一种装配质量评价方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种装配质量评价方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取光学系统中的拍摄装置在不同位置拍摄标定板得到的评价图像序列，所述标定板的位置预先设定；根据所述评价图像序列中各图像的图像块的光斑，确定对应图像块的全宽半高；根据所述图像块的全宽半高和清晰度，确定所述光学系统中拍摄装置的装配质量。结合图像块的全宽半高以及图像块的清晰度这两个维度，可以确定光学系统中拍摄装置的装配质量。采用本发明专利技术的技术方案，既无需构建复杂的数学模型，又不用借助高精度的光学检测仪器进行标定，成本较低、计算复杂度低，实现方便、快捷。快捷。快捷。

【技术实现步骤摘要】
一种装配质量评价方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及图像处理
，尤其涉及一种装配质量评价方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在基因测序领域，DNA序列的识别主流方案是通过高分辨率的成像系统采集携带核酸的荧光信号，并通过碱基识别系统鉴定荧光信号对应的碱基类型。那么碱基识别的准确度与光学成像系统生成的荧光信号图像的质量直接相关。因此，光学系统生成的荧光图像的成像质量直接影响到基因测序仪最终获取的DNA序列的准确度。
[0003]对于基因测序仪中的光学系统而言，拍摄装置的装配质量将直接影响到光学系统生成荧光图的质量。目前，可以在测序现场下将拍摄装置装配到光学系统中，通过对拍摄装置存在的误差构建数学模型，根据数学模型的输出结果，确定拍摄装置的装配质量；或者，在要求较高的实验环境下将拍摄装置装配到光学系统中，利用高精度的光学检测仪器对拍摄装置进行标定，通过标定结果确定拍摄装置的装配质量。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种装配质量评价方法、装置、设备及存储介质，可以方便快捷的确定光学系统中拍摄装置的装配质量。
[0005]根据本专利技术的第一方面，提供了一种装配质量评价方法，该方法包括：
[0006]获取光学系统中的拍摄装置在不同位置拍摄标定板得到的评价图像序列，所述标定板的位置预先设定；
[0007]根据所述评价图像序列中各图像的图像块的光斑，确定对应图像块的全宽半高；
[0008]根据所述图像块的全宽半高和清晰度，确定所述光学系统中拍摄装置的装配质量。
[0009]可选的，所述获取光学系统中的拍摄装置在不同位置拍摄标定板得到的评价图像序列，包括：
[0010]获取所述拍摄装置在多个位置拍摄所述标定板得到的原始图像序列；
[0011]根据所述原始图像序列的清晰度，确定所述拍摄装置的对焦位置；
[0012]获取所述拍摄装置在所述对焦位置以及以离焦区域内的多个离焦位置拍摄所述标定板得到的评价图像序列，所述离焦区域以所述对焦位置为中心，所述离焦区域的区域边缘位置与所述对焦位置的距离预先设定。
[0013]可选的，所述根据所述评价图像序列中各图像的图像块的光斑，确定对应图像块的全宽半高，包括：
[0014]将各图像按照相同的方式切分为P个图像块，P为大于等于2的正整数；
[0015]拟合所述图像块中的光斑，得到对应图像块的全宽半高。
[0016]进一步的，所述将各图像按照相同的方式切分为P个图像块，包括：
[0017]将各图像进行预处理，预处理后的图像相对于处理前的图像清晰度高；
[0018]将所述预处理后的图像按照相同的方式切分为P个图像块。
[0019]可选的，所述拟合所述图像块中的光斑，得到对应图像块的全宽半高，包括：
[0020]对所述图像块中的光斑依次进行高斯拟合，根据各光斑的高斯拟合结果确定对应图像块的全宽半高。
[0021]可选的，所述根据所述图像块的全宽半高和清晰度，确定所述光学系统中拍摄装置的装配质量，包括：
[0022]根据各图像中的第X个图像块中清晰度最高的图像块对应的第一图像的第一拍摄位置，确定拍摄位置与所述第一拍摄位置的距离小于等于距离阈值的第二图像，其中1≤X≤P；
[0023]根据第三图像中的第X个图像块的全宽半高、第三图像的拍摄位置、第四图像中的第X个图像块的全宽半高以及第四图像的拍摄位置，进行抛物线拟合，得到第X个拟合全宽半高，其中，所述第三图像为所述第一图像和第二图像中全宽半高最小的图像块对应的图像，所述第四图像为所述第三图像前后的N张图像，所述N预先设定，所述N为正整数；
[0024]根据P个拟合全宽半高至少确定所述拍摄装置装配时光照分布均匀度和光照清晰度之一，并根据所述光照分布均匀度和光照清晰度至少之一确定所述拍摄装置的装配质量。
[0025]进一步的，所述根据P个拟合全宽半高至少确定所述拍摄装置装配时光照分布均匀度和光照清晰度之一，包括：
[0026]根据所述P个拟合全宽半高的均值和标准差，确定第一阈值范围；
