情况的检测方法。
[0004]针对铝合金四板材料，从边缘到中心盘体部分的厚度是逐渐增加的，由于铝合金四板的本身厚度不均匀，无法单次检验对整个盘体进行检测。一个铝合金四板需要划分出3个厚度区域，共需要检测3次。同时由于铝合金四板整体为圆盘状，各方向形状一致，只能判断铝合金四板是否存在缺陷，距离边缘的距离，无法将底片上的缺陷位置，对应到铝合金四板上，对后续进一步分析造成一定的困难。
[0005]综上所述，解决上述技术问题的意义在于：填补目测和显微镜观察无法完全找到铸造缺陷的空白，能够找到铸造缺陷在铝合金四板中的具体位置，为保障专用设备平稳安全运行提供数据支撑。

技术实现思路

[0006]根据上述提出的问题，本专利技术提出了一种盘状试样的铝合金四板无损检测方法。
[0007]一种盘状试样的铝合金四板无损检测方法，包括铝合金四板，所述铝合金四板呈盘体状，其厚度从中心到四周边缘逐渐变小，使用X射线机对所述铝合金四板进行无损检测，包括以下步骤：
[0008]S101：根据铝合金四板的检测位置选择底片；
[0009]S102：使用带箭头的十字形铅块在铝合金四板上标记；
[0010]S103：将要检测的铝合金四板放置在底片上，使用X射线机进行单次无损检测。
[0011]优选的，所述步骤S101中，所述铝合金四板的检测位置包括盘体边缘检测和盘体
中心检测；
[0012]进行盘体边缘检测采用双底片进行检测；
[0013]进行盘体中心检测采用单底片进行检测。
[0014]进一步优选的，所述双底片包括1张高感光度底片和1张低感光度底片，从上到下依次叠放。
[0015]进一步优选的，所述步骤S102中，所述铝合金四板上设有隔离布，所述十字形铅块放置在所述隔离布上。
[0016]进一步优选的，所述隔离布上画有箭头，所述箭头和所述十字形铅块的箭头方向保持一致。
[0017]进一步优选的，所述步骤S103中，所述铝合金四板的盘体朝上放在所述底片上。
[0018]进一步优选的，所述底片上放置4块铝合金四板。
[0019]进一步优选的，4块所述铝合金四板呈田字形摆放在所述底片上。
[0020]进一步优选的，进行盘体边缘检测时，所述X射线机设置参数为57KV、30MA，照射时间1分钟。
[0021]进一步优选的，进行盘体中心检测时，所述X射线机设置参数为70KV、30MA照射时间1分钟。
[0022]结合上述的所有技术方案，本专利技术所具备的优点及积极效果为：
[0023]1、运用本测试方法，可以得到铝合金四板是否存在铸造缺陷的判据，找到铸造缺陷在铝合金四板中的具体位置，为保障专用设备平稳安全运行提供数据支撑，该测试方法适用性良好，满足了铝合金四板铸造缺陷无损检测的需要。
[0024]2、使用本测试方法对X射线机参数定义后，对铝合金四板进行X射线无损探伤，解决了专用设备因为铝合金四板存在铸造缺陷而出现的失效情况，为专用设备的研制和项目顺利进行提供了保障。
附图说明
[0025]以下将结合附图和实施例来对本专利技术的技术方案作进一步的详细描述，但是应当知道，这些附图仅是为解释目的而设计的，因此不作为本专利技术范围的限定。此外，除非特别指出，这些附图仅意在概念性地说明此处描述的结构构造，而不必要依比例进行绘制。
[0026]图1是本专利技术中铝合金四板示意图；
[0027]图2是本专利技术中铝合金四板的边缘厚度变化示意图；
[0028]图3是本专利技术中无损检测过程示意图；
[0029]图4是本专利技术中底片添加标记的示意图；
[0030]图5为检测发现缺陷后对缺陷的磨剖图一；
[0031]图6为检测发现缺陷后对缺陷的磨剖图二。
[0032]图中：
[0033]1‑
铝合金四板；2
‑
底片；3
‑
X射线机；4
‑
标记处；5
‑
缺陷处；6
‑
X射线照射范围。
具体实施方式
[0034]首先，需要说明的是，以下将以示例方式来具体说明本专利技术的具体结构、特点和优
点等，然而所有的描述仅是用来进行说明的，而不应将其理解为对本专利技术形成任何限制。此外，在本文所提及各实施例中予以描述或隐含的任意单个技术特征，或者被显示或隐含在各附图中的任意单个技术特征，仍然可在这些技术特征(或其等同物)之间继续进行任意组合或删减，从而获得可能未在本文中直接提及的本专利技术的更多其他实施例。另外，为了简化图面起见，相同或相类似的技术特征在同一附图中可能仅在一处进行标示。
[0035]在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置”、“连接”、“固定”、“旋接”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0036]下面结合附图1
‑
6具体说明本专利技术。
[0037]实施例1：
[0038]一种盘状试样的铝合金四板无损检测方法，包括铝合金四板1，所述铝合金四板1呈盘体状，其厚度从中心到四周边缘逐渐变小，使用X射线机3对所述铝合金四板1进行无损检测，包括以下步骤：
[0039]S101：根据铝合金四板1的检测位置选择底片2；
[0040]S102：使用带箭头的十字形铅块在铝合金四板1上标记；
[0041]S103：本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种盘状试样的铝合金四板无损检测方法，包括铝合金四板，所述铝合金四板呈盘体状，其厚度从中心到四周边缘逐渐变小，其特征在于，使用X射线机对所述铝合金四板进行无损检测，包括以下步骤：S101：根据铝合金四板的检测位置选择底片；S102：使用带箭头的十字形铅块在铝合金四板上标记；S103：将要检测的铝合金四板放置在底片上，使用X射线机进行单次无损检测。2.根据权利要求2所述的一种盘状试样的铝合金四板无损检测方法，其特征在于：所述步骤S101中，所述铝合金四板的检测位置包括盘体边缘检测和盘体中心检测；进行盘体边缘检测采用双底片进行检测；进行盘体中心检测采用单底片进行检测。3.根据权利要求2所述的一种盘状试样的铝合金四板无损检测方法，其特征在于：所述双底片包括1张高感光度底片和1张低感光度底片，从上到下依次叠放。4.根据权利要求3所述的一种盘状试样的铝合金四板无损检测方法，其特征在于：所述步骤S102中，所述铝合金四板上设有隔离布，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：张毅，吴福，李昂，陈开媛，高蔚，
申请(专利权)人：核工业理化工程研究院，
类型：发明
国别省市：