射线检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种射线检测装置，属于射线无损检测领域，解决了现有技术检测过程中不能对回转体工件进行单壁透照的问题。所述检测装置包括：射线机立柱、射线机、工件转台、探测器悬臂和探测器；所述射线机安装于所述射线机立柱上，并可沿所述射线机立柱上下移动；所述射线机立柱设置于所述工件转台的一侧；所述工件转台用于放置待检测工件；所述探测器悬臂与所述射线机立柱垂直固连，所述探测器安装于所述探测器悬臂上，并可沿所述探测器悬臂进行上下移动，且所述探测器能够深入到所述待检测工件内部进行检测。实现了对回转体工件的单壁透照检测。照检测。照检测。

【技术实现步骤摘要】
射线检测装置


[0001]本技术涉及射线无损检测
，尤其涉及一种射线检测装置。

技术介绍

[0002]无损检测是工业发展中必不可少的工具，在一定程度上反映了一个国家工业发展水平。X射线检测技术作为一种常规的无损检测方法，其应用于工业领域已有近百年的历史。在早期以及现在的一些工业领域(如军工制造领域)，X射线检测通常以胶片照相为主要检测方法，这种检测方法存在检测周期长、检测效率低、检测费用高、暗室处理废液污染环境等问题，已不适应信息化时代的无损检测发展趋势。
[0003]目前，X射线数字成像检测方案通常都是将工件放置到载物台上，载物台位于射线机和探测器之间，从而实现X射线对工件的透照成像。对于回转体工件，按照前述的透照布局，X射线需要穿过回转体工件的双壁才能到达探测器成像，这样得到的图像为两层壁厚信息的混叠，图像对比度灵敏度及空间分辨率变差，并且无法确定图像上的缺陷影像是在前壁还是后壁上。
[0004]因此，亟需一种能对回转体工件进行单壁透照的检测装置。

