【技术实现步骤摘要】
非接触输入装置
[0001]本专利技术涉及非接触输入装置。
技术介绍
[0002]以往，存在一种触摸板输入装置，具备控制部，该控制部具有对探测由接近操作面的物体引起的电变量的变化而计算出的所述物体的接触区域是基于指尖的区域还是基于掌(手掌)的区域进行判定的防掌触(Palm Rejection)功能。利用指尖和手掌中的哪一个进行了操作的判定是基于接触区域的面积来进行的(例如，参照专利文献1)。
[0003]在先技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：日本特开2015
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141425号公报
技术实现思路
[0006]‑
专利技术所要解决的课题
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[0007]以往的触摸板输入装置以手与操作面接触为前提。然而，存在想要手不接触操作面而非接触地进行操作输入的情况。
[0008]因此，本专利技术的目的在于提供一种能够判定有无非接触操作和操作的位置的非接触输入装置。
[0009]本专利技术的实施方式的非接触输入装置包括：多个传感器电极，检测与对操作部的操作面以非接触进行操作输入的手向所述操作面的接近状态相应的静电电容；以及判定部，基于由所述多个传感器电极检测的静电电容，在俯视时不同的多个位置计算所述手的尖锐度，基于多个所述尖锐度来判定所述操作输入的位置。
[0010]‑
专利技术效果
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[0011]能够提供能够判定有无非接触操作和操作的位置的非接触输入装置。
附图说明>[0012]图1是表示包括实施方式的非接触输入装置的电子设备100的结构的一个例子的图。
[0013]图2是表示包括实施方式的非接触输入装置的电子设备100的结构的一个例子的图。
[0014]图3是表示包括实施方式的非接触输入装置的电子设备100的结构的一个例子的图。
[0015]图4是表示实施方式的非接触输入装置100A的结构的一个例子的图。
[0016]图5是表示针对手H与静电传感器120的电极面的关系的差分值ΔAD以及倒数的分布的一个例子的图。
[0017]图6是表示手H的长度方向以及宽度方向上的倒数的分布的一个例子的图。
[0018]图7是说明对指尖FT和手掌P拟合的二次曲线的例示性的二次系数的图。
[0019]图8是表示求出指尖FT的位置的处理的流程图的图。
[0020]图9是表示求出指尖FT的位置的处理的流程图的图。
[0021]图10是表示求出指尖FT的位置的处理的流程图的图。
[0022]图11是表示求出指尖FT的位置的处理的流程图的图。
[0023]图12是表示求出指尖FT的位置的处理的流程图的图。
[0024]图13是表示求出指尖FT的位置的处理的流程图的图。
[0025]图14是表示差分值ΔAD的分布、倒数的分布、以及给出Column(i)所表示的倒数的最小值Minimum(i)的列j的图。
[0026]图15是表示计算尖锐度的对象、最小值Minimum(i)、尖锐度计算的结果、最大的尖锐度以及坐标的图。
[0027]图16是表示基于第1变形例的子例程“sub尖锐度计算”进行的计算尖锐度的处理的流程图的图。
[0028]图17是表示xz坐标与指尖FT的关系的图。
[0029]图18是表示基于第二变形例的子例程“sub尖锐度计算”进行的计算尖锐度的处理的流程图的图。
[0030]图19是表示基于第三变形例的子例程“sub尖锐度计算”进行的计算尖锐度的处理的流程图的图。
[0031]图20是表示基于第四变形例的子例程“sub指尖确定”进行的计算尖锐度的处理的流程图的图。
[0032]图21是表示第五变形例的求出指尖FT的位置的处理的流程图的图。
[0033]图22是表示第五变形例的求出指尖FT的位置的处理的流程图的图。
[0034]图23是表示第五变形例的求出指尖FT的位置的处理的流程图的图。
[0035]图24是表示由5行6列的传感器电极121得到的差分值ΔAD的顺位、BigX(i)的方差的绝对值、BigX(i)和BigY(i)的协方差的绝对值的图。
[0036]图25是表示图20所示的第四变形例的确定指尖的处理中的判定结果的图。
[0037]图26是表示第六变形例的求出指尖FT的位置的处理的流程图的图。
[0038]图27是表示第六变形例的求出指尖FT的位置的处理的流程图的图。
[0039]图28是表示第六变形例的求出指尖FT的位置的处理的流程图的图。
[0040]图29是表示第六变形例的求出指尖FT的位置的处理的流程图的图。
[0041]图30是表示基于第七变形例的子例程“sub尖锐度计算”进行的计算尖锐度的处理的流程图的图。
[0042]图31是表示基于第八变形例的子例程“sub尖锐度计算”进行的计算尖锐度的处理的流程图的图。
[0043]图32是表示基于第九变形例的子例程“sub尖锐度计算”进行的计算尖锐度的处理的流程图的图。
