【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种X射线分析装置,具备: 装置主体,包括用于对样品进行X射线分析的光学系统; 显示装置,将所述装置主体相关的信息显示在画面上; 选择画面显示部件,将可从多个测量种类中选择出期望的测量种类的选择画面显示在所述显示装置上; 测量种类取得部件,取得在所述选择画面中操作员所选择的测量种类; 对应关系存储部件,针对所述多个测量种类,存储有测量种类和该测量种类所应使用的光学部件之间的对应关系; 传感器,对安装于所述装置主体的光学部件的种类进行识别检测;和 作业指示部件,针对由所述测量种类取得部件所取得的测量种类,基于存储在所述对应关系存储部件 ...
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:佐佐木明登,栗林文,森川惠一,西邦夫,大原孝夫,加藤寿之,辻优司,
申请(专利权)人:株式会社理学,
类型:发明
国别省市:JP[]
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