一种转子对称度快速测量的方法技术

本发明专利技术提供一种转子对称度快速测量的方法，包括如下步骤：S1，设置一固定座并将其位置固定，将所述转子正面朝上放置在所述固定座上，通过千分表测量所述转子外轮廓上的某一点位置得到第一次数值；S2，千分表位置固定不动，将转子翻转，转子的反面朝上放置在所述固定座上，通过千分表测量所述转子外轮廓的同一位置得到第二次数值；S3，将两次数值相减得到的数值，即为转子外轮廓相对于内花键的对称度值，该对称度值小于对称度要求值的产品为合格品。本发明专利技术具有快速、准确、简单、方便等优点。方便等优点。方便等优点。

【技术实现步骤摘要】
一种转子对称度快速测量的方法


[0001]本专利技术涉及模具领域，具体涉及一种转子对称度快速测量的方法。

技术介绍

[0002]如附图1是一种转子的产品图，其中外轮廓相对于内花键有对称度的要求0.1(产品图为英制尺寸)，生产时只能将产品送精测室用三坐标来测量，此测量方式效率较低，而且过程控制麻烦，生产时需要等待测量结果，造成浪费。
[0003]因此，有必要提供一种新的技术方案。

技术实现思路

[0004]为解决现有技术中存在的技术问题，本专利技术公开了一种转子对称度快速测量的方法，具体技术方案如下所述：
[0005]本专利技术提供一种转子对称度快速测量的方法，包括如下步骤：
[0006]S1，设置一固定座并将其位置固定，所述固定座外侧轮廓形状与所述转子内侧花键形状相匹配，将所述转子正面朝上放置在所述固定座上，通过千分表测量所述转子外轮廓上的某一点位置得到第一次数值；
[0007]S2，千分表位置固定不动，将转子翻转，转子的反面朝上放置在所述固定座上，通过千分表测量所述转子外轮廓的同一位置得到第二次数值；
[0008]S3，将两次数值相减得到的数值，即为转子外轮廓相对于内花键的对称度值，该对称度值小于对称度要求值的产品为合格品。
[0009]优选的，所述对称度要求值为0.1。
[0010]优选的，所述千分表与所述固定座的位置相对固定，所述千分表两次均测量转子外轮廓的同一位置。
[0011]优选的，所述固定座为一涨套，可向外膨胀将转子夹紧固定。
[0012]优选的，所述某一位置为转子外轮廓上随机的一位置。
[0013]本专利技术具有以下有益效果：
[0014]1、本专利技术提供的转子对称度快速测量的方法，能直接在现场工作台旁快速、准确的判定产品对称度是否合格。
[0015]2、本专利技术提供的转子对称度快速测量的方法，设备简单、操作方便，易于实施。
[0016]本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以
根据这些附图获得其它附图。
[0018]图1是本专利技术实施例提供的转子对称度快速测量的设备结构示意图。
具体实施方式
[0019]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0020]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或者元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0021]在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0022]本专利技术公开了一种转子对称度快速测量的方法，参考图1，其包括下步骤：
[0023]S1，设置一固定座1并将其位置固定，所述固定座1外侧轮廓形状与所述转子2内侧花键形状相匹配，将所述转子2正面朝上放置在所述固定座1上，通过千分表3测量所述转子2外轮廓上的某一点位置得到第一次数值；
[0024]S2，千分表3位置固定不动，将转子2翻转，转子2的反面朝上放置在所述固定座1上，通过千分表测量所述转子2外轮廓的同一位置得到第二次数值；
[0025]S3，将两次数值相减得到的数值，即为转子2外轮廓相对于内花键的对称度值，该对称度值小于对称度要求值的产品为合格品。
[0026]一个实施例中，所述对称度要求值为0.1。
[0027]所述千分表3与所述固定座1的位置相对固定，所述千分表3两次均测量转子外轮廓的同一位置。
[0028]所述固定座1为一涨套，可向外膨胀将转子2夹紧固定。
[0029]所述某一位置为转子2外轮廓上随机的一位置。
[0030]本专利技术的工作原理是：设置一固定座，固定座外轮廓与转子内花键的结构相匹配，将转子套在固定座上并将其固定，用千分表随机测量转子外轮廓某一点得到第一次数值，固定千分表位置，将转子翻转之后继续测量同一点得到第二次数值，两次数值相减得到的值即为该转子外轮廓相对于内花键的对称度值，将该对称度值与要求的对称度值比较，小于要求的对称度值的产品即为合格品，检测过程快速、准确、方便。
[0031]在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本专利技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的
一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，本领域人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例进行接合和组合。
[0032]尽管上面已经示出和描述了本专利技术的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本专利技术的限制，本领域的普通技术人员在本专利技术的范围内可以对上述实施例进行变化、修改和变型。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种转子对称度快速测量的方法，其特征在于，包括如下步骤：S1，设置一固定座并将其位置固定，所述固定座外侧轮廓形状与所述转子内侧花键形状相匹配，将所述转子正面朝上放置在所述固定座上，通过千分表测量所述转子外轮廓上的某一点位置得到第一次数值；S2，千分表位置固定不动，将转子翻转，转子的反面朝上放置在所述固定座上，通过千分表测量所述转子外轮廓的同一位置得到第二次数值；S3，将两次数值相减得到的数值，即为转子外轮廓相对于内花键的对称度值，该对称度值小于对称度要求值的...

【专利技术属性】
技术研发人员：王荣波，钱伟，倪煜鹏，季成，束剑鹏，
申请(专利权)人：江苏理研科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：