[0044]图33是表示非接触输入装置100A的静电传感器120的具体结构的图。
[0045]‑
附图标记说明
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[0046]100 电子设备
[0047]100A 非接触输入装置
[0048]105 操作面
[0049]110 显示装置
[0050]120 静电传感器
[0051]121、121X、121Y 传感器电极
[0052]122、122X、122Y 布线
[0053]130 控制装置
[0054]131 主控制部
[0055]132 AD变换部
[0056]133 计数器
[0057]134 判定部
[0058]135 动作控制部
[0059]136 显示控制部
[0060]137 存储器
具体实施方式
[0061]以下，对应用了本专利技术的非接触输入装置的实施方式进行说明。
[0062]<实施方式>
[0063]图1、图2以及图3是表示包括实施方式的非接触输入装置的电子设备100的结构的一例的图。图4是表示实施方式的非接触输入装置100A的结构的一例的图。在图2以及图3中示出电子设备100的利用者的手H。更具体而言，示出了手H的指尖FT和手掌(palm)P。指尖FT作为一个例子是食指，但也可以是食指以外的手指。
[0064]以下，定义XYZ坐标系来进行说明。与X轴平行的方向(X方向)、与Y轴平行的方向(Y方向)、与Z轴平行的方向(Z方向)相互正交。此外，以下，将
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Z方向作为接近静电传感器120的方向，将+Z方向作为远离静电传感器120的方向进行说明。此外，俯视指的是进行XY面观察。此外，以下有时为了容易理解结构而本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种非接触输入装置，其特征在于，包括：多个传感器电极，检测与对操作部的操作面以非接触的方式进行操作输入的手向所述操作面的接近状态相应的静电电容；以及判定部，基于由所述多个传感器电极检测的静电电容，来在俯视时不同的多个位置计算所述手的尖锐度，基于多个所述尖锐度来判定所述操作输入的位置。2.根据权利要求1所述的非接触输入装置，其中，所述多个传感器电极配置成格子状，所述判定部基于沿着所述多个传感器电极的配置方向的直线上的包括静电电容的倒数成为最小值的所述传感器电极在内的2n+1个所述传感器电极的静电电容的倒数，进行曲线拟合来计算所述尖锐度，所述判定部在与所述直线平行的其他多条直线上，也计算各所述尖锐度。3.根据权利要求2所述的非接触输入装置，其中，所述判定部对相邻的直线上的各静电电容的倒数的最小值进行比较，将与比相邻的所述直线上的静电电容的倒数的给定倍大的静电电容的倒数对应的位置视为空间。4.根据权利要求3所述的非接触输入装置，其中，所述判定部将所述各静电电容的倒数的最小值与接近判定阈值进行比较，将与比所述接近判定阈值大的静电电容的倒数对应的位置视为所述空间。5.根据权利要求2～4中的任一项所述的非接触输入装置，其中，在沿着所述多个传感器电极的配置方向的直线上的静电电容的倒数成为最小值的所述传感器电极从所述多个传感器电极的端部离开了n个以上的情况下，所述判定部基于沿着所述多个传感器电极的配置方向的直线上的静电电容的倒数成为最小值的所述传感器电极和该传感器电极的两侧各n个的所述传感器电极这2n+1个所述传感器电极的静电电容的倒数，来进行曲线拟合来计算所述尖锐度，在沿着所述多个传感器电极的配置方向的直线上的静电电容的倒数成为最小值的所述传感器电极未从所述多个传感器电极的端部离开了n个以上的情况下，所述判定部基于沿着所述多个传感器电极的配置方向的直线上的从所述端部起2n+1个所述传感器电极的静电电容的倒数，来进行曲线拟合来计算所述尖锐度。6.根据权利要求1所述的非接触输入装置，其中，所述多个传感器电极配置成格子状，所述判定部基于沿着所述多个传感器电极的配置方向的直线上的包括静电电容成为最大值的所述传感器电极在内的2n+1个所述传感器电极的静电电容，进行曲线拟合来计算所述尖锐度，所述判定部在与所述直线平行的其他多条直线上，也计算各所述尖锐度。7.根据权利要求6所述的非接触输入装置，其中，所述判定部对相邻的直线上的各静电电容的最大值进行比较，将与比相邻的所述直线上的静电电容的给定倍小的静电电容对应的位置视为空间。8.根据权利要求7所述的非接触输入装置，其中，所述判定部对所述各静电电容的最大值与接近判定阈值进行比较，
将与比所述接近判定阈值小的静电电容对应的位置视为空间。9.根据权利要求6～8中的任一项所述的非接触输入装置，其中，在沿着所述多个传感器电极的配置方向的直线上的静电电容成为最大值的所述传感器电极从所述多个传感器电极的端部离开了n个以上的情...
【专利技术属性】
技术研发人员：内田庆太郎，太田真喜，高田正博，
申请(专利权)人：阿尔卑斯阿尔派株式会社，
类型：发明
国别省市：
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