电芯检测方法、装置、设备及计算机存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种电芯检测方法、装置、设备及计算机存储介质。其中，电芯检测方法，包括：在基于X射线对电芯拍摄得到电芯图像的情况下，获取电芯图像中目标图像区域的N个像素点的N个第一像素值，N为大于1的整数；对N个第一像素值分别进行对数变换，得到N个第二像素值；对N个第二像素值进行比值处理，得到N个第三像素值；基于N个第三像素值，获取电芯检测结果。本申请实施例有助于根据N个第三像素值可靠得到电芯的厚度分布，提升电芯检测效果。提升电芯检测效果。提升电芯检测效果。

【技术实现步骤摘要】
电芯检测方法、装置、设备及计算机存储介质


[0001]本申请属于无损检测
，尤其涉及一种电芯检测方法、装置、设备及计算机存储介质。

技术介绍

[0002]众所周知，通过X射线(X
‑
ray)设备对成型的电芯进行照射，可以得到X
‑
ray图像，而基于对X
‑
ray图像的处理，可以检测电芯中存在的缺陷。
[0003]然而，X
‑
ray图像的成像受到较多干扰因素的影响，导致基于X
‑
ray图像的电芯检测效果较差。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供一种电芯检测方法、装置、设备及计算机存储介质，以解决相关技术中X
‑
ray图像的成像受到较多干扰因素的影响，导致基于X
‑
ray图像的电芯检测效果较差的问题。
[0005]第一方面，本申请实施例提供一种电芯检测方法，方法包括：
[0006]在基于X射线对电芯拍摄得到电芯图像的情况下，获取电芯图像中目标图像区域的N个像素点的N个第一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电芯检测方法，其特征在于，包括：在基于X射线对电芯拍摄得到电芯图像的情况下，获取所述电芯图像中目标图像区域的N个像素点的N个第一像素值，N为大于1的整数；对所述N个第一像素值分别进行对数变换，得到N个第二像素值；对所述N个第二像素值进行比值处理，得到N个第三像素值；基于所述N个第三像素值，获取电芯检测结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述N个第二像素值进行比值处理，得到N个第三像素值，包括：对所述N个第二像素值进行线性归一化处理，得到N个第三像素值。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述N个第二像素值进行线性归一化处理，得到N个第三像素值，包括：获取所述N个第二像素值中的最大像素值与最小像素值；根据所述最大像素值与所述最小像素值，分别对每一所述第二像素值进行线性归一化处理，得到每一所述第二像素值对应的第三像素值。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述最大像素值与所述最小像素值，分别对每一所述第二像素值进行线性归一化处理，得到每一所述第二像素值对应的第三像素值，包括：以每一所述第二像素值与所述最小像素值的差值为分子，以目标差值与预设数值之间的和值为分母，计算每一所述第二像素值对应的第三像素值，其中，所述预设数值大于0，所述目标差值为所述最大像素值与所述最小像素值之间的差值。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述N个第三像素值，获取电芯检测结果，包括：对...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄云龙，吴超，汪振辉，
申请(专利权)人：宁德时代新能源科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：