镜片抛光检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了镜片抛光检测方法及装置，实施例首先获取镜片参数和抛光参数，针对镜片参数对工位上的镜片进行检测是否一致，避免抛光错镜片；之后对当前目标工位对应的抛光设备的抛光参数进行匹配和校正，避免抛光参数出错，造成抛光误差；之后通过采集目标镜片抛光后的图像获取灰度偏差均值来与抛光精度进行匹配是否抛光合格，实施例采用视觉图像自动化对镜片表面的抛光程度进行检测，检测效率高，且准确性高。且准确性高。且准确性高。

【技术实现步骤摘要】
镜片抛光检测方法及装置


[0001]本专利技术涉及光学镜片
，具体涉及一种镜片抛光检测方法及装置。

技术介绍

[0002]光学镜片是一种利用光学玻璃制造的镜片，由于光学镜片的独特的光学特性，光学镜片被广泛的运用于电子信息、汽车制造、精密加工等
在实际生产中，为了进一步的提升镜片的光学特性和结构强度，一般会对光学镜片进行一系列的冷加工处理，例如铣磨、精磨、抛光、清洗、磨边、镀膜等，光学镜片经过研磨液细磨后，其表面尚有厚约2
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3m的裂痕层，要消除此裂痕层的方法即为抛光。目前一般工厂对于光学镜片的加工多采用上摆抛光机，上摆抛光机的工作状态为，在光学镜片上涂覆研磨剂之后，通过电机带动放有光学镜片的作业盘高速转动，并控制抛光盘贴近并最终紧贴光学镜片，同时控制抛光盘往复摆动，在抛光盘与作业盘的共同作用下，实现对光学镜片的抛光打磨。目前对抛光后的镜片进行抛光程度检测主要是人工检测，人工检测具有一定的主观性，效率低，准确性差。