[0027]所述P个拟合全宽半高都在所述第一阈值范围内，则所述拍摄装置装配时光照分布均匀度分布在均匀度阈值范围内；
[0028]所述P个拟合全宽半高的均值在第二阈值范围内，则所述拍摄装置装配时光照清晰度小于等于清晰度阈值，所述第二阈值范围与所述拍摄装置的性能参数对应。
[0029]根据本专利技术的第二方面，提供了一种装配质量评价装置，该装置包括：
[0030]获取模块，用于获取光学系统中的拍摄装置在不同位置拍摄标定板得到的评价图像序列，所述标定板的位置预先设定；
[0031]计算模块，用于根据所述评价图像序列中各图像的图像块的光斑，确定对应图像块的全宽半高；
[0032]评价模块，用于根据所述图像块的全宽半高和清晰度，确定所述光学系统中拍摄装置的装配质量。
[0033]根据本专利技术的第三方面，提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器实现如本专利技术任一实施例所述的装配质量评价方法。
[0034]根据本专利技术的第四方面，提供了一种计算机可读存储存储介质，所述计算机指令用于使所述计算机执行如本专利技术任一实施例所述装配质量评价方法。
[0035]本专利技术提供的一种装配质量评价方法、装置、设备及存储介质。通过获取光学系统中的拍摄装置在不同位置拍摄标定板得到的评价图像序列，所述标定板的位置预先设定；
根据所述评价图像序列中各图像的图像块的光斑，确定对应图像块的全宽半高；根据所述图像块的全宽半高和清晰度，确定所述光学系统中拍摄装置的装配质量。根据光学系统中的拍摄装置拍摄标定板的评价图像序列中图像块的光斑，确定图像块的全宽半高，图像块的全宽半高可以体现图像块的光斑能量集中情况，结合图像块的全宽半高以及图像块的清晰度这两个维度，可以确定光学系统中拍摄装置的装配质量。采用本专利技术的技术方案，既无需构建复杂的数学模型，又不用借助高精度的光学检测仪器进行标定，成本较低、计算复杂度低，实现方便、快捷。
[0036]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0037]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0038]图1是根据本专利技术实施例提供的一种装配质量评价方法的流程示意图；
[0039]图2是根据本专利技术实施例提供的一种拍摄装置在不同拍摄本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种装配质量评价方法，其特征在于，所述方法包括：获取光学系统中的拍摄装置在不同位置拍摄标定板得到的评价图像序列，所述标定板的位置预先设定；根据所述评价图像序列中各图像的图像块的光斑，确定对应图像块的全宽半高；根据所述图像块的全宽半高和清晰度，确定所述光学系统中拍摄装置的装配质量。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取光学系统中的拍摄装置在不同位置拍摄标定板得到的评价图像序列，包括：获取所述拍摄装置在多个位置拍摄所述标定板得到的原始图像序列；根据所述原始图像序列的清晰度，确定所述拍摄装置的对焦位置；获取所述拍摄装置在所述对焦位置以及以离焦区域内的多个离焦位置拍摄所述标定板得到的评价图像序列，所述离焦区域以所述对焦位置为中心，所述离焦区域的区域边缘位置与所述对焦位置的距离预先设定。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述评价图像序列中各图像的图像块的光斑，确定对应图像块的全宽半高，包括：将各图像按照相同的方式切分为P个图像块，P为大于等于2的正整数；拟合所述图像块中的光斑，得到对应图像块的全宽半高。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述将各图像按照相同的方式切分为P个图像块，包括：将各图像进行预处理，预处理后的图像相对于处理前的图像清晰度高；将所述预处理后的图像按照相同的方式切分为P个图像块。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述拟合所述图像块中的光斑，得到对应图像块的全宽半高，包括：对所述图像块中的光斑依次进行高斯拟合，根据各光斑的高斯拟合结果确定对应图像块的全宽半高。6.根据权利要求3至5中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述图像块的全宽半高和清晰度，确定所述光学系统中拍摄装置的装配质量，包括：根据各图像中的第X个图像块中清晰度最高的图像块对应的第一图像的第一拍摄位置，确定拍摄位置与所述第一拍摄位置的距离小于等于距离阈值的第二图像，其中1≤X≤P；根据第...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔继祥，袁静贤，杨安，
申请(专利权)人：郑州思昆生物工程有限公司，
类型：发明
国别省市：