【技术实现步骤摘要】
存储器及其操作方法
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求于2021年9月30日提交的申请号为10
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2021
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0130108的韩国专利申请的优先权,其全部内容通过引用合并于此。
[0003]本专利技术的各个实施例涉及存储器。
技术介绍
[0004]通常,像动态随机存取存储器(DRAM)的存储器在设计和制造之后经过测试过程来确定存储器是否有缺陷。
[0005]如果在存储器中的众多存储单元之中即使有一个存储单元被发现有缺陷,则该存储器不能正常地执行其功能并且作为有缺陷的产品被废弃。然而,即使存在少量有缺陷的存储单元也将存储器作为有缺陷的产品丢弃,这在成品率方面也是低效的。为了克服这个问题,目前正在使用一种提供其中具有冗余存储单元的存储器并通过测试过程用冗余存储单元替换有缺陷的存储单元的方法。
[0006]封装后修复是指在封装过程之后修复存储器。封装后修复不仅可以在存储器的制造过程中进行,还可以在用户使用存储器的过程中进行。对于高效的封装后修复 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种存储器,包括:第一寄存器电路至第N寄存器电路,所述第一寄存器电路至所述第N寄存器电路中的每一个适于:当第一选择信号至第N选择信号中的对应选择信号被激活时,接收和储存从存储器控制器传送的故障地址,其中N是等于或大于2的整数;第一资源锁存电路至第N资源锁存电路,适于分别储存指示所述第一寄存器电路至所述第N寄存器电路的可用性的第一资源信号至第N资源信号;以及优先级选择电路,其适于:当所述第一资源信号至所述第N资源信号中的两个或更多个被激活时,激活所述第一选择信号至所述第N选择信号之中的分别对应于被激活的资源信号的选择信号之一。2.根据权利要求1所述的存储器,还包括:控制电路,所述控制电路适于激活与所述第一寄存器电路至所述第N寄存器电路之中的、储存与连同撤消命令一起从所述存储器控制器传送的地址相同的故障地址的寄存器电路相对应的资源信号。3.根据权利要求2所述的存储器,其中,储存相同的故障地址的所述寄存器电路还适于:对储存在所述寄存器电路中的故障地址进行初始化。4.根据权利要求2所述的存储器,其中,所述控制电路还适于:将所述第一寄存器电路至所述第N寄存器电路之中的、储存与连同锁定命令一起从所述存储器控制器传送的地址相同的故障地址的寄存器电路设置为锁定状态,在所述锁定状态中,不能够进行撤消操作。5.根据权利要求4所述的存储器,还包括:访问掩蔽电路,所述访问掩蔽电路适于:以使得不能够针对连同所述锁定命令一起传送的地址进行附加软修复操作的方式,来控制储存与连同所述锁定命令一起传送的地址相同的故障地址的寄存器电路。6.根据权利要求1所述的存储器,还包括:地址比较电路,其适于:通过将储存在所述第一寄存器电路至所述第N寄存器电路中的故障地址与从所述存储器控制器传送的地址进行比较,来产生第一匹配信号至第N匹配信号;以及行电路,其适于:当所述第一匹配信号至所述第N匹配信号全部被去激活时,通过对从所述存储器控制器传送的地址进行解码来激活多个正常行中的一个,以及当所述第一匹配信号至所述第N匹配信号中的一个被激活时,激活第一冗余行至第N冗余行之中的与被激活的匹配信号相对应的冗余行。7.根据权利要求6所述的存储器,其中,所述优先级选择电路激活与所述被激活的资源信号之中的以降序选择的资源信号相对应的选择信号,以及其中,当所述第一匹配信号至所述第...
【专利技术属性】
技术研发人员:金胜灿,李健镐,
申请(专利权)人:爱思开海力士有限公司,
类型:发明
国别省市:
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