【技术实现步骤摘要】
检测缺陷电子组件的装置和方法
[0001]本申请要求于2021年8月19日向韩国知识产权局提交的第10
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2021
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0109579号韩国专利申请的优先权的权益，该韩国专利申请的公开内容通过引用被全部包含于此。
[0002]本公开涉及一种用于检测多个电子组件中的一个或更多个缺陷电子组件的装置和方法。
技术介绍
[0003]具有优异电性能的多层陶瓷电容器(MLCC)的主要材料具有高脆性，使得在制造MLCC的工艺中不可避免地出现各种类型的缺陷，例如裂纹和分层。
[0004]具有这样的缺陷的MLCC的电性能非常差，因此被归类为缺陷产品，并且当将这种缺陷产品应用于电子装置时，这种缺陷产品可能导致电子装置的不稳定操作和故障。
[0005]因此，为了解决这样的问题，本质上需要一种具有高速度和高可靠性的用于检测MLCC的缺陷的装置和方法。
[0006]在相关技术中，为了克服电性能检查的限制，已经引入了MLCC超声检查装置。
[0007]然而，需要使用相对昂贵的高频...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种检测缺陷电子组件的装置，包括：能量源，产生能量并以非接触方式将所产生的能量传递到多个电子组件，以在所述多个电子组件中产生机械共振；机械共振检测器，检测所述多个电子组件的由于机械共振引起的振动；以及后处理处理器，将检测到的所述多个电子组件的由于所述机械共振引起的所述振动与正常产品的由于机械共振引起的参考振动进行比较，以确定所述多个电子组件是否包括一个或更多个缺陷电子组件，并且确定待提取的缺陷电子组件的信息。2.如权利要求1所述的装置，其中，所述能量源包括由于光热效应而产生热能并将所述热能传递到所述多个电子组件的热源。3.如权利要求1所述的装置，其中，所述能量源包括振动能量源，所述振动能量源产生振动能量并通过振动能量传递构件将所述振动能量间接地传递到所述多个电子组件。4.如权利要求1所述的装置，其中，所述机械共振检测器检测与在所述多个电子组件中产生的机械共振的振动频率相对应的振动幅度的位移、速度或加速度。5.如权利要求1所述的装置，其中，由所述后处理处理器确定的所述待提取的缺陷电子组件的所述信息包括缺陷产品的数量、缺陷产品的位置和/或缺陷的类型。6.如权利要求1所述的装置，所述装置还包括提取装置，所述提取装置提取由所述后处理处理器确定的所述一个或更多个缺陷电子组件。7.如权利要求1所述的装置，所述装置还包括显示所述待提取的缺陷电子组件的所述信息的显示器。8.一种检测缺陷电子组件的方法，所述方法包括：能量传递操作，将由能量源产...
【专利技术属性】
技术研发人员：朴兴吉，金星勳，严元石，任成训，
申请(专利权)人：延世大学校产学协力团，
类型：发明
国别省市：
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