技术实现思路

[0003]针对所述缺陷，本专利技术实施例公开了一种镜片抛光检测方法及装置，其可以对镜片表面的抛光程度进行精确检测。
[0004]本专利技术实施例第一方面公开了一种镜片抛光检测方法，包括：
[0005]响应于镜片抛光指令，获取镜片抛光指令中目标镜片的镜片参数和抛光参数，所述镜片参数包括镜片编码和镜片尺寸，所述镜片参数包括抛光精度和抛光时长；
[0006]获取目标工位上的镜片的镜片参数，比对该镜片的镜片参数与目标镜片的镜片参数是否一致，且当一致时，将目标工位上的镜片定义为目标镜片；
[0007]采集目标工位上的目标镜片抛光前的原始图像，并基于所述抛光参数对抛光设备进行参数校正之后对目标镜片进行抛光；
[0008]采集目标镜片抛光后的当前图像，获取当前图像的第一灰度偏差均值；
[0009]满足抛光时长时检测所述第一灰度偏差均值是否与抛光精度匹配，且匹配时定义抛光结束，不匹配时定义抛光不合格。
[0010]作为一种可选的实施方式，在本专利技术实施例第一方面中，在获取目标工位上的镜片的镜片参数之前，还包括：
[0011]采集抛光设备的空闲状态，预设选位规则选取该目标镜片的目标工位。
[0012]作为一种可选的实施方式，在本专利技术实施例第一方面中，所述抛光参数还包括抛光开始时间，所述采集抛光设备的空闲状态，选取该目标镜片的目标工位，包括：
[0013]根据每一条镜片抛光指令对应的抛光时长以及抛光开始时间，计算该镜片抛光指令对应的抛光工位的工作结束时间；
[0014]采集当前时间戳，根据当前时间戳与每一个抛光工位的所述工作结束时间比对获取全部抛光工位的第一工作状态；
[0015]每隔预设时长采集一次每一个抛光工位的第二工作状态，擦写该抛光工位上一次的第二工作状态并记录本次的第二工作状态；
[0016]比对第一工作状态和第二工作状态是否一致，当一致时，以第一工作状态、第二工作状态为当前的工作状态，当不一致时，采集该抛光工位当前的工作状态。
[0017]作为一种可选的实施方式，在本专利技术实施例第一方面中，所述预设选位规则包括：
[0018]分别获取每一个当前空闲的抛光工位的工位编码；
[0019]挑选最小的工位编码对应的抛光工位为目标工位。
[0020]作为一种可选的实施方式，在本专利技术实施例第一方面中，还包括：
[0021]获取原始图像的第二灰度偏差均值，在满足抛光时长之前，比对第二灰度均值与第一灰度偏差均值；
[0022]当第二灰度偏差均值与第一灰度偏差均值之间的差值大于阈值，检测第一灰度偏差均值是否与抛光精度匹配。
[0023]作为一种可选的实施方式，在本专利技术实施例第一方面中，获取当前图像的第一灰度偏差均值，包括：
[0024]将当前图像划分为若干个区域，获取每一个区域分别对应的灰度均值；
[0025]任意选取一个区域的灰度均值为基准均值，计算其他区域的灰度均值与基站均值之间的差值；
[0026]计算全部差值之间的平均值。
[0027]作为一种可选的实施方式，在本专利技术实施例第一方面中，获取每一个区域分别对应的灰度均值之前，还包括：
[0028]将每一个区域划分为若干个采集点，检测每一个采集点的灰度值是否高于第一阈值或者低于第二阈值；
[0029]当任意一个区域存在采集点高于第一阈值或者低于第二阈值时，标记该区域，以对该区域进行二次抛光。
[0030]本专利技术实施例第二方面公开一种镜片抛光检测装置，包括：
[0031]指令响应模块：用于响应于镜片抛光指令，获取镜片抛光指令中目标镜片的镜片参数和抛光参数，所述镜片参数包括镜片编码和镜片尺寸，所述镜片参数包括抛光精度和抛光时长；
[0032]参数比对模块：用于获取目标工位上的镜片的镜片参数，比对该镜片的镜片参数与目标镜片的镜片参数是否一致，且当一致时，将目标工位上的镜片定义为目标镜片；
[0033]镜片抛光模块：用于采集目标工位上的目标镜片抛光前的原始图像，并基于所述抛光参数对抛光设备进行参数校正之后对目标镜片进行抛光；
[0034]灰度计算模块：用于采集目标镜片抛光后的当前图像，获取当前图像的第一灰度均值；
[0035]精度检测模块：用于满足抛光时长时检测所述第一灰度均值是否与抛光精度匹配，且匹配时定义抛光结束，不匹配时定义抛光不合格。
[0036]作为一种可选的实施方式，在本专利技术实施例第二方面中，在获取目标工位上的镜片的镜片参数之前，还包括：
[0037]采集抛光设备的空闲状态，预设选位规则选取该目标镜片的目标工位。
[0038]作为一种可选的实施方式，在本专利技术实施例第二方面中，所述抛光参数还包括抛光开始时间，所述采集抛光设备的空闲状态，选取该目标镜片的目标工位，包括：
[0039]根据每一条镜片抛光指令对应的抛光时长以及抛光开始时间，计算该镜片抛光指令对应的抛光工位的工作结束时间；
[0040]采集当前时间戳，根据当前时间戳与每一个抛光工位的所述工作结束时间比对获取全部抛光工位的第一工作状态；
[0041]每隔预设时长采集一次每一个抛光工位的第二工作状态，擦写该抛光工位上一次的第二工作状态并记录本次的第二工作状态；
[0042]比对第一工作状态和第二工作状态是否一致，当一致时，以第一工作状态、第二工作状态为当前的工作状态，当不一致时，采集该抛光工位当前的工作状态。
[0043]作为一种可选的实施方式，在本专利技术实施例第二方面中，所述预设选位规则包括：
[0044]分别获取每一个当前空闲的抛光工位的工位编码；
[0045]挑选最小的工位编码对应的抛光工位为目标工位。
[0046]作为一种可选的实施方式，在本专利技术实施例第二方面中，还包括：
[0047]获取原始图像的第二灰度偏差均值，在满足抛光时长之前，比对第二灰度均值与第本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种镜片抛光检测方法，其特征在于，包括：响应于镜片抛光指令，获取镜片抛光指令中目标镜片的镜片参数和抛光参数，所述镜片参数包括镜片编码和镜片尺寸，所述镜片参数包括抛光精度和抛光时长；获取目标工位上的镜片的镜片参数，比对该镜片的镜片参数与目标镜片的镜片参数是否一致，且当一致时，将目标工位上的镜片定义为目标镜片；采集目标工位上的目标镜片抛光前的原始图像，并基于所述抛光参数对抛光设备进行参数校正之后对目标镜片进行抛光；采集目标镜片抛光后的当前图像，获取当前图像的第一灰度偏差均值；满足抛光时长时检测所述第一灰度偏差均值是否与抛光精度匹配，且匹配时定义抛光结束，不匹配时定义抛光不合格。2.根据权利要求1所述的镜片抛光检测方法，其特征在于，在获取目标工位上的镜片的镜片参数之前，还包括：采集抛光设备的空闲状态，预设选位规则选取该目标镜片的目标工位。3.根据权利要求2所述的镜片抛光检测方法，其特征在于，所述抛光参数还包括抛光开始时间，所述采集抛光设备的空闲状态，选取该目标镜片的目标工位，包括：根据每一条镜片抛光指令对应的抛光时长以及抛光开始时间，计算该镜片抛光指令对应的抛光工位的工作结束时间；采集当前时间戳，根据当前时间戳与每一个抛光工位的所述工作结束时间比对获取全部抛光工位的第一工作状态；每隔预设时长采集一次每一个抛光工位的第二工作状态，擦写该抛光工位上一次的第二工作状态并记录本次的第二工作状态；比对第一工作状态和第二工作状态是否一致，当一致时，以第一工作状态、第二工作状态为当前的工作状态，当不一致时，采集该抛光工位当前的工作状态。4.根据权利要求3所述的镜片抛光检测方法，其特征在于，所述预设选位规则包括：分别获取每一个当前空闲的抛光工位的工位编码；挑选最小的工位编码对应的抛光工位为目标工位。5.根据权利要求1所述的镜片抛光检测方法，其特征在于，还包括：获取原始图像的第二灰度偏差均值，在满足抛光时长之前，比对第二灰度均值与第一灰度偏差均值；当第二灰度偏差均...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚洪辉，张嘉荣，朱相优，卓少木，马帅杰，邝嘉琪，
申请(专利权)人：中山超精科技有限公司，
类型：发明
国别省市：