技术实现思路

[0005]鉴于上述的分析，本技术实施例旨在提供一种射线检测装置，用以解决现有技术检测过程中不能对回转体工件进行单壁透照的问题。
[0006]本技术实施例提供了一种射线检测装置，所述检测装置包括：射线机立柱、射线机、工件转台、探测器悬臂和探测器；
[0007]所述射线机安装于所述射线机立柱上，并可沿所述射线机立柱上下移动；
[0008]所述射线机立柱设置于所述工件转台的一侧；所述工件转台用于放置待检测工件；
[0009]所述探测器悬臂与所述射线机立柱垂直固连，所述探测器安装于所述探测器悬臂上，并可沿所述探测器悬臂进行上下移动，以使所述探测器能够深入到所述待检测工件内部进行检测。
[0010]基于上述检测装置的进一步改进，所述检测装置还包括射线机升降运动机构，所述射线机升降运动机构设置于所述射线机立柱上；所述射线机安装于所述射线机升降运动机构上，所述射线机在所述射线机升降运动机构的带动下实现上下移动。
[0011]基于上述检测装置的进一步改进，所述射线机升降运动机构包括第一滑轨和第一滑块；所述第一滑轨设置于所述射线机立柱上，所述第一滑块可沿所述第一滑轨上下滑动；所述射线机安装在所述第一滑块上，在所述第一滑块的带动下实现上下移动。
[0012]基于上述检测装置的进一步改进，所述检测装置还包括探测器升降运动机构，所述探测器升降运动机构设置于所述探测器悬臂上；所述探测器安装于所述探测器升降运动机构上，所述探测器在所述探测器升降运动机构的带动下实现上下移动。
[0013]基于上述检测装置的进一步改进，所述探测器升降运动机构包括伸缩杆，所述伸缩杆设置于所述探测器悬臂上；所述探测器设置在所述伸缩杆底部，通过伸缩杆的伸缩带动探测器上下移动。
[0014]基于上述检测装置的进一步改进，所述检测装置还包括探测器水平运动机构，所述探测器水平运动机构设置于所述探测器悬臂上；所述探测器升降运动机构设置于所述探测器水平运动机构上，在所述探测器水平运动机构的带动下，实现左右移动。
[0015]基于上述检测装置的进一步改进，所述探测器水平运动机构包括第二滑轨和第二滑块，所述第二滑轨设置于所述探测器悬臂上，所述第二滑块可沿所述第二滑轨左右滑动；所述探测器升降运动机构设置于所述第二滑块上，在所述第二滑块的带动下，实现左右移动。
[0016]基于上述检测装置的进一步改进，所述检测装置还包括设备底座，所述射线机立柱和所述工件转台均设置在所述设备底座上。
[0017]基于上述检测装置的进一步改进，所述检测装置还包括第三滑轨、第三滑块、第四滑轨和第四滑块；所述第三滑轨沿所述射线机中心射束的方向设置在所述设备底座上，所述第三滑块可沿所述第三滑轨左右滑动；所述第四滑轨设置于所述第三滑块上，所述第四滑轨的方向与所述第三滑轨的方向垂直，所述第四滑轨在所述第三滑块的带动下，实现左右移动；所述第四滑块可沿所述第四滑轨前后滑动，所述工件转台设置于所述第四滑块上，实现前后左右移动。
[0018]基于上述检测装置的进一步改进，所述工件转台包括转动机构和载物台，所述载物台置于所述转动机构上，所述待检测工件置于所述载物台上；所述载物台为圆形平台或者矩形平台，所述矩形平台带有T形槽，可用于安装所述待检测工件的夹具。
[0019]与现有技术相比，本技术通过探测器深入到待检测工件内部进行检测，实现了对回转体工件的单壁透照成像。
[0020]本技术中，上述各技术方案之间还可以相互组合，以实现更多的优选组合方案。本技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分优点可从说明书中变得显而易见，或者通过实施本技术而了解。本技术的目的和其他优点可通过说明书以及附图中所特别指出的内容中来实现和获得。
附图说明
[0021]附图仅用于示出具体实施例的目的，而并不认为是对本技术的限制，在整个附图中，相同的参考符号表示相同的部件。
[0022]图1为本技术实施例提供的射线检测装置的结构示意图。
[0023]附图标记：
[0024]1‑
射线机立柱；2
‑
射线机；3
‑
工件转台；
[0025]31
‑
转动机构；32
‑
载物台；4
‑
探测器悬臂；
[0026]5‑
探测器；6
‑
待检测工件；7
‑
射线机升降运动机构；
[0027]71
‑
第一滑轨；72
‑
第一滑台；8
‑
探测器升降运动机构；
[0028]81
‑
伸缩杆；82
‑
伸缩杆底部；9
‑
探测器水平运动机构；
[0029]91
‑
第二滑轨；92
‑
第二滑块；10
‑
设备底座；
[0030]11
‑
第三滑轨；12
‑
第三滑块；13
‑
第四滑轨；
[0031]14
‑
第四滑块。
具体实施方式
[0032]下面结合附图来具体描述本技术的优选实施例，其中，附图构成本申请一部分，并与本技术的实施例一起用于阐释本技术的原理，并非用于限定本技术的范围。
[0033]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”、“前”、“后”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0034]此外，术语“第本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射线检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：射线机立柱、射线机、工件转台、探测器悬臂和探测器；所述射线机安装于所述射线机立柱上，并可沿所述射线机立柱上下移动；所述射线机立柱设置于所述工件转台的一侧；所述工件转台用于放置待检测工件；所述探测器悬臂与所述射线机立柱垂直固连，所述探测器安装于所述探测器悬臂上，并可沿所述探测器悬臂进行上下移动，以使所述探测器能够深入到所述待检测工件内部进行检测。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括射线机升降运动机构，所述射线机升降运动机构设置于所述射线机立柱上；所述射线机安装于所述射线机升降运动机构上，所述射线机在所述射线机升降运动机构的带动下实现上下移动。3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述射线机升降运动机构包括第一滑轨和第一滑块；所述第一滑轨设置于所述射线机立柱上，所述第一滑块可沿所述第一滑轨上下滑动；所述射线机安装在所述第一滑块上，在所述第一滑块的带动下实现上下移动。4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括探测器升降运动机构，所述探测器升降运动机构设置于所述探测器悬臂上；所述探测器安装于所述探测器升降运动机构上，所述探测器在所述探测器升降运动机构的带动下实现上下移动。5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述探测器升降运动机构包括伸缩杆，所述伸缩杆设置于所述探测器悬臂上；所述探测器设置在所述伸缩杆底部，通过伸缩杆的伸缩带动探测器上下移动。6...

【专利技术属性】
技术研发人员：王海鹏，孟德龙，李保磊，徐圆飞，刘念，谷柱，
申请(专利权)人：北京航星机器制造有限公司，
类型：新型
国别省市：